单粒子势模型下价核子的密度分布

依据实验事实，利用单粒子势模型，计算了一些核态外层价核子的密度分布.计算给出了价核子在核外部分布的概率和贡献，以此作为晕核态的判断标准.通过研究均方根半径随结合能变化的规律，指出了晕核态存在的条件，尤其是质子晕核态存在的条件.这些对判断和寻找晕核态有现实的指导意义. 关键词： 单粒子势模型 价核子 密度分布 中子晕核态 质子晕核态     

激发相干态下双模介观传输线的量子效应

将介观无损耗传输线中的驻波场看成作相对运动的两列同频率的行波的叠加，此电路量子化后成为两个频率相同、不同模的光子场。计算和分析了激发相干态下电压和电流梯度的量子涨落，指出了双模传输线与一般的LC电路、双模传输线与单模传输线量子涨落的异同之处。     

甚高频等离子体增强化学气相沉积法沉积μc-Si∶H薄膜中氧污染的初步研究

对不同的本底真空条件下,采用甚高频等离子体增强化学气相沉积技术沉积的氢化微晶硅（μc_Si∶H）薄膜中的氧污染问题进行了比较研究.对不同氧污染条件下制备的薄膜样品的x射线光电子能谱与傅里叶变换红外吸收光谱测量结果表明：μc_Si∶H薄膜中,氧以Si—O，O—O和O—H三种不同的键合模式存在,不同的键合模式源自不同的物理机理.μc_Si∶H薄膜的Raman光谱、电导率与激活能的测量结果进一步显示：沉积过程中氧污染程度的不同,对μc_Si∶H薄膜的结构特性与电学特性产生显著影响；而不同氧污染对μc_Si∶H薄膜电学特性的影响不同于氢化非晶硅（a_Si:H）薄膜. 关键词： 氢化微晶硅薄膜 甚高频等离子体增强化学气相沉积 氧污染     

化学与化工——化学与化工学科研究进展

在气体泄漏监测工作中选择合适的示踪剂是非常重要的。近年来，围绕示踪剂的研究开展了大量的工作，为了寻求现有示踪剂的改进，开展了全氟二甲基环丁烷示踪剂在carboxen-569分子筛上的吸附行为研究，考察了温度和采样速度对示踪剂穿透体积和安全采样体积的影响，确定了大气示踪剂样品的采集工艺参数和热解吸条件，为该示踪剂的应用奠定基础。     

半参数方差误差模型的估计

本文综合近邻权函数法及最小二乘法，用两阶段最小二乘估计的方法得到了半参数EV模型中参数的估计量及其强相合性，渐近正态性。同时也得到了非参数函数的估计量及其强相合性，一致强相合性。     

压缩偶相干态的制备及其非经典特性

通过保持非耗散介观LC电路的固有频率不变，而使电路参数作阶跃函数变化，就可将介观LC电路由初始的偶相干态制备到压缩偶相干态；在压缩偶相干态下，介观电路系统不仅有非经典的量子压缩效应，而且有非经典的反聚束效应. 关键词： 介观LC电路 单位阶跃函数 压缩算符 压缩偶相干态     

Stancu-Sikkema算子的点态估计

本文构造了Stancu—Sikkema算子,并利用点态光滑模研究了此算子的点态逼近正逆定理.     

Emittance Measurements for Beams Extracted from LECR3 Ion Source

High quality ion beams are required by IMP cyclotron and atomic physics research, so it is important to research and measure beam emitt ance of ECR ion source. Intense beams extracted from ECR ion source usually have low energy, so it is suitable to use Electric-Sweep Scanner to measure the emittance. This kind of measurement is popularly used at ECR ion source, and it has some prominent merits such as high accuracy, very short time of data processing and easy expressing of the emittance pattern. So we designed and built this emittance scanner to measure emittance of the ion beams produced by LECR3 ion source. The structure of the ESS is shown in Fig.l, and the photo of the ESS is shown in Fig.2.