扫描光声显微镜及其对亚表面结构的检测

扫描光声显微镜是七十年代末发展起来的新型显微成象技术,几年来发展极为迅速.许多国家的重要大学或研究所都先后建立起各种类型的光声显微镜或光声成象系统.     

断口定量分析中高度参数的扫描电镜测定

在断口定量分析中根据双目成象原理,运用扫描电镜技术,实现对断口上高度参数的测量,将扫描电镜中获得的立体感觉转变为相应的几何参数,从而可以从断口上获得高度参数的定量数据。同时还分别讨论了进行断口高度参数测量的倾转法和剖面法。     

象平面散斑场相位差的统计性质

运用弱散射体产生的部分显现散斑场相位差自由标准偏差的近似表达式,计算和分析了由单会聚透镜成象产生的象平面部分显现高斯散斑场相位差的自由统计性质.     

漫射光宽视场光学天线的设计

利用光线追迹的方法分析了半球光学天线及另外两种截取角小于90°的欠半球和大于90°的超半球光学天线的光学增益和接收视场,提出了选择合适截取角的原则,并确认半球形光学天线是一种很合适的漫射光宽视场光学天线;同时分析了均匀能量环境下半球光学天线圆截面上接收到光功率的分布,并提出了设计半球形光学天线基本参量的原则;用光学理论推导出了采用半球形光学天线时能够到达光敏面的光线所应满足的条件,分析了它对光学滤波设计的意义.     

CCD相机成象位置的校准和q分布测量的修正

对HL－1M装置上使用的CCD相机成象的空间位置进行校准，给出径向远方景点和近方景点在瞄准平面的投影点的物长公式，并在校准的基础上修正安全因子q径向分布的测量结果。详细讨论了诊断方法的注意事项和改进方法，并提出一些当前可行的建议。     

粉粒体两相流的电容层析成象测量

粉粒体系统中的固相浓度分布的在线测量是十分困难的问题．电容层析成象技术是一种近年来发展起来的非侵入式快速浓度场测量技术．它不干扰流场，不受流动中颗粒浓度、加速度、不透明等因素的制约．本文讨论其测量原理、应用、近期进展、存在的主要问题及其解决的对策．     

激光聚变爆推靶内爆区空间分布的测量

采用具有高空间分辨本领的Fresnel波带板编码成象技术对爆推靶内爆区发射的α粒子进行成象,在最近的“神光Ⅱ”(SGⅡ)上实验中获得了爆推靶内爆区的空间分布、大小、压缩比等重要信息.Fresnel波带板编码成象技术的空间分辨率好于10μm.实验测得内爆区大小约为初始靶直径的13—16,而内爆区的半高宽约为初始靶直径的15—19.由内爆区尺寸估算出的中子产额在误差范围内与实验结果相符 关键词： 惯性约束核聚变 内爆压缩 编码成象     

迭代法ECT对循环流化床底部固体浓度的测量

在矩形循环流化床底部固体浓度的测量中首次采用了迭代电容层析成象方法,比通用的线性逆映射方法明显提高了成象质量。通过层析成象分析得到了床层中固体浓度分布、平均固体浓度随时间的变化和频谱特性。     

具有对称性象差的光学系统成象积分算子谱分析

本文对有限视场成象积分算子的理论进行讨论,利用在零级本征函数空间展开的方法,得到积分算子本征函数的近似表达式,并借助于实验中测得的脉冲响应(点扩散函数)的数据,算出具有对称性象差的显微物镜的本征值和本征函数,并进行讨论。 关键词：     

光学常数对折反射物镜系统的影响

光学材料的折射率和色散系数对光学系统成像影响极大,如折射率对球差等单色像差的影响极为敏感,而色散系数则对色差有直接影响。本文将以具体产品为例.分析光学常数对折射物镜的影响。