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半导体硅原材料及辅助材料中杂质的ICP—AES测定 总被引:1,自引:0,他引:1
本文采用电感耦合等离子体发射光谱对半导体硅原材料及辅助材料中的杂质分析进行了研究。着重研究了提升量对信背比的影响和残留硅对杂质元素的干扰影响,最后采用ICP-AES对化学法提纯前的原料(石英砂),拉制单晶用的辅助材料(硅粉)和拉制单晶过程中采用的石英坩埚中的杂质含量进行了分析。 相似文献
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815.
蔡体录 《浙江大学学报(理学版)》1991,(3)
近海峡道地区潮流类似潮汐河口,可以建立潮流挟沙力关系.考虑到泥沙运动的“滞后”现象,以及风浪等因素对潮流中粘性细颗粒物质的浓度影响较大,文中提出了不同的处理方法,使求得的挟沙力关系更为合理. 相似文献
816.
817.
2—硝基—4—甲基苯胂酸粉晶X射线衍射数据的指标化研究 总被引:2,自引:0,他引:2
2-硝基-4-甲基苯胂酸分子中的胂酸基能与稀土元素络合显色,是合成重要显色剂的反应中间体。了解它的结构,对设计合成路线、研究反应机理以及探索稀土元素的分析方法有着十分重要的意义。本文报道2-硝基-4-甲基-苯胂酸多晶样品X射线衍射数据,利用改进的尝试法将所有衍射数据指标化。该方法亦适用于六方、四方、正交、单斜和三斜物质粉末衍射数据的指标化。 相似文献
818.
计算机差谱法测定桔子粉中混合色素含量 总被引:1,自引:0,他引:1
将红外光谱分析中“独立峰”差谱法应用于可见光区混合物谱峰的分离和测定。数据用微机处理。结果表明:此方法对于吸光度具有加合性的混合体系中单一组分含量的测定,准确度良好。对桔子粉中柠檬黄、胭脂红两种色素联合测定,其回收率分别为93.1%~99.3%和99.1%~112.6%。相对标准偏差分别为1.25%和0.00%。 相似文献
819.
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采用X射线粉晶衍射(XRD)、X射线荧光光谱(XRF)、激光拉曼光谱和紫外可见吸收光谱等方法,对产自缅甸翡翠矿区的一种类似于绿辉石质翡翠的墨绿色玉石品种进行了化学成分、矿物成分及谱学特征研究。XRD表明该玉石主要成分为钠长石与钙长石,XRF测试表明该玉石属于富铁的斜长石亚族,端元组分在Ab0.731An0.264Or0.004~Ab0.693An0.303Or0.004之间。利用拉曼光谱对比分析了该玉石与钠长石、钙长石的谱学特征,并对各特征谱峰作出指认。紫外-可见吸收光谱测试表明其墨绿色与所含较高的Fe3+以及Cr3+的d—d电子跃迁有关。 相似文献