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991.
研究离子引发收集过程中的沉积和溅射特性,给出了离子沉积和溅射的数理模型,其中重点分析了结合能、捕获概率和溅射系数这几个参数的物理意义和计算公式,给出了收集板总收集量和损失量.并且用计算机模拟了收集板的收集,给出不同的离子入射能量下入射离子元素沉积厚度和不同元素靶对各入射离子溅射特性的影响.得出以下的结论:随着离子沉积在收集板表面涂层厚度的增加溅射率也增加;离子的引出电压不是越高越好;轻质量离子的总收集率比较小;入射离子沉积和溅射特性和收集板靶原子质量有关,质量轻的金属材料作收集板,有利于提高离子的收集率.
关键词:
溅射
捕获概率
溅射概率 相似文献
992.
室温下在玻璃和聚酰亚胺两种不同衬底上, 采用射频磁控溅射法溅射掺铝氧化锌(AZO)粉末靶和固体Ag靶, 制备了两组AZO/Ag/AZO 3层透明导电薄膜, 研究了AZO层厚度对不同衬底3层膜结构和光电性能的影响.结果表明:不同衬底的两组AZO/Ag/AZO薄膜均为多晶膜.当Ag层厚度不变时, 随着AZO层厚度的增加, 两组薄膜电学性能变化不大, 透射峰向长波方向移动.玻璃和PI衬底上制备的AZO(30 nm)/Ag(14 nm)/AZO(30 nm)薄膜, 在550 nm处的透光率分别为85%和70%, 方块电阻分别为2.6 Ω/□和4.6 Ω/□. 相似文献
993.
Hui Jiang Jingtao ZhuQiushi Huang Jing XuXiaoqiang Wang Zhanshan Wang Slawka PfauntschAlan Michette 《Applied Surface Science》2011,257(23):9946-9952
Boron carbide (B4C) thin films were prepared by magnetron sputtering and residual gas impurities in the films were analyzed by X-ray photoelectron spectroscopy. The impurities, mainly oxygen, decrease with improving vacuum. By using argon ion beam etching of the films, the atomic concentration was measured as a function of etching depth. The binding energy spectra were analyzed using wavelet transform and curve fitting, showing that most of the oxygen impurity is in the form of boron oxides, and that the impurities are physically trapped among columnar structures in the film. In order to improve the base vacuum before coating the film, a range of methods were used, including argon gas filling on the target surface and titanium pre-sputtering. The experimental results show that the latter is an efficient and feasible method. Based on the titanium pre-sputtering technology, the optical performance of W/B4C multilayer was improved so much. 相似文献
994.
分别利用磁控溅射和脉冲直流化学气相沉积(PCVD)技术制备了Ti-Si-N薄膜,测定了2种Ti-Si-N薄膜的显微硬度,并采用球一盘式高温摩擦磨损试验机对比考察了其高温摩擦磨损性能.结果表明,当薄膜中Si含量(原子分数)约为10%时,2种薄膜的显微硬度达到最大值;2种Ti-Si-N薄膜的耐磨性能同其硬度之间不存在对应关系,其中采用PCVD方法制备的Ti-Si-N薄膜的高温抗磨性能较优;2种薄膜在高温下的摩擦系数均有所降低,这归因子高温下氧化膜的润滑作用。 相似文献
995.
采用射频反应磁控溅射法用高纯石墨作靶、三氟甲烷(CHF3)和氩气(Ar)作源气体制 备了氟化类金刚石(FDLC)薄膜,通过XPS光谱结合拉曼光谱、红外透射光谱和紫外 可见光光谱研究了源气体流量比等工艺条件对薄膜中键结构、sp2/sp3杂化比以及光学带隙等性能的影响.结果表明在低功率(60W)、高气压(2.0Pa)和适当的流量比(Ar/CHF3=2∶ 1)下利用射频反应磁控溅射法可制备出氟含量高且具有较宽光学带隙和超低介电常数的FDLC薄膜.
关键词:
反应磁控溅射
氟化类金刚石薄膜
红外透射光谱
XPS光谱 相似文献
996.
997.
采用射频磁控溅射法溅射SnS_2靶,在玻璃基片上以不同射频功率和氩气压强制备一系列薄膜样品,研究了不同工艺条件对薄膜特性的影响。利用X射线衍射(XRD)和拉曼光谱(Raman)对薄膜样品的晶体结构和物相进行表征分析。利用X射线能量色散谱(EDS)、紫外-可见-近红外分光光度计(UV-Vis-NIR)对SnS_2薄膜的化学组分、光学特性等进行测试,计算或分析了SnS_2薄膜样品的组分原子比、光学常数和光学带隙。结果表明:制备SnS_2薄膜的最佳工艺条件为射频功率60 W、氩气压强0.5 Pa。在该条件下,所制备的SnS_2薄膜沿(001)晶面择优取向生长,可见光透过率和折射率较高,消光系数较小,直接带隙为2.81 e V。在此基础上,进一步制备了n-SnS_2/p-Si异质结器件。器件具有良好的整流特性及弱光伏特性,反向光电流随光照强度的增加而增大。器件的光电导机制是由SnS_2禁带中陷阱中心的指数分布所控制。 相似文献
998.
利用微波电子回旋共振增强磁控反应溅射法在不同基片温度下制备无氢SiNx薄膜.通过傅里叶变换红外光谱、透射电子显微镜、台阶仪、纳米硬度仪等表征技术,研究了基片温度对SiNx薄膜结晶状态、晶粒尺寸、晶体取向等结晶性能以及薄膜的生长速率、硬度等机械性能的影响,并探讨了薄膜结晶性能与机械性能之间的关系.研究结果表明,在基片温度低于300℃时制备的SiNx薄膜以非晶状态存在,硬度值仅为18GPa左右;基片温度
关键词:
x')" href="#">SiNx
磁控溅射
微观结构
硬度 相似文献
999.
1000.
Hsieh L.-T. Fang G.-C. Yang H. H. Wang Y.-F. Tsao M.-C. Liao W.-T. 《Plasma Chemistry and Plasma Processing》2002,22(4):639-658
Contents and distributions of polycyclic aromatic hydrocarbons (PAHs) in the depositions were investigated and discussed in a MTBE/Ar, a MTBE/O2/Ar and a MTBE/H2/Ar plasma systems. A radio-frequency (RF) plasma system was used to produce the depositions under the designed operational condition. The identification and quantification of PAHs was accomplished by using a GC with a mass selectivity detector (GC/MS). Results indicated that when the input power controlled at high wattage (70 W) in the three systems, the contents of total-PAH in the MTBE/Ar system are higher than those of total-PAH in other system with adding O2 or H2. The comparison of three systems indicated the formation and accumulation of PAHs in the MTBE/Ar system is easier than other systems. At high input power wattage, when the MTBE/Ar mixture added O2 or H2, the domain pattern was shifted from both 3- and 4-ring PAH to 2-ring PAH. As far as the total-PAH content is concerned, the MTBE/Ar system at 70 W was found to have the highest mean total-PAH content (1540 g/g), while the MTBE/O2/Ar system at 20 W had the lowest mean total-PAH content (44.4 g/g). 相似文献