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991.
二元光学反/衍混合Schmidt望远系统光学设计   总被引:4,自引:2,他引:2  
针对空间光学系统轻型的特点,采用衍射光学元件取代Schmidt校正板来校正系统像差,设计了一个二元光学反/衍混合Schmidt望远系统。光学系统的通光孔径为=200mm,相对孔径F/#=1.9,波长λ=4.3μm,视场2ω=10°。光学设计采用OSLOsix软件。光学设计结果:空间频率ν≤60cycles/mm时,调制传递函数MTF≥0.4。  相似文献   
992.
宓国柱  沈金英 《计算物理》1997,14(4):581-583
运用气盘和缓慢加速星风的混合模型,计算了由Be星和中子星组成的双星系统的X射线光度的变化,与VO332+53的观测资料作了较好的拟合。  相似文献   
993.
994.
995.
996.
儿童的铅中毒问题——I.彩色油墨中铅的测定   总被引:1,自引:0,他引:1  
用能量色散X射线荧光分析法测定了某厂生产的44种彩色油墨纸中的铅含量,结果发现,除5种油墨外,其它39种彩色油墨纸中的铅含量均比对照纸中高9倍以上。其中桔黄色、桔红色树脂胶版油墨高500倍以上,棕色树脂胶版油墨高379倍,深黄色和柠檬黄色树脂铅印版油墨分别高170和113倍,这表明,彩色油墨印刷品可能是儿童慢性铅中毒的重要污染源。  相似文献   
997.
薄膜结构分析中的低角X射线衍射方法   总被引:3,自引:0,他引:3       下载免费PDF全文
邵建达  范正修 《物理学报》1994,43(6):958-965
利用带折射修正的布喇格衍射定律和薄膜光学理论分析了低角X射线衍射谱中出现的一系列现象,导出了多层膜周期厚度和周期中不同材料间的配比率的计算公式,对多层膜的低角射线衍射谱中主峰间的次峰现象作出了解释,并对低角X射线衍射测量单层膜厚度进行了分析,给出了精确的测厚公式。  相似文献   
998.
吴敏春  徐至展 《光学学报》1990,10(11):61-969
本文采用Hartree-Fock自洽场方法,从理论上计算出类锂硅离子1s~2nl(n=2~7,l=0~5)各能级能量,并给出在极紫外(波长小于400(?))范围内各跃迁谱线的光谱性质、波长、振子强度和跃迁几率.对实验中已实现软X射线激光的跃迁(5d-3p,5f-3d,6d-3p,6f-3d),计算所得的跃迁波长与实验值完全相符.与现有文献的波长比较,相对误差不超过1%.  相似文献   
999.
刘波  阮昊  干福熹 《中国物理》2002,11(3):293-297
In this paper, the crystallization behaviour of amorphous Ge2Sb2Te5 thin films is investigated using differential scanning calorimetry), x-ray diffraction and optical transmissivity measurements. It is indicated that only the amorphous phase to face-centred-cubic phase transformation occurs during laser annealing of the normal phase-change structure, which is a benefit for raising the phase-change optical disk's carrier-to-noise ratio (CNR). For amorphous Ge2Sb2Te5 thin films, the crystallization temperature is about 200℃ and the melting temperature is 546.87℃. The activation energy for the crystallization, Ea, is 2.25eV. The crystallization dynamics for Ge2Sb2Te5 thin films obeys the law of nucleation and growth reaction. The sputtered Ge2Sb2Te5 films were initialized by an initializer unit. The initialization conditions have a great effect on the reflectivity contrast of the Ge2Sb2Te5 phase-change optical disk.  相似文献   
1000.
常压MOCVD生长Ga2O3薄膜及其分析   总被引:4,自引:0,他引:4       下载免费PDF全文
以去离子水(H2O)和三甲基镓(TMGa)为源材料,用常压MOCVD方法在蓝宝石(0001)面上生长出β-Ga2O3薄膜.用原子力显微镜(AFM)、X射线衍射(XRD)以及二次离子质谱(SIMS)实验表征Ga2O3外延膜的质量.在X射线衍射谱中有一个强的Ga2O3(102)面衍射峰,其半峰全宽(FWHM)为0.25°,表明该Ga2O3外延膜是(102)择优取向.在二次离子质谱中除了C、H、O和Ga原子外,没有观测到其他原子.  相似文献   
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