全文获取类型
收费全文 | 106篇 |
免费 | 230篇 |
国内免费 | 81篇 |
专业分类
化学 | 94篇 |
晶体学 | 23篇 |
综合类 | 3篇 |
数学 | 5篇 |
物理学 | 292篇 |
出版年
2024年 | 4篇 |
2023年 | 6篇 |
2022年 | 11篇 |
2021年 | 2篇 |
2020年 | 9篇 |
2019年 | 11篇 |
2018年 | 8篇 |
2017年 | 22篇 |
2016年 | 13篇 |
2015年 | 18篇 |
2014年 | 45篇 |
2013年 | 39篇 |
2012年 | 24篇 |
2011年 | 32篇 |
2010年 | 28篇 |
2009年 | 24篇 |
2008年 | 20篇 |
2007年 | 10篇 |
2006年 | 17篇 |
2005年 | 10篇 |
2004年 | 3篇 |
2003年 | 8篇 |
2002年 | 8篇 |
2001年 | 8篇 |
2000年 | 5篇 |
1999年 | 4篇 |
1998年 | 4篇 |
1997年 | 3篇 |
1996年 | 4篇 |
1995年 | 3篇 |
1994年 | 2篇 |
1993年 | 5篇 |
1991年 | 1篇 |
1990年 | 1篇 |
1988年 | 1篇 |
1987年 | 2篇 |
1984年 | 1篇 |
1983年 | 1篇 |
排序方式: 共有417条查询结果,搜索用时 31 毫秒
101.
搭建了一套纳升级电喷雾-离子源离子迁移谱仪。首先,分别对尾吹气流速、溶剂流速等影响仪器去溶剂化效果的参数进行了研究和优化。在此基础上,用一系列胺类化合物对该仪器的去溶剂化效果、分辨能力以及灵敏度进行了表征。实验结果表明,该仪器能够对电喷雾离子液滴实现完全去溶剂化;三辛胺的检出限可以达到10 μg/L。最后,将该仪器用作高效液相色谱的检测器,在无需衍生化的条件下对胺类混合物样品进行检测。由三乙胺、二乙胺以及丁胺组成的混合样品被成功分离并测定。该系统对三乙胺、二乙胺以及丁胺的线性响应范围均达到近两个数量级。 相似文献
102.
103.
基于气相色谱-串联质谱(GC-MS/MS)技术建立了6种防腐剂总量及迁移量的测定方法,通过搭建迁移装置并模拟实际暴露场景,对自制阳性样品中6种防腐剂在模拟唾液和汗液中的迁移规律进行研究,并计算出不同时刻的迁移率。结果表明,在迁移2 min~96 h范围内,防腐剂的迁移量均随时间延长而逐渐增大,最终达到迁移平衡,迁移率为2.1%~61.7%(唾液),2.2%~86.4%(汗液)。在样品与模拟液仅接触2 min时有6种物质检出,迁移率分别为2.1%~4.2%(唾液)和2.2%~3.3%(汗液)。部分实际样品中检出了2,4-二氯苯酚和2,4,6-三氯苯酚,鉴于儿童日常生活中短时间持续接触样品的特点,选取两个实际阳性样品测定了其在2~30 min的迁移量及迁移率。 相似文献
104.
报道δ掺杂赝形高电子迁移率晶体管结构Al(?)Ga(?)As/In(?)Ga(?),As/GaAs的综合光谱研究结果。采用光致发光光谱,平面光电流谱和光致发光激发光谱方法,并与理论计算相对比,确认了光致发光谱上n=1电子子带n=2电子子带到n=1重空穴子带间的强发光峰,对弱峰C的研究表明它是n=1电子子带到n=1轻空穴子带复合跃迁的发光峰。由于费密能级高于第二电子子带,没有发现文献中曾报道过的属于费密边的发光峰;平面光电流谱和光致发光激发光谱观察到n=1重空穴子带到n=1,2,3电子子带的三个激子跃迁峰。
关键词: 相似文献
105.
利用二维器件模拟软件MEDICI对AlGaAs/InGaAs/GaAs赝配高电子迁移晶体管器(PHEMT)件进行了仿真,研究了PHEMT器件的掺杂浓度与电子浓度分布,PHEMT器件内部的电流走向及传输特性,重点研究了不同温度和不同势垒层浓度情况下PHEMT器件的kink效应.研究结果表明:kink效应主要与处于高层深能级中的陷阱俘获/反俘获过程有关,而不是只与碰撞电离有关.
关键词:
高电子迁移率晶体管
kink效应
二维电子气 相似文献
106.
A GaAs/AlGaAs two-dimensional electron gas (2DEG) structure with the high mobility of μ2K= 1.78 × 10^6 cm^2/Vs has been studied by low-temperature Hall and Shubnikov de Hags (SdH) measurements. Quantum lifetimes related to all-angle scattering events reduced from 0.64 ps to 0.52 ps after i11uminating by Dingle plots, and transport lifetimes related to large-angle scattering events increasing from 42.3ps to 67.8ps. These results show that small-angle scattering events become stronger. It is clear that small-angle scattering events can cause the variation of the widths of the quantum Hall plateaus. 相似文献
107.
用Shubnikov-de Haas(SdH)振荡效应,研究了在1.4 K下不同量子阱宽度(10—35 nm)的InP基高电子迁移率晶体管材料的二维电子气特性.通过对纵向电阻SdH振荡的快速傅里叶变换分析,得到不同阱宽时量子阱中二维电子气各子带电子浓度和量子迁移率.研究发现,在Si掺杂浓度一定时,阱宽的改变对于量子阱中总的载流子浓度改变不大,但是随着阱宽的增加,阱中的电子从占据一个子带到占据两个子带,且第二子带上的载流子迁移率远大于第一子带迁移率.当量子阱宽度为20 nm时,处在第二子能级上的电子数与处在
关键词:
量子阱宽
二维电子气
Shubnikov-de Haas振荡
高电子迁移率晶体管 相似文献
108.
109.
在有机电致发光器件研究中,电子传输材料占有特殊重要的地位。但现存的材料存在着不同的缺点。因噁二唑环的高的电子亲和性,噁二唑衍生物是常见的电子传输材料,如:2-(4- 叔丁苯基)-5-联苯基噁二唑(PBD),但容易结晶和低的电子亲和性限制了它的应用。为了得到新的有效的电子传输材料,本文以噻吩为起始反应物经过二碘代、羧酸化、酯化、氨解等步骤合成了噻吩二酰肼,再通过噻吩二酰肼与相应的取代苯甲酰氯缩合、关环的方法将富电子的噻吩环和高电子亲和性的噻吩环同时引入,合成了三种新的含噻吩环噁二唑衍生物2,5-双[2,2’-双(5-取代苯基)-1,3,4-噁二唑]噻吩(R-OXD R=H,OCH_3,CH_3)。同时,采用循环伏安法对其电化学性能进行了测定。这三种化合物都在负方向出现了-对可逆的氧化还原峰,由此得到其电子亲和势(EA)分别为-3.10eV,-3.07eV和-3.08eV,其EA值都高于常用的电子传输材料PBD。R-OXD的高电子亲和势有利于电子从阴极注入。并且由时间渡越法(TOF)测得R-OXD的电子迁移率达到10~(-4)cm~2/V.S(E=10~6V/cm)。所以R-OXD有可能是好的电子传输材料。 相似文献
110.
Growth of High-Quality GaAs on Ge by Controlling the Thickness and Growth Temperature of Buffer Layer
下载免费PDF全文
![点击此处可从《中国物理快报》网站下载免费的PDF全文](/ch/ext_images/free.gif)
In the last two decades, m-v compound semi- conductor materials grown on elemental semiconduc- tor substrates have attracted much attention due to their potential applications in high-efficiency so- lar cells, photodetectors, quantum-dot (QD) lasers, and metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (MOSFETs). Due to their extremely high electron mobility, III-V semiconductors such as GaAs, InGaAs and InAs are believed to be chan- nel materials for future complementary metal-oxide- semiconductor (CMOS) technology.CMOS tran- sistors on Ge substrates with high mobility In- GaAs/Ge channels have already been fabricated by using a wafer bonding technique, which is a promis- ing step for such a device on Si. 相似文献