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41.
以系统论为理论依据,在计算机上进行试验和分析,研究了输入件的设计要求和方法。研究表明:后处理输入件要设计后处理硬件类型、图形件(*.ps)的输出模式和镜像输出条件等总则,要确定输出内容包括网格划分和性能计算结果两个大的方面,网格划分的输出可以按平面图和三维图两种类型输出。性能等高线图和矢量图可以按正平面图和斜平面图的类型输出,网格图和性能图均按仿真计算的曲轴转角(时间)输出。 相似文献
42.
双掺(Tm3+,Tb3+)LiYF4激光器1.5 μm波长激光阈值分析 总被引:1,自引:0,他引:1
由速率方程推出了双掺(Tm^3 ,Tb^3 )离子准四能级系统的激光阈值解析式,讨论了Tm^3 和Tb^3 离子之间的相互作用。分析了1.5μm波长附近的激光阈值和Tm^3 、Tb^3 离子的掺杂原子数分数及晶体长度的关系。结果表明,对于对应Tm^3 离子^3H4→^3F4跃迁的约1.5μm波长的激光,激活离子Tm^3 的掺杂原子数分数过大时,交叉弛豫作用将使系统阈值迅速增加。Tb^3 离子的加入,一方面能抽空激光下能级,起到降低阈值的作用;另一方面亦减少了激光上能级的寿命,使阈值升高。故Tb^3 离子有最佳掺杂原子数分数。对于Tm原子数分数为y=0.01的Tm:LiYF4晶体,Tb^3 离子的最佳掺杂原子数分数为0.002左右,同时表明,激光阈值与晶体长度有关。最佳晶体长度与Tm^3 、Tb^3 离子的掺杂原子数分数以及晶体的衍射损耗和吸收损耗有关。 相似文献
43.
超声波在还原染料染色中的应用研究 总被引:12,自引:0,他引:12
本文是继文献[1]、[2]之后,对超声波染色进行理论分析的实践证明之后,以还原染料上染纯棉织物的小试入手,讨论了超声波对还原染料染色的可能性。结果表明,采用超声波染色技术,不但可以提高染料的上染百分率,增加匀染、透染性,还可以实现织物的低温短时间染色,同时还可以采用较少的染料获得实验所要求的色泽深度。具有广阔的发展前景。 相似文献
44.
有势场逆问题的边界元法 总被引:5,自引:0,他引:5
本文给出了位势方程逆问题的一种最小二乘边界元解法。控制方程为Laplace方程,但一部分边界上未给出任何边值,而只在某些内点上给出了势函值。这一问题在数学上属不适定问题,但在一定条件下存在唯一解。本文同时给出了一种估计解的可靠性的方法。数值试验表明,这类逆问题采用边界元法是非常有效的。 相似文献
45.
46.
研究了RE_Mg合金对固体粉末法硼、铬、铝共渗层成分、组织和性能的影响 .发现随着RE_Mg合金加入量的增加 ,渗层中Al2 O3的量不断增多 ,当RE_Mg合金加入量为 5 %时 ,渗层中出现连续致密分布的Al2 O3黑区组织 ,对此进行了性能测试和机理探讨 相似文献
47.
论述了高师图书馆实施综合素质教育的意义和挑战,提出了共建具有专业特色的教育基地、优化整合教育资源、全面推进素质教育等培养高素质人才,落实人才强国战略的新举措。 相似文献
48.
在图像相关位移测量方法中一般采用正方型子区搜索中心点的位移.当测量靠近裂纹或缺陷部位的位移时中心型子区失去效果,为了解决这一问题提出了非中心型子区的方法.证明了方法的有效性.认为在相关搜索时测量点既可选定在子区的中心位置,也可选定在非中心位置.进而提出了将测量点确定在子区角点的多种子区的方法.除通常的中心型子区外,至少还有4种子区可以采用,分别是右下角型、左下角型、右上角型和左上角型,这4种子区不但适用于表面裂纹或缺陷部位的位移测量,而且增加了图像有效信息的提取面积. 相似文献
49.
采用Agilent 81910A光子全参量测试仪,首次实验研究了InP/In1-xGaxAs1-yPy-MQW(Multiple-Quantum-Well,MQW)材料与衬底间因应力而产生的M-Z型光调制器的PDL影响以及由此引起的由差分群时延(Differential Group Delay,DGD)表征的偏振模色散(Polarization Mode Dispersion,PMD).研究结果表明,半导体MQW光调制器的PDL与DGD是一致的.因此在半导体光器件的制作过程中,应尽可能地减小衬底与波导芯层之间的因残存应力的存在造成对光器件的高速性能的不利影响. 相似文献
50.