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101.
J. Fang 《Optics & Laser Technology》1991,23(6):349-352
A rotational mismatch of gratings is used to generate a fringe carrier of an in-plane moiré pattern so that specimen deformation shows itself in the form of modulation of the carrier frequency. As both the unmodulated and modulated carriers are the patterns without fringe-loop or fringe-connection, they are automatically numbered with monotonical increasing orders by a digital image processing system without any ambiguity. The orders at every pixel of the image are determined by interpolation of the orders of the tracked fringes to establish two grey image files, from the difference of which, the orders of the in-plane displacement moiré are displayed with grey-level variation. 相似文献
102.
103.
在测量微安表内阻的众多方法中,替代法是最简单的方法。本文全面分析了影响测量结果不确定度的因素,求出了实验测量的最佳条件,计算了普通仪器组合下测量结果的相对不确定度。 相似文献
104.
We present a design technique of retarders suitable for nonlinear optical systems. A thin sample of LiNbO3 crystal is utilized as a retarder for wide-ranging applications. Analysis shows that the same crystal can be used for single-wave or two-wave retardations, changing the orientation of the crystal only. As an application, the retarder is used to polarize two waves orthogonal, as necessary for difference frequency mixing in an AgGaSe2 crystal. 相似文献
105.
研究了充有不同温度退火Fe基纳米晶粉芯LC回路的磁致频移特性(MFS),发现充有不同温度退火Fe基纳米晶粉芯LC回路的磁致频移不同,充有经600℃退火Fe基纳米晶粉芯LC回路的磁致频移最灵敏。 相似文献
106.
107.
A compact high-resolution optical heterodyne interferometer combining a two-frequency light module and a minute optical system
is described. The light module, which generates two independent frequencies of light, is fabricated by proton exchange method
on LiNbO3 substrate. We report an experiment evaluating measurement accuracy using a micro-displacement measurement system which incorporates
this interferometer. Results of the experiment with a standard thickness sample show high thermal stability with maximum measurement
error of 1.8 nm at a temperature from 19°C to 33°C. The system was used to measure the hysteresis of a piezoelectric element
for displacements of several nm, thereby making it possible to analyze the system quantitatively in practice. 相似文献
108.
109.
110.
《Chemistry (Weinheim an der Bergstrasse, Germany)》2006,12(13):3419-3419