周期多层膜Kirkpatrick-Baez显微镜成像性质分析

分析了Kirkpatrick-Baez（KB）显微镜的成像性质与周期多层膜元件间的关系。基于分辨力和集光效率要求,设计了KB显微镜的光学结构,模拟了KB系统的成像质量,用W/B4C周期多层膜反射镜进行了X射线成像实验,在±100 μm视场内得到优于5 μm的空间分辨力结果。实验与模拟结果的对比表明,加工精度和球差是影响中心视场分辨力的关键因素,有效视场的大小受多层膜角度带宽的限制。     

高分辨PAL成像系统的设计研究

基于全景环形透镜的成像技术是全景成像中的一种最具潜力的成像方式,具有高分辨率的长焦距全景环形透镜成像系统光学结构较复杂,结构设计是首要解决的问题.本文根据全景环形透镜成像系统的光路结构及成像特性,详细讨论了全景环形透镜和转像透镜组两部分的设计方法,分别设计了单块全景环形透镜和复杂化全景环形透镜,并对它们的像差特性做了对比,分析了它们之间的光路衔接条件和像差补偿方案.该设计采用小尺寸CCD离轴扫描接收环形像,同时分析了这种扫描机构的可行性.系统要求在300m处需分辨250mm大小的物体,通过计算合理地选择了系统焦距和CCD型号并制定了一套技术指标.最终设计出了焦距8mm,F/#3.2,侧向视场40°~100°的高分辨全景环形透镜成像系统,系统由三胶合结构的全景环形透镜和8片6组的转像透镜组构成,所有表面均为球面.该系统全视场的调制传递函数在80lp/mm处均高于0.5,最大视场像面的相对照度高于0.95,全视场f-θ畸变在±3%以内,该设计很好地满足了使用要求.     

ICF系统全光路像差测量与校正方法

介绍一种新的像差探测方法,该方法能够探测整个惯性约束聚变（ICF）光学系统的像差。驱动变形镜调制各种不同的像差加入ICF光学系统,从而导致远场的焦斑变化,此时将CCD放置到远场探测焦斑强度,同时采用哈特曼-夏克波前传感器在近场探测系统像差变化量。根据不同的系统像差变化量以及与其对应的远场强度,利用改进的相位反演算法可以计算出整个光学系统的像差。数值模拟表明,该方法可以测量并校正整个ICF系统的光学像差。     

干涉成像系统传递函数的数值分析

干涉仪系统传递函数能有效地表征系统相位成像的性能。通过假设干涉成像系统是复振幅的线性平移不变系统,模拟计算正弦相位光栅和相位台阶这两类标准相位物体的成像,确定干涉仪系统传递函数。数值分析结果表明：系统传递函数随着波像差的增加而减小;干涉成像系统对小幅度相位（远小于1 rad）成像是近似线性的,而对大幅度相位(大于0.5 rad）成像则是明显非线性的。当正弦相位的幅度为1时,系统传递函数在1/2和1/3截止频率处出现明显的急剧下降。高度为/2的相位台阶成像时,系统传递函数随着空间频率的增加而缓慢地降低。 The performance of phase imaging in interferometric imaging system is well characterized by the system transfer function (STF). The STF of the interferometric imaging system is analyzed numerically by assuming that the system is linear and shift-invariant for the complex field. Two standard phase objects, sinusoidal phase grating and phase step, are employed and simulated to determine the STF. Numerical simulation results show that the STF decreases as the wavefront aberration of interferometric imaging system increases. It also shows that the interferometric imaging system is approximately linear for small phase (far less than 1 rad) but explicitly nonlinear for large phase (larger than 0.5 rad). The STF has a visible drop at one half or one third of the cut-off frequency of the imaging system when the amplitude of sinusoidal phase is 1 rad. For a phase step with a height of /2 rad, the STF has no visible drop but decreases slowly with the increasing of spatial frequency. The results provide a useful guidance to the design of interferometer and the measurement of STF and power spectrum density in experiment.     

红外热成像技术在高分子科学研究中的应用

红外热成像技术是一种非接触、非破坏性的测试材料表面温度的方法,具有既能生成优质图像,又能够精确测温的特点。该技术已被广泛用于全球工业行业的过程状态检测,如电力、建筑、医疗、军事等领域,但在高分子科学的研究领域应用还较少。本文介绍了红外热成像技术的基本原理,综述了红外热成像技术在高分子科学研究中的应用状况,包括研究材料在拉伸、冲击、疲劳过程的热效应特征,研究纤维成形过程的纺丝动力学及高分子聚合过程的反应动力学。     

The Crystal Growth and Characteristics of Etched Figures on c { 0001 } Face of Tabular Beryl Crystal from Pinwu, China

板状绿柱石产于花岗岩云英岩化边部或晶洞壁的白云母-钠长石-绿柱石-水晶的矿物组合中,钠长石呈自形晶,绿柱石的洁净度与透明度相对较差。晶体测量表明,晶体的单形晶面发育依次为c{0001}→s{11 2-1}→p{10 1-1}→m{10 1-0}→v{21 3-1}、n{45 9-4}、a{11 2-0}。微分干涉显微镜（DIC）及扫描电镜（SEM）研究表明：各单形晶面上生长纹（微形貌）反映面网结构的对称性,c{0001}单形晶面上的六边形溶蚀坑（50～170μm）是由平行晶体C轴的各单形晶面生长层从晶体中心向外叠堆组成,层生长机理制约晶体生长全过程,平行双面（c）的生长层较薄（5～8μm）且较稳定,六方双锥（s）生长层较厚且圆滑,六方柱（m）生长层由晶体中心往外其厚度由厚逐渐变薄（12～20μm）,台间隔由窄变宽。晶体溶蚀是从面网密度最大的c{0001}开始,溶蚀面积依平行双面（c）、六方双锥（s）单形晶面由大变小,六方柱（a）、复六方双锥（v、n）单形晶面因面网密度小而未受到溶蚀。据矿物共生组合、流体包裹体均一法测量与拉曼光谱（LRS）分析表明板状绿柱石是在中–高温（303℃）、过饱和度较大、成矿介质的钠长石化发育且热动力环境相对稳定的条件下形成,气液包裹体主要由H2O、CO2及微量CH4、N2组成,CO2及微量CH4、N2可能与碳酸盐围岩有关。     

透射电镜像转角的测定及应用

论述了完全标定透射电镜像转角所需拍摄的二次曝光电子显微像的数量,推导了由已测的像转角间接计算其它像转角的一般公式,以Philips Cm200电镜为实例,说明了测定像转角的基本步骤,并以实例说明怎样利用像转角,把衍射花样的晶体学信息传递给电子显微像。     

SiO2包覆纳米CaCO3的透射电镜表征

在透射电子显微镜（TEM）电子衍射模式下，用适当孔径的物镜光阑选择非晶态SiO2的衍射区域，拍摄以溶胶一凝胶法制备的SiO2包覆纳米CaCO3的暗场像。与未经包覆SiO2的纳米CaCO3的暗场像作对比，可以看出经过SiO2包覆的纳米CaCO3粒子周围有一白色亮环，从而得到SiO3包覆层的暗场照片。用高分辨方法观察了包覆层与CaCO3粒子间的界面情况。     

双压电片变形反射镜样镜的设计与研制

双压电片变形反射镜作为波前校正器具有结构简单、变形量大、成本低及制造周期短的优点,能代替传统分立式变形镜从而降低自适应光学系统的成本.为验证工艺的可行性和了解双压电片变形反射镜的性能,制造了一块20单元的试验样镜.样镜采用了双层压电陶瓷的结构,其中一层作整体离焦电极以校正大幅值的离焦像差.利用Veeco干涉仪测最了样镜单元电极影响函数,分析了其埘前36项Zernike像差的校正能力.结果表明,样镜对离焦像差能获得高达8μm以上的校正量,对其它高阶像差也能适量校正,但校正能力随空间频率升高而降低,显示出其适合校正低阶像差的特性.此外,讨论了不同有效孔径下样镜对Zernike像差的拟合能力.     

Fuzzy格的同余中理想及其W-中理想

本文研究了Fuzzy格的中理想所对应的同余关系问题.利用同余类的方法,得到了中理想与其同态像所对应的同余关系的联系,两个中理想的交与其对应的同余关系交的联系,并证明了Fuzzy格的中理想为W-中理想的一个充分必要条件.