微通道板及其发展趋势

回顾微通道板发展历史及各阶段的主要技术特征。综述自90年代以来国内外微通道板的研发和生产情况．     

Hg1-xCdxTe/Cd1-zZnzTe的X射线反射率及半峰全宽的动力学研究

X射线衍射摇摆曲线的计算机模拟是一种获得材料晶体质量参量的有效方法，其中材料本征摇摆曲线的计算是计算机模拟的基础。用X射线动力学理论计算了Hg1-xCdxTe和Cd1-zZnzTe本征反射率曲线，并研究了组分、膜厚分别对本征反射率和半峰全宽的影响。结果表明Hg1-xCdxTe和Cd1-zZnzTe的本征反射率和半峰全宽与材料组分和厚度有明显的依赖关系，且该依赖关系取决于X射线在材料中的散射和吸收的相对强弱。薄膜的厚度也是直接影响本征摇摆曲线峰形、半峰全宽和反射率的重要因素，当薄膜厚度小于穿透深度时，表征本征反射率曲线的各个参量均与薄膜厚度有直接的关系。对于(333)衍射面，碲镉汞材料厚度大于7μm后，本征反射率和半峰全宽将不再发生明显变化。     

酞菁锌参杂二氧化硅凝胶基质的光谱学特征

利用溶胶-凝胶技术将四磺化酞菁锌（ZnPcS4）成功地引入到了二氧化硅凝胶基质中，制备了均匀掺杂的有机/无机复合干凝胶。研究ZnPcS4分子在溶胶-凝胶过程中紫外-可见吸收光谱的变化规律以探索其在复合体系中的存在状态。实验表明，在溶胶阶段，随着时间的延长，紫外-可见吸收光谱中单体的吸收峰强度增大，说明凝胶中酞菁单体的浓度增大；而形成凝胶后，随着时间的延长，紫外-可见吸收光谱中单体的吸收峰强度减小，二聚体的吸收峰强度增大，说明由于体系结构和微化学环境的变化，酞菁分子趋向于聚合。     

Bergman－Weil积分公式的拓广

本文把Ｃｎ空间中著名的Ｂｅｒｇｍａｎ－Ｗｅｉｌ公式拓广到一类具有低维解析待征流形的微分多面体域上，从而获得在一类非解析的多面体域上建立具有全纯核的全纯函数的积分表示式．     

Brauer第24问题的推广

本文对Ｂｒａｕｅｒ第２４问题［１］作了推广．利用Ｄａｄｅ关于循环块的理论得到如下结果：设Ｇ是有限群，Ｐ是Ｇ的循环Ｓｙｌｏｗｐ子群．设｜Ｐ｜＝ｐａ，ａ为正整数．令Ｐｉ为Ｐ中唯一的ｐｉ阶子群，１ｉａ．则｜Ｃｌ（Ｇ）｜＝｜Ｃｌ（ＮＧ（Ｐｉ））｜的充分必要条件为ＰｉＧ．     

光滑激光脉冲作用下的强场自电离

本文研究了光滑激光脉冲作用下包含高阶离化的强场自电离过程,导出了其中的基本方程,得到了基态布居和光电子谱的一系列解析表达式。讨论了指数增长脉冲作用时的具体结果,发现高能谱比低能谱更能呈现出光电子谱在脉冲光作用下特有的多峰分裂。     

硫化锌掺钴对电子结构和光学性质的影响

根据密度泛函理论对钴掺硫化锌周围的品格进行了结构优化,计算得到了钴杂质周围的晶体结构、电子态密度分布和吸收光谱.计算结果表明,由于Co原子掺入ZnS晶格常数减小,导致晶格畸变;带隙变窄;吸收峰展宽至更长波长区域.     

特征标高度为0具有例外权的不可约H(2r,n)-模

本文主要利用广义限制李代数的概念研究不可约H(2r,n)-模,确定了特征标高度为0,并且具有例外权(-w)k(k=0,1,2,…,r)的极大向量的不可约H(2r,n)-模.     

θ*r,s,t-图与唯一2-列表染色图的特征化

如果一个图G存在一个k-列表安排使得G具有一个唯一列表染色,则称 G是唯一列表可染色图,简称UkLC图．我们称图G具有M(k)性质当且仅当G不 是UkLC图．本文在借鉴θr,s,t-图概念的基础上引入θr,s,t-图的定义,并证明:除了 r=s=t=2以外,θr,s,t-图都是U2LC图．利用如上结果我们给出M．Mahdian and E．S．Mahmoodian对U2LC图所作特征化的一个简单证明．