Sn-C60薄膜的紫外吸收光谱和X-射线衍射谱分析

对Sn-C60薄膜进行紫外可见光吸收，X-射线衍射和扫描电镜的测定结果显示，薄膜样品紫外可见光吸收的两个短波段吸收峰比纯C60薄膜的吸收峰显著下降，说明Sn-C60薄膜的电子光吸收跃迁为间接跃迁，能带中有杂质能级的存在；样品的X射线衍射峰则对应于面心立方结构；扫描电镜结果显示薄膜为纳米级颗粒组成。     

Influence of Yb-Doped Nanoporous TiO2 Films on Photovoltaic Performance of Dye-Sensitized Solar Cells

Yb-doped TiO2 pastes with different Yb/TiO2 weight ratios are prepared in the sol-gel process to obtain dyesensitized solar cells （DSCs）. The nanocrystalline size of Yb-TiO2 becomes smaller and the lattice parameters change. Lattice distortion is observed and dark current is detected. It is found that a part of Yb existing as insulating oxide Yb2O3 state acts as barrier layers at the electrode-electrolyte interface to suppress charge recombination. A Yb-doped TiO2 electrode applied in DSCs leads to a higher open-circuit voltage and a higher fill factor. How the Yb-doped TiO2 films affect the photovoltaic response of DSCs is discussed.     

阴极还原处理对多孔硅发光性能的影响

对经过阴极还原处理后的多孔硅样片进行了光致发光测试和稳定性测试.实验结果表明这种处理能明显改善多孔硅的发光稳定性,使其表面结构更加稳定.利用原子力显微镜对不同还原时间的多孔硅微结构及形貌进行了比较,在一定范围内随着还原时间的增长多孔硅表面粗糙度增大,PL谱增强.     

第一届掺杂纳米材料发光性质学术会议

该会议为中国物理学会发光分会、中国稀土学会发光专业委员主办的国内首次纳米材料发光性质专题学术研讨会，旨在通过大会报告、专题研讨等活动，总结、交流近年来掺杂纳米发光材料及其相关应用领域所取得的研究进展和成果。在此基础上凝练科学目标、探讨和规划未来的学科发展方向并集中国内的优势资源攻克难点的科学问题，使我国在该研究领域更具国际竞争力。会议诚邀请该领域知名的专家和学者参加；在探索纳米世界之余，也将带您领略海南美丽而独特的自然景观和人文奇迹。     

CdS改性TiO2光催化剂的制备及结构

在半导体光催化剂中，TiO2具有光催化活性高、无毒和抗光腐蚀性好等优点，但纯TiO2光催化剂直接利用太阳光进行光催化氧化的效率较低，而利用贵金属元素和稀土元素等在TiO2中进行掺杂改性时，改性光催化反应必须在高压汞灯或紫外灯下进行，不符合节能原则。     

CHBr薄膜制备的初步研究

碳氢（cH）及其掺杂材料常被用作ICF实验靶丸烧蚀层材料。制备CH薄膜及其掺杂材料的方法有很多，诸如：离子束辅助沉积、离子溅射沉积、低压等离子体化学气相沉积（LPPCVD）等。近年来，详细研究了LPPCVD法制备CH薄膜的制备方法与工艺，形成了比较成熟的技术路线与工艺路线，并为“神光”实验提供了一系列实验靶丸。     

An Electro—Optical Modulator Based on GeO2—Doped Silica Ridge Waveguides with Thermal Poling

A Mach-Zehnder electro-optic modulator is designed and fabricated based on upper-clad GeO2-doped silica ridge waveguides with thermal poling.The electro-optic coefficient obtained is about 0.05pm/V and is polarizationinsensitive.An extinction ratio of over 17dB is achieved.The transmission loss of the modulator for the TE mode is 2-3dB higher than that for the TM mode after the poling.