基于改进型傅氏变换轮廓术检测螺纹钢肋径

采用改进型傅氏变换轮廓(I FTP)术,提出了一种实用化的非接触式三维测量系统。通过计算机建模仿真,证明了该技术用于三维测量的可行性。采用了一种局部滤波的方法,通过滤波修正测量结果,使得测量精度明显提高。利用该系统对螺纹钢肋径进行实际测量,获得了良好的实验结果,经与实际值对比,并进行误差分析,验证了该系统具有实用价值和开发前景。     

用于活体人眼视网膜观察的自适应光学成像系统

利用自适应光学技术,研制了两套活体人眼视网膜高分辨力成像系统,在实时校正人眼波前误差的基础上,实现活体人眼视网膜细胞尺度的高分辨力成像。这两套系统分别采用19和37单元小型压电变形反射镜作为波前校正元件,哈特曼-夏克(Hartmann-Shack)波前传感器测量波前误差,用眼底反射的半导体激光作为波前探测的信标。在用计算机控制自适应光学系统实现人眼波前误差校正后,触发闪光灯照明视网膜,用CCD相机记录视网膜的高分辨力图像。校正后的残余波前误差的均方根值已分别小于1／6和1／10波长,相当于视网膜上成像分辨力分别为3．4μm和2．6μm,接近衍射极限。试验表明37单元系统的成像质量更好。     

基于流场模拟的涡旋压缩机涡齿应力变形分析

为了更准确地计算涡旋压缩机涡旋齿的应力和变形,提出一种基于流场模拟的应力变形计算方法。通过对涡旋压缩机工作过程进行气体流动的数值模拟,得到其压力场和温度场分布。将流场分布作为载荷边界条件进行涡旋齿的受力变形计算,得到涡旋齿在气体压力、热载荷及其同时作用下的应力分布和变形规律。分析了涡旋齿的径向变形和轴向变形,讨论了不同主轴转角下的涡旋齿应力和变形,比较了动涡旋齿和静涡旋齿的变形。结果表明:在压缩结束时刻动涡旋齿的应力和变形最大,最大应力位于齿头根部,最大变形位于齿头顶部。     

面心立方金属在低周冲击疲劳载荷下循环形变的微观机制

对面心立方结构多晶纯铜和纯铝在低周冲击疲劳载荷下循环形变的微观机制进行了研究。疲劳过程中用扫描电子显微镜（SEM）对试样表面进行观察，结果表明：在冲击疲劳载荷下，滑移和孪生是面心立方金属变形的主要方式。疲劳初期，纯铜试样表现还出现晶粒的弹性凹凸变形。孪晶和晶粒凹凸变形这类瞬态或快速形变机制的发生，是冲击疲劳不同于常规疲劳的显著特点。     

J／φ→π^＋π^—π^0衰变中的A值分布

考察了 J/ψ→π+π- π0 衰变中的 A值分布 ,所定义的 A值是一个由末态π介子动量构成的一个无量纲的量 A =(Pπ-x Pπ+y - Pπ-x Pπ+y ) /P+π P- π ,其中 Ph、Phx 与 Phy 分别表示强子 h的动量的大小、该动量沿 X轴与 Y轴方向的分量 .这里 J/ψ是由 e+e- 碰撞产生的 ,而 e+的动量方向被取为 Z轴正向 .如果实验上能够证实 A的事例平均值〈A〉不等于零 ,则存在 CP(由电荷共轭变换与空间反演变换构成的联合变换 )或者 T(时间反演变换 )破坏 .通过筛选到的 748个事例 ,测得〈 A〉=0 .0 10 39± 0 .0 146 1± 0 .0 15 2 .进而 ,对于深入研究所需的数据样本大小和可能达到的观测水平作了数值估算 .     

二元光学波面变形器件的研究

基于计算全息原理设计了二元光学波面变形器件，一块二元光学器件的衍射效率比计算全息可提高４倍，高斯波面整形需要二块整形光学器件，二元光学器件的激光利用率比计算全息提高１６倍，而且制做工艺简单．     

胶粘光学元件的热应力和变形分析

由于光学元件和装配材料热膨胀系数的不匹配,在环境温度变化时会导致光学元件中产生热应力,并引起光学元件表面产生变形,影响光学系统的性能.针对光学元件的粘接固定方式讨论了连续边缘粘接引起的热应力和变形的分析方程,得出连续边缘粘接无热厚度的解析方程.采用有限元分析软件对胶粘固定光学元件进行了建模和热应力分析,得出光学元件边界...     

变形镜波前补偿能力的空间频域分析

 利用滤波器原理从空间频域分析了连续镜面分立驱动变形镜对波前的补偿能力。将变形镜等效为一高通滤波器,通过数值计算分析了滤波器函数与驱动器密度、高斯指数、交连值等变形镜主要参数的关系,解释了参数变化对波前拟合能力的影响。结果表明：驱动器密度是波前补偿能力的决定因素,增大高斯指数和交连值一定程度上有利于低空间频率波前的补偿。应用中应该根据待补偿波前的特征正确地选择和调整变形镜参数。     

形貌与微变形全场光学同时测量方法

在实际工程应用中,对材料形貌和结构变形等参量的检测是必不可少的,而且往往需要进行多参量同时测量。针对该背景,采用数字散斑干涉与数字条纹投影相结合的测量方法, 设计了一种集成光路,通过在数字散斑干涉实验光路中引入一个投影设备,实现物体表面形貌和微变形的同时测量。所提出的方法具有全场非接触测量的优点,且测量光路简单、操作方便、效率高、可靠性强。该方法的形貌测量分辨率优于10 μm,形变测量分辨率优于30 nm。