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91.
Theformationofanewtypeofself_assembledmultilayerfilms,moleculardeposition(MD)films[1,2],isafastdevelopingareaofthinfilmresearch.Thisnewmethodoffilmpreparationisbasedonionicattractionbetweenoppositechargedchromophores.IncomparisonwiththeclassicLangmuir_Blo… 相似文献
92.
93.
94.
制取了4-二氰基亚甲基-2-甲基-6-对二甲胺基苯乙烯基-4H-吡喃(DCM)和1,2-双(5-甲基苯并恶唑)基乙烯(DT)两种荧光分子的LB膜以及两者的混合膜,以吸收光谱和荧光光谱探讨了膜中分子的构型,微环境,发光性能等特征,发现在LB膜的缀密排布环境中DCM顺式构型的含量较之在溶液中大为增加。 相似文献
95.
96.
用光电化学电流法研究了铅、铅砷、铅锑和铅铋合金在4.5mol·L-1H2SO4溶液(22℃)中,以0.9V(vs.Hg/Hg2SO4)极化7h而形成的阳极膜中的氧化铅的半导体性质,合金添加剂砷、锑和铋对t-PbO(四方氧化铝)和o-PbO(斜方氧化铝)的禁带宽度没有影响,从量子效率和电位的关系可求Pb,Pb-lat%As(at%表示原子百分比,全文同),Pb-lat%Sb和Sb-lat%Bi上膜中t-Pbo的施主密度(ND)分别为9.3×1015,1.0×1016,3.1×1016和1.3×1017cm-3,平带位分别为-0.20,-0.22,-0.28和-0.08V(vs.Hg/Hg2SO4).比较VA元素砷、锑和铋对上述膜中t-Pbo的ND(从而自由电子密度)和膜中t-Pbo的生长速率的影响,可认为法添加剂砷、锑和铋对阳极膜中t-Pbo的作用符合Hauffe规则. 相似文献
97.
壳聚糖-聚羟基丁酸酯共混膜的制备与性质 总被引:1,自引:0,他引:1
以乙酸为共溶剂,制备了壳聚糖-聚羟基丁酸酯(CTS-PHB)共混膜,利用红外光谱(FT-IR)、广角X粉末衍射(WAXD)、扫描电镜(SEM)及差热分析(DTA)表征了共混膜的化学组成、晶形、形貌和热稳定性能。研究表明:CTS和PHB可在体积百分数为62.5%的乙酸溶液中共混,形成表面光滑、不透明的膜,干态共混膜具备一定的力学强度。各比例的CTS-PHB共混膜有相同的热分解温度,共混膜的形貌特征随两组分质量配比变化,其中mPHB/mCTS=1/1的共混膜显示出良好的有序结构。 相似文献
98.
有机硅耐磨透明涂层的固化分析 总被引:13,自引:0,他引:13
FTIR、TG、TBA等对有机硅耐磨涂料(有机硅溶胶)的热固化过程研究表明有机硅胶体中缔合羟基间的脱水缩合速率很高;羟基脱水程度与固化温度有关,温度越高,达平衡时羟基的浓度越低,在105~130℃间羟基的浓度变化最大,加入适当的固化剂,对羟基的脱水交联有促进作用,在较高的固化温度下,反应体系中出现了环氧环异构化产生的酮羰基的吸收峰 相似文献
99.
T. Ohishi S. Maekawa T. Ishikawa D. Kamoto 《Journal of Sol-Gel Science and Technology》1997,8(1-3):511-515
A new technique for preparing anti-reflection/anti-static thin films for CRTs at low temperature has been developed. Double-layered
films of SiO2/SnO2 were formed on a CRT panel surface by the sol-gel method using photoirradiation. The new method makes it possible to reduce
heat treatment temperature (°C) by almost 50% and treatment time to approximately 33% of the conventional levels. 相似文献
100.
黄永平 《影像科学与光化学》2007,25(2)
以稀土氧化物为原料,用溶胶-凝胶法制备前驱液,加入适量的聚乙烯醇做成膜物质,用浸渍拉提法在石英玻璃表面上得到均匀的薄膜,然后经过适当的干燥和热处理得到Y2O3∶Eu3+发光薄膜.讨论了Eu3+的掺杂浓度和热处理温度对薄膜发光性能的影响.试验表明:Eu3+的最佳掺杂浓度为8%(摩尔分数),薄膜的发光性能随热处理温度提高而增强,当热处理温度达到700℃后,薄膜的发光性能基本上稳定.同时用原子力显微镜和X射线衍射分析了薄膜的表面形貌和结构. 相似文献