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171.
关于矩阵切触有理插值 总被引:7,自引:2,他引:5
顾传青 《高等学校计算数学学报》1996,18(2):135-141
1 矩阵切触插值连分式 设实区间[a,b]中由不同点组成的插值结点为x_1,x_2,…,x_n,它们的重数分别为a_1,a_2,… ,a_n,M=sum from i=l to n(a_i-1),与之对应的待插值矩阵集为 {A_i~(k):k=0,1,…,a_i-1,i=1,2,…,n,A_i~(k)=A~(k)(x_i)∈R~(d×d)}. 设方阵A=(a_(ij)),它的广义矩阵逆定义为 A~(-1)= A/‖A‖~2 (A≠0) (1.1) 相似文献
172.
蒸汽发生器是压水堆型核电站的最重要设备之一,其技术性能、安全性及可靠性影响到整个核电站的运行。因此,对蒸汽发生器进行应力分析,疲劳评定和可靠性评估是极其重要的。本文的结果表明,国产核电站蒸汽发生器的安全运行具有极高的可靠性。 相似文献
173.
利用XRD技术测试了镀锌钝化膜结合界面的残余应力,同时通过电解抛光法检测了其厚度方向残余应力的分布规律,分析了残余应力对镀锌钝化膜结合强度的影响. 试验结果表明,镀锌钝化膜的残余应力均表现为压应力,并随着基体表面残余应力的增大而减小;钝化膜在2—10μm厚度方向的残应力为-274.5—-428.3MPa,其应力为梯度分布;镀锌钝化膜与基体的界面结合强度与其残余应力成反比,减小薄膜残余应力,有利于提高镀锌钝化膜与基体的结合强度.
关键词:
X射线衍射法(XRD)
镀锌钝化膜
结合强度
残余应力 相似文献
174.
175.
干涉仪在系统中固定产生的应力会影响干涉条纹的调制度.将干涉仪的非通光面与干涉仪材料性能相同的玻璃平板胶合,做为干涉仪上下面的安装面,可以消除安装过程中对干涉仪产生的应力.选取航天通用的铸钛材料做为支撑件,可以避免恶劣航天环境中金属件热膨胀对干涉仪的破坏,采用XM31胶垫对干涉仪运输过程进行保护.整个装调中采用微应力装调.对整个系统采用工程分析软件进行了理论力学分析.结果表明,这种结构设计是可行的.同时采用2XSA60-T1000-32WL振动台,根据有关规范要求输入振动载荷,进行了力学环境试验.试验前后整个系统干涉图的MTF值基本不变.证明这种干涉仪结构设计以及微应力装调方法在工程应用上是可行的. 相似文献
176.
177.
在平面问题中,如果已知边界某点处的应力函数值和偏导数值为零,吊边界上的外载荷来构造出Airy应力函数。章利用虚拟荷和坐标变换的办法,避免了在构造Airy应力函数时可能出现的问题。 相似文献
178.
179.
The stress-strain behavior and copper are studied by the molecular dynamics incipient yield surface of nanoporous single crystal (MD) method. The problem is modeled by a periodic unit cell subject to multi-axial loading. The loading induced defect evolution is explored. The incipient yield surfaces are found to be tension-compression asymmetric. For a given void volume fraction, apparent size effects in the yield surface are predicted: the smaller behaves stronger. The evolution pattern of defects (i.e., dislocation and stacking faults) is insensitive to the model size and void volume fraction. However, it is loading path dependent. Squared prismatic dislocation loops dominate the incipient yielding under hydrostatic tension while stacking-faults are the primary defects for hydrostatic compression and uniaxial tension/compression. 相似文献
180.
Effect of non-hydrostatic stress on X-ray diffraction in a diamond anvil cell (DAC) is studied. The pressure gradient in the sample chamber leads to the broadening of the diffraction peaks, which increase with the hkl index of the crystal. It is found that the difference between the determined d-spacing compressive ratio d/d0 and the real d-spacing compressive ratio dr/d0 is determined by the yield stress of the pressure transmitting media (if used) and the shear modulus of the sample. On the basis of the corrected experiment data of Mao et al. (MXB86), which was used to calibrate the most widely used ruby fluorescence scale, a new relationship of ruby fluorescence pressure scale is corrected, i.e., P = (1904/9.827)[(1+λ/λ0)9.827-1]. 相似文献