全文获取类型
收费全文 | 29487篇 |
免费 | 6344篇 |
国内免费 | 14254篇 |
专业分类
化学 | 23629篇 |
晶体学 | 555篇 |
力学 | 2075篇 |
综合类 | 919篇 |
数学 | 5306篇 |
物理学 | 17601篇 |
出版年
2024年 | 281篇 |
2023年 | 940篇 |
2022年 | 1192篇 |
2021年 | 1224篇 |
2020年 | 921篇 |
2019年 | 1048篇 |
2018年 | 679篇 |
2017年 | 1046篇 |
2016年 | 1109篇 |
2015年 | 1332篇 |
2014年 | 2553篇 |
2013年 | 2052篇 |
2012年 | 2185篇 |
2011年 | 2383篇 |
2010年 | 2155篇 |
2009年 | 2341篇 |
2008年 | 2805篇 |
2007年 | 2175篇 |
2006年 | 2334篇 |
2005年 | 2338篇 |
2004年 | 2391篇 |
2003年 | 1953篇 |
2002年 | 1647篇 |
2001年 | 1669篇 |
2000年 | 1221篇 |
1999年 | 1055篇 |
1998年 | 967篇 |
1997年 | 814篇 |
1996年 | 778篇 |
1995年 | 723篇 |
1994年 | 754篇 |
1993年 | 562篇 |
1992年 | 582篇 |
1991年 | 477篇 |
1990年 | 415篇 |
1989年 | 476篇 |
1988年 | 187篇 |
1987年 | 105篇 |
1986年 | 75篇 |
1985年 | 49篇 |
1984年 | 28篇 |
1983年 | 29篇 |
1982年 | 25篇 |
1981年 | 1篇 |
1980年 | 3篇 |
1979年 | 3篇 |
1959年 | 2篇 |
1951年 | 1篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 15 毫秒
21.
22.
23.
利用室温下压电调制反射光(PzR)谱技术系统测量了N掺杂浓度为0.0%—3%的分子束外延生长GaNxAs1-x薄膜,并对图谱中所观察的光学跃迁进行了指认.在GaN0.005As0.995和GaN0.01As0.99薄膜的PzR谱中观察到此前只在椭圆偏振谱中才看到的N掺杂相关能态E1+Δ1+ΔN.当N掺杂浓度达到
关键词:
压电调制反射光谱(PzR)
xAs1-x薄膜')" href="#">GaNxAs1-x薄膜
分子束外延(MBE) 相似文献
24.
使用SAC/SAC-CI方法,利用D95(d),6-311g**以及cc-PVTZ等基组,对B2分子的基态(X3Σg-)和第一激发态(A3Σu-)的平衡结构和谐振频率进行了优化计算.通过对3个基组的计算结果的比较,得出了D95(d)基组为3个基组中的最优基组的结论;使用D95(d)基组,利用SAC的GSUM(Group Sum of Operators)方法对基态(X3Σg-),SAC-CI的GSUM方法对激发态(A3Σu-)进行单点能扫描计算,用正规方程组拟合Murrell-Sorbie函数,得到了相应电子态的完整势能函数;从得到的势能函数计算了与基态(X3Σg-)和第一激发态(A3Σu-)相对应的光谱常数(Be,αe,ωe和ωeχe),结果与实验数据吻合. 相似文献
25.
采用带自相互作用的夸克介子耦合模型(QMC)计算了核物质的一些性质, 得到
密度依赖的标量介子与核子的耦合常数, 并把该耦合常数的变化趋势引入到VDD和SDD中, 即把核子结构的信息引入到了QHD中. 数值结果表明核子的内部结构对核物质性质有显著影响. 相似文献
26.
红外光谱表明,一步法和两步法制备的Nafion-Os(bpy)2 3(X=3)修饰膜明显不同,说明不同制备方法强烈影响膜的微结构.同时还显示一步法制备的X=3和X=20膜红外光谱特性也有明显不同. 相似文献
27.
28.
29.
《理化检验(化学分册)》2006,42(3):191-191
由中华人民共和国科学技术部批准,广东省科学技术厅主办,广东省对外科技交流中心,广东省分析测试协会,中国广州分析测试中心,广东计量协会,广东国际科技贸易展览公司承办的第七届中国(广州)国际分析测试与科教仪器设备展览会暨技术研讨会,第五届中国(广州)国际生物技术展览会暨技术研讨会。于2006年5月30日~6月1日在广州市(流花路)中国出口商品交易会展馆举行。主要内容为分析测试、高教仪器与实验室设备、生物技术、医学诊断与临床检验、环境监测、食品检测等。 相似文献
30.
可变抽样区间的非参数控制图 总被引:1,自引:1,他引:0
最近几年一些学者研究了可变抽样区间的质量控制图。Amin等提出了可变抽样区间(VSI)的非参数控制图———符号 (Sign)统计量图〔1〕。本文在此基础上研究位置VSI符号控制图的制定方法 ,并设计离散VSI符号控制图。符号控制图的优点是对非正态总体亦可应用 ,并且不需要过程方差的信息。本文将所设计的VSI符号控制图同固定抽样区间 (FSI)的常规图作比较 ,并举实例说明符号控制图的应用 相似文献