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81.
间歇式高速同步相机新型全数字化微机控制系统   总被引:2,自引:2,他引:0  
曹剑中  高伟 《光子学报》1997,26(11):1050-1054
本文提出了一种间歇式高速同步相机的全新设计方法,介绍了系统的工作原理,硬件,软件设计以及核心控制算法,最后给出了实际应用结果。  相似文献   
82.
环状连续强激光下光学薄膜的瞬温和热畸变   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
详细研究了非冷却光学薄膜元件在环形激光光束辐照下的瞬态温度分布和随后的热畸变,并且用泰曼干涉仪实际测量了连续波氧碘激光辐照各种非冷却光学元件的热畸变量并与理论计算相比较,分析结果表明理论和实验相一致。  相似文献   
83.
介绍了机立窑鼓风机调速装置的工作原理和工作效果.提出了风机的选型原则。  相似文献   
84.
论述了高师图书馆实施综合素质教育的意义和挑战,提出了共建具有专业特色的教育基地、优化整合教育资源、全面推进素质教育等培养高素质人才,落实人才强国战略的新举措。  相似文献   
85.
提出了工艺规划系统中动态模式分类(pattern classification)的概念,介绍了模式分类判定树和动态模式分类的基本原理,并对动态模式分类的聚类质量标准进行了研究。动态模式分类是基于实例归纳(case based reasoning,CBR)的自动分类过程,具有自学习和自完善的功能。  相似文献   
86.
张显斌  施卫 《物理学报》2006,55(10):5237-5241
以MgO:LiNbO3为非线性光学介质,通过采用一种高性能腔反射镜实现了一种85mm短腔长的法布里-珀罗式的光学参量振荡器,产生THz电磁波的实验结果.这种短腔长THz参量振荡器比传统的160mm腔长的振荡阈值降低了22.3%;峰值能量提高了170%;频率调谐范围从0.5—2.4THz提高到0.8—3.1THz.还报道了一种基于平面金属丝网的法布里-珀罗干涉仪测量THz波线宽的实验结果. 关键词: THz电磁波 OPO 非线性光学 3')" href="#">LiNbO3  相似文献   
87.
四角晶相HfO2(001)表面原子和电子结构研究   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
卢红亮  徐敏  陈玮  任杰  丁士进  张卫 《物理学报》2006,55(3):1374-1378
采用基于第一性原理的密度泛函理论研究了四角晶相二氧化铪(t-HfO2)体相及 其(001)表面的原子几何与电子结构.理论计算结果表明,t-HfO2(001)表面不会 产生重构现象.与体相电子结构相比, t-HfO2(001)表面态密度明显高于体相态 密度.其次,表面原子的态密度更靠近费米能级(EF),价带往低能量处移动,并 有表面态产生.计算结果表明了t-HfO2表面禁带宽度明显低于体相的禁带宽度. t-HfO2(001)的表面态产生以及表面禁带宽度减小是由于Hf原子与O原子的配位 数减少,表面原子周围的环境发生变化而引起的. 关键词: 密度泛函理论 2(001)')" href="#">t-HfO2(001) 表面电子结构  相似文献   
88.
This paper studies the nonautonomous nonlinear system of difference equationsΔx(n)=A(n)x(n)+f(n,x(n)),n∈Z,(*) where x(n)∈R~N,A(n)=(a_(ij)(n))N×N is an N×N matrix,with a-(ij)∈C(R,R) for i,j= 1,2,3,...,N,and f=(f_1,f_2,...,f_N)~T∈C(R×R~N,R~N),satisfying A(t+ω)=A(t),f(t+ω,z)=f(t,z) for any t∈R,(t,z)∈R×R~N andωis a positive integer.Sufficient conditions for the existence ofω-periodic solutions to equations (*) are obtained.  相似文献   
89.
烟气中Hg的氧化机理的研究   总被引:7,自引:1,他引:6  
本文对Hg与Cl2在烟气中的氧化反应进行了热力平衡计算和动力学计算。平衡计算的结果表明有CI元索存在时Hg的氧化率为100%,而在相同的条件下动力学计算纺果为Hg的氧化率在20%~80%之间变化,与实验结果吻合。实际的氧化反应是一种超平衡状态,不能达到理想的平衡状态。因此应采用动力学与热力平衡分析相结合的方法研究Hg在烟气中的反应机理。同时,计算结果显示Cl含量对Hg的氧化率的影响很大.  相似文献   
90.
利用室温下压电调制反射光(PzR)谱技术系统测量了N掺杂浓度为0.0%—3%的分子束外延生长GaNxAs1-x薄膜,并对图谱中所观察的光学跃迁进行了指认.在GaN0.005As0.995和GaN0.01As0.99薄膜的PzR谱中观察到此前只在椭圆偏振谱中才看到的N掺杂相关能态E11N.当N掺杂浓度达到 关键词: 压电调制反射光谱(PzR) xAs1-x薄膜')" href="#">GaNxAs1-x薄膜 分子束外延(MBE)  相似文献   
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