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101.
通过对非饱和土非线性本构方程和场方程的线性化,推导出了非饱和土的线性本构方程和场方程,把线性方程表示为与Biot饱和多孔介质方程相似的形式;证明了Darcy定律对非饱和土的适用性;说明了Biot饱和多孔介质方程是这些线性方程的特征。所有这些都表明用混合理论处理非饱和土本构问题的正确性。  相似文献   
102.
本从第一性原理出发,计算了充磁线圈产生的磁场,脉冲充磁的超导圆盘中的感应电流密度和俘获场分布.以超导体中的电流运动方程为基础,通过磁通动力学方程E=Ec(J/Jc)^n和物质方程B=μ0H表示超导圆盘的超导特性.计算表明第一个脉冲充磁电流的峰值和磁通蠕动指数对于超导圆盘中的感应电流分布非常重要.同时研究了充磁电流的宽度,波形,第二个充磁电流的峰值和充磁线圈的形状对于俘获场的影响.计算表明不断减小脉冲充磁电流峰值的反复充磁可以保持超导圆盘中的感应电流密度的平台在一确定水平.  相似文献   
103.
陈平  朱登松  吴仲康  高立模 《物理实验》2003,23(2):14-15,18
通过实验观测氩离子激光器工作电流与输出光功率及其稳定性之间的关系,采用光反馈解决了反馈工作点的设置和跟踪调解,使输出光功率稳定性得到明显提高。  相似文献   
104.
光辐射计量测试技术   总被引:6,自引:3,他引:3  
简要介绍国外光辐射计量采用的主要方法、测试手段和发展趋势。为了满足国防系统对光辐射计量的需要建立了一批计量标难,解决了光辐射源辐射特性和探测器特性计量测试问题。  相似文献   
105.
两段级联掺铒光纤放大器的优化研究   总被引:7,自引:4,他引:3  
马晓明 《光子学报》2003,32(6):688-692
基于Giles模型,研究了980 nm和1480 nm泵浦的两段级联掺铒光纤放大器(EDFA)的设计,得出了掺铒光纤(EDF)的最佳长度和光隔离器的最佳位置随泵浦功率和信号功率的变化关系.比较980 nm和1480 nm泵浦的两段级联EDFA,可以发现,前者的最佳EDF长度短,而光隔离器最佳位置距EDFA输入端远.  相似文献   
106.
Nano-ZnO thin films were prepared by oxygen- and argon-plasma-assisted thermal evaporation of metallic Zn at low temperature, followed by low-temperature annealing at 300℃ to 500℃ in oxygen ambient. X-ray diffraction patterns indicate that the nano-ZnO films have a polycrystalline hexagonal wurtzite structure. Raman scattering spectra demonstrate the existence of interface layers between Zn and ZnO. Upon annealing at 400℃ for i h, the interface mode disappears, and photoluminescence spectra show a very strong ultraviolet emission peak around 381 nm. The temperature-dependent PL spectra indicate that the UV band is due to free-exciton emission.  相似文献   
107.
辐射加热金X光再发射时间测量   总被引:4,自引:3,他引:1       下载免费PDF全文
利用星光Ⅱ三倍频激光打双盘靶,研究了辐射加热材料的X光发射时间。激光脉冲能量40~60J、脉冲宽度600~700ps。通过两台时间关联的亚千X光能谱仪分别监测双盘靶初、次级发射X光谱,给出了辐射加热次级X光再发射时间。  相似文献   
108.
在晶体场理论基础上,研究了刚玉Al2O3中分别掺杂Cr^3+和Cr^4+的d-d电子光谱和EPR零场分裂D,理论计算同实验值符合好,研究表明,掺杂晶体Al2O3:Cr^4+中络离子(CrO6)^8-局城结构应在压缩的三角畸变(△θ≈3°)这是零场分裂D反常大(≈7cm^-1)的重要原因。  相似文献   
109.
本文研究了包括Stark效应时,双光子Jaynes-Cummings模型与单模压缩相干光场发生相互作用过程中场熵的特性,讨论了Stark移动参数、光场参数对场墒演化的影响.  相似文献   
110.
刘红超  郭常霖 《物理学报》1997,46(3):524-529
鉴于SiC多型体的主要衍射线完全重叠,用常规X射线粉末衍射方法确定SiC陶瓷材料中多型体含量的分布是非常困难的,提出以X射线粉末衍射全谱拟合的Rietvld方法进行SiC多型体定量分析,阐述了原理及方法,对含3C,4H,6H和15R4种多型体衍射数据的定量分析结果表明,Rietveld方法可对SiC材料中常见多型体的定量分析给出准确的结果,还给出了各自的标准偏差,并估计了该方法对各多型体能给出精确  相似文献   
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