薄膜-泡沫复合平面调制靶的制备

利用浇注法制备了具有正弦波调制图纹的溴代聚苯乙烯薄膜,并在此基础上将低密度聚-4-甲基-1-戊烯(PMP)泡沫溶胶浇注在薄膜调制图纹的表面,从而得到了薄膜-泡沫复合平面调制靶样品。较为详细的讨论了具有正弦波调制图纹的复合平面调制靶的制备方法并通过台阶仪、显微镜观测了薄膜表面条纹的起伏以及薄膜-泡沫截面的复合情况,实验结果发现,采用此种方法得到的复合平面调制靶样品,其薄膜厚度、泡沫密度易于控制,薄膜、泡沫调制界面清晰,易于微靶的加工与装配。     

一种易于硬件实现的图像有损压缩算法

原始图像数据经过小波变换后,根据子带系数之间在空间上和方向上所呈现出的带间相似性,将像素集合重新定义为集合树。通过对直流系数量化编码和交流系数比特深度编码中的参数K和熵编码中长度分别为3bit码字（choicel）和4bit码字（choice2）的编码方式的选择实现数据的渐进性编码,使产生的码流具有内嵌特性,可以对任意码流进行截取和译码,实现对码率的有效控制。提出了一种具有复杂度低、易于硬件实现的图像有损压缩算法。经过系统仿真证明此算法有利于提高重建图像的质量。     

Stimulated Emission from a TiO2 Particle-Dispersed Dye Polymer Plane Waveguide

We report the stimulated emission from a dye doped polymer plane waveguide with TiO2 particles. This waveguide consists of a poly （methylmethacrylate） （PMMA） film containing laser dye DCM as a gain medium. The emission spectrum of the film pumped by the Nd：YAG laser is different from the amplified spontaneous emission of the dye-doped film without particles. It is shown that when the excitation intensity reaches the threshold 9.6 μJ, the broad band emission spectrum narrows into multiple separate peaks with central wavelength of 608 nm. The linewidth of the sharp peak is 0.5 nm. According to our analyses, this phenomenon is due to the multiscattering of the disordered TiO2 particles inside the gain polymer film.     

A Non-Zero Hadronic Elliptic Flow with a Vanished Partonic Elliptic Flow in a Coalescence Scenario

The elliptic flow of a hadron is calculated using a quark coalescence model based on the quark phase space distribution produced by a free streaming locally thermalized quark in a two-dimensional transverse plane at initial time. Without assuming the quark＇s elliptic flow, it is shown that the hadron obtains a non-zero elliptic flow in this model. The elliptic flow of the hadron is shown to be sensitive to both space momentum correlation and the hadron＇s internal structure. Quark number scaling is obtained only for some special cases.     

Coupling of Acoustical Plane p-Wave to a Cased Borehole

Theoretical and numerical study on the coupling acoustic field of the plane p-wave to a cased borehole is carried out. The medium outside the cased borehole is modeled as the porous medium. The scattering field characteristics in the cased borehole are investigated when a plane fast p-wave is incident in tilt to the cased borehole from the porous medium. The scattering fields inside and outside the cased borehole are analyzed and deduced by Biot＇s theory under the boundary conditions on each interface, and they are numerically studied. It is found that the scattering field has strong resonant characteristics and there exists a series of resonant frequencies and peaks. The effects of the frequency, radii of each interface, incident angle, porosity, and other parameters on the resonant acoustic field have been investigated in detail in the fast and slow formations respectively. The resonant characteristics of the scattering field are also analyzed from the physical sense.     

平面三维显示技术的研究现状

平面三维显示技术是近年来最新出现的虚拟现实显示技术,其最大的特点是观察者无需使用任何辅助附加设备,直接用肉眼就可看到屏幕上显示的三维图像。为推进三维显示技术的发展,进一步研究了视差立体成像原理,并据此介绍几种平面三维显示方法及其工作原理,包括障栅立体显示、微柱透镜阵列立体显示、偏振片立体显示和基于微柱透镜立体显示原理的多视点系统,阐述并分析了系统的优缺点。以日本三洋公司的四视角立体显示装置、南京大学的多视点三维显示系统和NEC液晶科技的HDDP三维显示系统为例,描述了国内外该项技术近期的研究现状,分析了存在的技术难点,展望了该应用领域的发展前景。     

柱状分层固体媒质的声散射

本文评述了各向同性和横向各向同性柱状分层固体声散射理论和实验研究进展介绍了描述圆柱状界面薄层特性的弹簧模型，也讨论了该领域中有待进一步研究的一些问题。     

矩量法研究平面波导点缺陷引起的散射损耗

对平面波导工艺过程里出现的点缺陷,如气泡、灰尘颗粒等对平面波导内光场造成的散射提供了一种简单而又实用的计算方法。计算基于格林函数方法,并利用矩量法求解积分方程,采用分块矩阵优化算法,使得算法的计算时间直接与点缺陷大小相关,提高了效率。证明了一定大小的点缺陷在特定的波长处会产生很大的散射损耗,证明点缺陷的散射损耗依赖于缺陷大小和光学性质而与其在波导中的位置无直接关系。以二氧化硅平面波导为例,分析了对中心波长1．55μm的入射光场,分别存在气泡和灰尘颗粒两种点缺陷时,散射损耗随点缺陷大小的关系特性,指出工艺过程特别应该避免某些孔径的点缺陷。     

光电法研究JO-9159炸药反应区宽度

采用光电法研究炸药反应区结构的实验装置如图1所示，炸药装置用平面波透镜起爆。为了屏蔽炸药爆轰发光，在炸药样品和窗口材料氯仿之间用0．01mm厚的铜箔隔开。然后用硅油将铜箔紧紧地贴在被测样品的表面，其目的是避免炸药样品与铜箔之间有空气隙存在，以免其影响测试精度。为了防止氯仿的渗漏，在铝套筒和炸药样品之间用真空油脂密封。光纤一端直接插入装置之中，另一端和高温计的各通道相连。炸药爆轰后，在透明液体氯仿中产生冲击波，在冲击波作用下液体发光，光纤和光电倍增管将光信号转变为电信号，记录在示波器上，计算得到氯仿中的冲击波温度随时间的变化曲线。     

平面数控抛光工艺优化技术

为了满足“神光”-Ⅲ装置对大批量大口径光学元件的需求，解决加工精度以及加工效率等方面的问题，对计算机控制光学表面成型技术（CCOS）进行了多方面的研究。在对平面数控软件进行了深入的研究工作后，结合高精度干涉检测手段，对数控工艺软件进行了大幅的改进。