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71.
考虑半参数回归模型Y=X’β+g(T)+e,其中(X,T)为取值于Rp×[0,1]上的随机向量,β为p×1未知参数向量,g为定义于[0,1]上的未知函数,e为随机误差,Ee=0,Ee2=σ2>0,且(X,T)与e独立。本文综合最近邻和最小二乘的方法定义了β,g和σ2的估计量,gn*和。在适当条件下证明了和的渐近正态性,并得到了gn*的最优收敛速度。 相似文献
72.
本文讨论由L2深度修正得到的L2深度相应的样本深度的性质,得到了样本深度的相合性和渐近正态性,并证明了它在任意紧集上的一致相合性.最后,基于上述性质简要讨论了样本深度等高的一些性质. 相似文献
73.
74.
在正态模糊格点费米子方案中,一个合理的自洽的Fourier变换显示了动量空间中周期性的破缺,从而避免了多余的费米子模.本文并讨论了弱耦合极限下模糊格点的费曼规则,计算了轴矢流反常的单圈微扰结果,获得了标准的Adler-Bell-Jackiw手征反常项. 相似文献
75.
76.
77.
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78.
对以本征Si及重掺杂p型和n型Si作为中间层的Fe/Si多层膜的层间耦合进行研究,并通过退火,增大Fe,Si之间的扩散,分析界面扩散对层间耦合的影响. 实验结果表明,层状结构良好的制备态的多层膜,Fe,Si之间也存在一定程度的扩散,它是影响层间耦合的 主要因素,远远超过了半导体意义上的重掺杂,使不同种类的Si作为中间层的层间耦合基本 一致.进一步还发现,在一定范围内增大Fe,Si之间的扩散,即使多层膜的层状结构已经有了相当的退化,Fe/Si多层膜的反铁磁耦合强度基本保持不变.
关键词:
Fe/Si多层膜
层间耦合
界面扩散 相似文献
79.
采用交替沉积磁控溅射工艺制备了超薄多层的FeCoB SiO2 磁性纳米颗粒膜 .利用x射线衍射仪、扫描探针显微镜、透射电子显微镜分析了薄膜的微结构和形貌特征 .采用振动样品磁强计、四探针法、微波矢量分析仪及谐振腔法测量薄膜试样的磁电性能和微波复磁导率 .重点对SiO2 介质相含量、薄膜微结构对电磁性能产生重要影响的机理做了分析和探讨 .结果表明 :这类FeCoB SiO2 磁性纳米颗粒膜具有良好的软磁性能和高频电磁性能 ,2GHz时的磁导率 μ′高于 70 ,可以应用于高频微磁器件或微波吸收材料的设计 相似文献
80.