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11.
本文采用脉冲激光沉积方法在LaAlO3(001)单晶衬底上制备了反钙钛矿GaCMn3薄膜,通过控制制备过程中脉冲激光的能量,研究了不同激光能量条件对GaCMn3薄膜结构与物理性能的影响.分别利用X射线衍射仪、原子力显微镜、超导量子干涉仪和物理性能测试系统,对所制备的薄膜的晶体结构、表面形貌和磁性、电输运性质进行了研究.结果表明,制备的样品均为具有多个晶面取向的反钙钛矿薄膜,且薄膜结构和物性明显随制备激光能量的变化而变化.当激光能量为450mJ时,制备的薄膜多晶面取向性最弱,结晶性和表面形貌最优良.实验所得的薄膜均表现出顺磁-铁磁-反铁磁相转变,然而转变过程比块材较平缓,同时薄膜的电阻率并未表现出块材中的突变特征,我们推测该现象很可能是由衬底的应力及衬底的晶格膨胀对薄膜反常晶格变化的抑制作用造成的. 相似文献
12.
对石英音叉增强型光声光谱(QEPAS)系统中常用的石英音叉进行了有限元模态计算,获得石英音叉前6阶振型与模态频率,认知了第4阶对称摆动振型为有效振动,利用单因素法分析了石英音叉的音臂长度l1、音臂宽度w1、音臂厚度t、音臂切角θ、音臂圆孔直径d及音臂圆孔高度h对低阶有效共振频率(Fre)的影响,敏感度依次为: l1> w1>d>θ>t>h,考虑实际设计情形,筛选出了l1,w1,d与h四个石英音叉设计变量,采用Box-Behnken实验设计方案与RSM(response surface methodology)方法,以Fre为函数目标,建立l1,w1,d与h的二次回归响应面模型,得到了参数之间的交互作用,利用Design-Expert软件对响应面模型进行设计参数反求,结果表明,在15 000 Hz≤Fre≤25 000 Hz计算区域内误差较小,基本满足QEPAS系统的计算需求,所提出的研究与设计方法具有一定通用性,可为QEPAS系统中石英音叉结构参数设计提供参考。 相似文献
13.
分析前人对零被引的研究成果发现,"零被引"的定义可能存在一定的局限,即只考察同类数据库中的引用情况。分析CSTPCD 2009-2012年的科技论文与引文发现,期刊论文引用了大量的技术专利。存在专利数据库中的"零被引专利"在科技论文中却有较高的引用次数。以其中1件"零被引专利"CN 01134280.3为例,从技术内容解读、10篇施引文献及其内容分析,展示了该项技术发明影响的研究主题,并通过文献调研解析了该项研究成果的工业化应用。基于钱学森的"基础科学-技术科学-工程科学"理论,探讨了使用较高科技论文引用次数的"零被引专利"及较高专利引用次数的"零被引论文"定量分析技术科学的可能性。 相似文献
14.
搪瓷釉的烧成过程是一种“液相烧结”过程,其传质有赖于熔体的粘性流动。根据玻璃态物质化学组成-结构-粘度-温度的一般关系,推导出计算瓷釉烧成温度(T烧)的经验公式。 相似文献
15.
基于矩阵解方程的理论,定义出了一个化学元素矩阵,从而找到了一种配平化学方程式的新方法,称之为矩阵解法。 相似文献
16.
重油催化装置反应系统的技术改造 总被引:1,自引:0,他引:1
为了减少炼油厂高低并列式两段再生重油催化裂化装置频繁停工 ,降低干气产率 ,提高加工能力和掺渣能力 ,兰州石化公司炼油厂对该装置进行了技术改造 ,同时多产了液态烃和柴油 .新鲜原料和回炼油改由 BWJ型高效雾化进料喷嘴注入 ,沉降器由原来的三叶快分换为全封闭直联快速分离系统 ,在原来采用急冷油作终止剂的基础上 ,新增急冷水 .通过改造 ,有效地降低了干气产率 ,减少了结焦 ,增加了轻质油收率 ,提高了装置的加工能力、掺渣能力及柴汽比 ,较好地实现了预期目标 相似文献
17.
以系统论为理论依据,在计算机上进行试验和分析,研究了输入件的设计要求和方法。研究表明:后处理输入件要设计后处理硬件类型、图形件(*.ps)的输出模式和镜像输出条件等总则,要确定输出内容包括网格划分和性能计算结果两个大的方面,网格划分的输出可以按平面图和三维图两种类型输出。性能等高线图和矢量图可以按正平面图和斜平面图的类型输出,网格图和性能图均按仿真计算的曲轴转角(时间)输出。 相似文献
18.
超声波在还原染料染色中的应用研究 总被引:12,自引:0,他引:12
本文是继文献[1]、[2]之后,对超声波染色进行理论分析的实践证明之后,以还原染料上染纯棉织物的小试入手,讨论了超声波对还原染料染色的可能性。结果表明,采用超声波染色技术,不但可以提高染料的上染百分率,增加匀染、透染性,还可以实现织物的低温短时间染色,同时还可以采用较少的染料获得实验所要求的色泽深度。具有广阔的发展前景。 相似文献
19.
20.
在图像相关位移测量方法中一般采用正方型子区搜索中心点的位移.当测量靠近裂纹或缺陷部位的位移时中心型子区失去效果,为了解决这一问题提出了非中心型子区的方法.证明了方法的有效性.认为在相关搜索时测量点既可选定在子区的中心位置,也可选定在非中心位置.进而提出了将测量点确定在子区角点的多种子区的方法.除通常的中心型子区外,至少还有4种子区可以采用,分别是右下角型、左下角型、右上角型和左上角型,这4种子区不但适用于表面裂纹或缺陷部位的位移测量,而且增加了图像有效信息的提取面积. 相似文献