基于 MAT LA B的凸透镜成像规律的仿真

基于 MAT LA BGU I平台对凸透镜成像的规律及动态变化进行计算机仿真, 得到不同物距下凸透镜的 成像图像, 动态地呈现出像距与物距和焦距之间的变化关系. 仿真为中学凸透镜成像规律教学提供了直观的教学辅 助手段     

对重力加速度几种测量方法的比较研究

重力加速度g是物理学中的一个重要物理量, 它受物体所处位置的纬度、 海拔以及地质构造等因素影 响. 因此, 不同地区的g值一般都不相同. 就本科阶段的g值测量方法进行归纳总结, 结合实验室所能提供的仪器, 从单摆法、 自由落体运动法、 倾斜气垫导轨法以及平衡法4个测量g值的实验出发, 通过对其实验原理、 器材选择、 实验数据处理以及误差分析等方面进行比较和研究, 找出适合昆明地区实验室测量g值的最佳方法     

一种测声速的新装置

声速的测定是物理学中一个基础实验, 就目前而言已有多种测定方法可以供我们选择, 本文中介绍一 种测声速的简单新装置, 本装置通过声波的反射、 叠加, 利用钢管中液体的振动来测定声音在液体中的传播速度, 该 实验操作简单, 实验仪器精度高, 可行性高, 可以在物理教学中推广使用     

柳树病叶的傅里叶变换红外光谱研究

利用傅里叶变换红外(FTIR)光谱技术对三种柳树正常叶和病叶,同一枝条的幼叶、成叶、黄叶、病叶进行光谱测试,旨在分析柳树病叶发生的一些生理变化,并探讨柳树病变对系统聚类的影响。谱图显示不同阶段的叶片光谱变化主要在1800~800cm-1。对此波段进行二阶导数处理,清晰可看到蛋白质和木质素的叠加区域1700~1500cm-1,草酸钙特征峰1621、1318cm-1,糖类特征峰1075cm-1附近峰强有明显变化,用吸光度比A1621/A3390、A1318/A3390、A1075/A3390来比较草酸钙和糖类相对含量变化,用1700~1500cm-1波段的拟合峰面积比S酰胺I/S木质素、S酰胺Ⅱ/S木质素和S酰胺Ⅱ/S酰胺I来比较蛋白质相对含量变化。结果显示,病叶的草酸钙相对含量增加、多糖和蛋白质相对含量在减少。将叶片1800~800cm-1范围的二阶导数进行系统聚类,发现病叶化学成分的改变没有影响聚类效果,聚类正确率达100%。     

FTIR结合聚类分析法在姜科植物物种分类及鉴别中的应用

利用傅里叶变换红外光谱仪分别检测17种姜科植物的的光谱特征,并通过系统聚类和相关性系数法来探讨各植物间的亲缘关系。结果显示,聚类分析树系图和相关性分析结果相吻合,当花叶山姜和黑果山姜的距离系数为1(最小),相关系数为0.991(最高),亲缘关系最近。该研究得出同亚属植物间、野草果与山姜属植物属近缘种,支持了顶花莪术、温郁金在分类系统中的独立性,建议划分为独立种。聚类分析中姜科植物种间的聚合较好,物种鉴定正确率达到100%。因此,FTIR结合聚类分析法在姜科植物物种分类及鉴别中是一种可行性手段。     

HPS教学模式在物理学史教学中的应用--以库仑定律为例

库仑定律为高中物理选修31中第一章第2节的内容,基于新课标的要求,现将HPS教育模式应用于库仑定律的教学中,从科学史、科学哲学、科学社会学方面着手,让学生在库仑定律的发现历程中认识到本质内容,争取让学生在核心素养方面得到提升.     

4×n阶网络的等效电阻理论及实验研究

应用矩阵变换方法研究了4×n阶电阻网络侧端等效电阻,求解了差分方程组,并计算出n取有限值和趋于无穷大时,4×n阶电阻网络的等效电阻.用NI Multisim 10模拟软件对4×n阶电阻网络进行模拟实验测量,实验结果与理论值相符.     

缺陷态对4340钢-环氧树脂二维声子晶体带隙的影响

采用平面波展开法及平面波超元胞法研究缺陷态对4340钢-环氧树脂二维声子晶体带隙的影响. 以环氧树脂作为基底,把正方形结构排列的4340钢均匀的插入基底中,计算完整晶体、45°线缺陷态晶体、90°线缺陷态晶体、135°线缺陷态晶体、180°线缺陷态晶体的带隙. 结果表明,缺陷态的带隙宽度与完整晶体的带隙宽度相比最大可增大约31倍;对于不同的缺陷结构在F=0.1-0.9的范围内均有带隙出现且随着缺陷态角度的增大. 同时讨论带隙数目N,最低带隙相对宽度Δω/ω_g与填充率F之间的关系. 关键词： 缺陷态 带隙宽度 带隙数目     

光电门验证机械能守恒定律的误差修正

利用光电门验证机械能守恒定律的实验中,瞬时速度测量的准确性是决定实验成功的关键.文章通过对光电计时器的计时原理深入分析,提出两种测量"有效遮光宽度"的方法,提高光电门测量瞬时速度的精确度,对光电门验证机械能守恒定律的实验进行误差修正.     

基于K-Means算法的CMOS成像器件像元响应特性分类

由于生产工艺灰尘、坏像素等多种因素都会造成CMOS像元辐射响应特性不一致,影响成像系统的图像质量,因此,能够高效快速地测出异常像素的位置和大小是图像处理过程中必要的预处理技术。通过实验分析了固体成像器件像元的响应特性,提出了一种基于K-Means算法的CMOS像元响应特性分类方法,该方法根据像元像素值存在的差异,不仅能够有效地检测出异常像元,而且可以对异常像元进行分类。实验表明,该方法能有效地检测出CMOS器件中异常像元的位置,和异常像元区域大小与传统的"3σ"算法相比,该方法对异常像元区域查找速度快,定位准确。