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Recently experiments and theories show that the tunnel magnetoresistance (TMR) does not only depend on the ferromagnetic metal electrodes but also on the insulator. Considering the rough-scattering effect and spin-flip effect in the insulator, this paper investigates the TMR ratio in a ferromagnet/insulator/ferromagnet (FM/I/FM) tunnelling junction by using Slonczewsik's model. A more general expression of TMR ratio as a function of barrier height, interface roughness and spin-flip effect is obtained. In lower barrier case, it shows that the TMR ratio depends on the roughscattering effect and spin-flip effect. 相似文献
964.
LU Jie 《数学年刊B辑(英文版)》2000,21(1):25-32
1.IntroductionIntherecentyearsthereisagrowinginterestininvestigatingtheconnectionbetweenthedynamicsofacontinuousmapofafinitegraphandthetopologicalstructureoftheinverselimitspaceusingthemapasasolebondingmaptsincesomeattractorofadynamicalsystemcanbeshowntobetheinverselimitspaceofacontinuousmapofafinitegraph["](seeforinstance[1,4,7,8,12]).In[1]BargeandDiamondprovedthatapiecewisemonotonecontinuousmapofafinitegraphhastopologicalentropyzeroifandonlyiftheinverselimitspaceusingthismapasasolebondingmap… 相似文献
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以MCM-41分子筛负载氯化铝为催化剂, 催化丙烯酸甲酯与1-辛烯共聚合反应, 利用称重法测定聚合物产率, 利用核磁共振氢谱分析共聚物组成, 利用凝胶渗透色谱分析共聚物相对数均分子质量, 研究了聚合物产率和共聚物组成随聚合反应时间的变化规律, 考察了溶剂、 催化剂组成和催化剂用量对共聚合结果的影响及催化剂的循环使用性能. 结果表明, 聚合物产率随时间呈S形增长, 而共聚物组成随时间保持恒定, 与氯化铝催化体系规律一致; 溶剂由二氯甲烷改变为乙醇或二甲苯主要影响聚合物组成, 对聚合物相对数均分子质量及其分布影响不大; 催化剂中活性组分的增加有利于增加共聚物中1-辛烯单元的含量, 但对聚合物分子量及分子量分布影响不大; 催化剂中活性组分含量一定时, 随催化剂与单体摩尔比从0.125增加到0.5, 共聚物中1-辛烯单元含量增加, 继续增大催化剂用量不利于提高共聚物中1-辛烯单元含量. 催化剂重复使用3次后仍具有良好的催化活性, 将烯烃单元引入共聚物中, 获得1-辛烯单元摩尔分数达30.1%的聚(丙烯酸甲酯-co-1-辛烯)共聚物. 相似文献
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The anisotropic strain of a nonpolar (1120) a-plane GaN epilayer on an r-plane (1102) sapphire substrate, grown by low-pressure metal-organic vapour deposition is investigated by Raman spectroscopy. The room-temperature Raman scattering spectra of nonpolar a-plane GaN are measured in surface and edge backscattering geometries. The lattice is contracted in both the c- and the m-axis directions, and the stress in the m-axis direction is larger than that in the c-axis direction. On the surface of this sample, a number of cracks appear only along the m-axis, which is confirmed by the scanning electron micrograph. Atomic force microscopy images reveal a significant decrease in the root-mean-square roughness and the density of submicron pits after the stress relief. 相似文献