乙烯与乙烯工业

乙烯是烯烃同系列中的第一个成员，是产量最大的有机化工产品。本文从乙烯的来源、性质，用途方面展示了乙烯在石油化学工业中的重要地位；我国乙烯工业的根貌。乙烯工业产品对环境的影响及其对策。     

CHJ-S-2型超声波塑料焊接机

上海超声波仪器厂新近研制成功了一种新颖的大功率超声波塑料焊接机,它是焊接热塑性塑料制品的最新设备,各种注塑而成的胶件都可以使用该设备进行焊接,不需要任何熔剂、粘合剂或其他辅助品,它具有焊接速度快、质量高、外形美观等优点。 超声波塑料焊接机用途广泛,只要使用热塑性胶件的行业都可适用,如电子工业、汽车工业、电器制造、玩具、家庭用品、包装及一般塑料行业等。 本设备可根据不同焊接对象进行熔焊、嵌焊、铆焊等,由于本设备输出功率较大,所以对较大面积的塑料作进行传输焊接效果更为理想。     

今日国外物理

 酝酿已久的《今日国外物理》新栏目,从本期起同大家见面了.本栏宗旨在于简要介绍国外著名物理实验室发展概况,各国物理研究最新成果,现代物理科学的某些进展,以便丰富读者的物理知识,扩大读者的视野.我们期待大家共同办好这一栏目,使它成为您观察世界科研动态的窗口.     

一种以2~#炸药为主要成份的塑料粘结炸药

2~#炸药[重(,,-三硝基乙基-N硝基)乙二胺]是一个零氧平衡的高能炸药。在2~#炸药中混入少量HMX,以氟橡胶粘结,以TATB、石墨和石腊组成的复合钝感剂来钝感,得到了撞击感度和摩擦感度较低的B-01炸药配方。配方组成为2~#炸药/HMX/TATB/氟橡胶/聚苯乙稀/石墨/石腊=70/22/4/2/0.5/0.5/1。 该配方的特点是冲击波感度很高,很容易用2mm直径的柔爆索起爆。其撞击感度与TNT相当(4％),摩擦感度低于14％,爆轰能量相当于PBX-9404,而且容易在低比压下制成不同形状,因此它适用于某些特殊用途的装药。     

微波技术在生物可降解聚合物合成中的研究进展

阐述了微波合成技术及微波化学仪器的发展历史,综述了微波辐射技术在生物可降解聚合物合成中的特点和优势,并针对其在直接缩聚法、开环聚合法以及共聚合成可生物降解聚合物中的应用和研究成果做了重点介绍。研究发现微波辐射技术具有大大降低聚合反应的时间和能耗,提高反应聚合速率、收率,且具有一定选择性的特性。而作为一种新型高效的加热方式,微波辐射技术为生物可降解聚合物合成甚至更多高分子材料的合成提供了新的思路。     

微波消解-ICP-AES法测定塑料中Pb和Cd

采用微波消解法进行溶样,以ICP-AES法测定塑料中Pb和Cd的含量。Pb、Cd的回收率分别为96.0%~102.0、93.3%~105.0%。Pb、Cd测定结果的相对标准偏差分别为0.567%、1.19%(n=10)。Pb和Cd的检出限分别为0.02、0.005 mg/L。该方法适用于多种塑料中Pb和Cd含量的快速分析。     

X射线荧光光谱法测定农田底泥中8种元素

建立X射线荧光光谱法测定农田底泥样品中砷、铬、铜、锰、镍、铅、锌、铁8种元素含量的分析方法.以塑料环粉末压片法制样,选用50种土壤、水系沉积物标准物质拟合校准曲线,探讨各元素的测定条件.当待测样品与建立校准曲线的标准样品粒径均小于75μm时,能够有效减少矿物效应和粒度效应的影响,从而提高检测准确度;各元素在各自的含量范...     

激光烧蚀-电感耦合等离子体质谱法测定塑料中的Pb、Cd、Cr和Hg

采用激光烧蚀固体进样技术的电感耦合等离子体质谱法(LA-ICP-MS)测定了塑料中的Pb、Cd、Cr和Hg。选择了线扫描激光烧蚀方式,并从灵敏度和稳定性角度优化了工作参数。根据计算分馏因子考察了分馏效应,结果表明,所测元素分馏效应小。塑料中Hg的记忆效应严重,认为主要来自样品表面吸附,减小样品的表面积可减小Hg的记忆效应。以聚丙烯标准物质及其空白片作校准曲线,应用于ABS、PPS、PA66+30%GF、PVC、PTFE等实际塑料样品的测定,测定结果与ICP-OES(XRF)法测定值基本吻合。Pb、Cd、Cr和Hg的检测下限分别为0.002、0.001、0.08和1.5 mg/kg。     

气相色谱-质谱法测定电子电气产品塑料部件中有机锡

气相色谱-质谱法(GC-MS)测定电子电气产品塑料部件中一甲基锡(MMT)、二甲基锡(DMT)、一丁基锡(MBT)、二丁基锡(DBT)、三丁基锡(TBT)、一辛基锡(MOT)、二辛基锡(DOT)、三辛基锡(TOT)、三苯基锡(TPhT)。溶解于四氢呋喃的样品经四乙基硼酸钠水溶液衍生、沉淀后,以GC-MS定性定量检测。方法平均回收率为85.9%～107.2%,RSD低于10%。在9个电子电气产品塑料部件样品中,2个样品检出含有0.050%～0.212%的MMT及DMT,GC-MS与ICP-AES方法测得总锡含量分别为0.21%、0.18%,方法间无显著差异。     

合肥光源托歇克效应损失电子的探测

 束流寿命是衡量储存环性能的重要参数,直接影响着光源的正常运行。对于合肥光源（HLS）,托歇克（Touschek）寿命是影响束流寿命的重要因素。为了研究Touschek寿命,需要探测由于Touschek效应所损失的电子。介绍了束流寿命的概念,说明了Touschek效应的原理和机制,利用蒙特卡罗软件EGSnrc模拟计算了丢失电子与真空壁的相互作用,通过塑料闪烁体探测器和光电倍增管获得了由于Touschek效应丢失的电子所产生的信号,然后将信号经过放大甄别和符合处理后,用计数器测量了计数率。结果表明：由于Touschek效应而成对丢失的电子的确存在,且电子损失率随流强的降低而减小。这为下一步储存环的能量标定工作做好了前期准备。