采用Seemann－Bohlin准聚焦X射线衍射仪测量薄膜厚度的误差理论分析

本文从理论上分析了衍射强度比偏差Δ（Ｉ／Ｉ∞）和衍射峰位偏差Δ２θ对Ｓｅｅｍａｎｎ－Ｂｏｈｌｉｎ准聚焦Ｘ射线衍射仪测量表面单层薄膜厚度误差的影响。分析结果表明，降低Δ（Ｉ／Ｉ∞）可提高膜厚的测量精度，在Δ（Ｉ／Ｉ∞）－定的情况下，按μρｔ［Ｓｉｎ（－１）γ＋Ｓｉｎ（－１）（２θ－γ）］＝１选择靶辐射和衍射晶面可使由Δ（Ｉ／Ｉ∞）导致的膜厚测量误差具有极小值；选择高角度衍射线有助于减小试样离焦引起的衍射峰位偏差，亦可降低因衍射角测量偏差导致的膜厚测量误差，当衍射线处于薄膜的法向２θ＝γ＋π／２时，角度项误差（Δｔ／ｔ）（２θ）完全消除。     

采用Seemann—Bohlin准聚焦X射线衍射仪测量薄膜厚度的误差理论分析

本文从理论上分析了衍射强度比偏差Δ（Ｉ／Ｉ∞）和衍射峰位偏差△２θ对Ｓｅｅｍａｎｎ－Ｂｏｈｌｉｎ准聚焦Ｘ射线衍射仪测量表面单层薄膜厚度误差的影响。分析结果表明，降低Δ（Ｉ／Ｉ∞）可提高膜厚的测量精度，在Δ（Ｉ／Ｉ∞）一定的情况下，按μρｔ［Ｓｉｎ＾－１γ＋Ｓｉｎ＾－１（２θ－γ）］＝１选择靶辐射和衍射晶面可使由Δ（Ｉ／Ｉ∞）导致的膜厚测量误差具有极小值；选择高角度衍射线有助于减小试样离焦引起的衍射     

α射线在磁场和电场中偏转的早期实验

对放射性物质所发出的α射线的东质所进行的探索人约经历了10年(1898-1908)的漫长历程.其中,关键而又首要的一步是α射线的粒子性的证实.它是通过卢瑟福(Ernest Ru-therford 1871-1937)在 1902年秋天所作的α射线在磁场和电场中偏转的实验所完成的.这些实验曾被N·费瑟(Normann　Feather)誉为整个科学史上最惊人的实验之一[1]. 卢瑟福于1902-1903年期间,对放射性的本质和起因进行了实验上的研究和理论上的探索,与索迪(F.Soddy)合作发现了放射性衰变规律.这一蜕变理论又开拓了两个新的领域:不同放射性物质之间本质的联系和放射性变化中所…     

线形同轴耦合式微波等离子体CVD法硬质合金微型钻头金刚石涂层沉积

本文介绍了利用线形同轴耦合式微波等离子体CVD法在硬质合金微型钻头(微钻)上沉积金刚石涂层的初步实验结果.微型钻头的直径为0.5mm,其中WC晶粒的尺寸约为0.5μm.在沉积前,先用Murakami溶液(10gKOH+10gK3[Fe(CN)6]+100ml H2O)对微钻刻蚀10min,使其表面粗化,然后用硫酸-双氧水溶液(10ml98wt;H2SO4+100ml 38;m/vH2O2)对其浸蚀60s,以去除其表面的Co.在金刚石涂层过程中发现,由于微钻尖端在微波电磁场中产生较集中的辉光放电现象,因而在微钻尖端很难获得金刚石涂层.针对这种金刚石涂层过程中的"尖端效应",尝试使用了金属丝屏蔽的方法以改变微钻周围的微波电磁场分布,克服了上述金刚石涂层过程中的"尖端效应",首次成功地采用微波等离子体CVD法在微钻上沉积了厚度为1.5μm的金刚石涂层.     

2-取代苯并咪唑类化合物的合成、结构和性质研究

目的基于TiO2光催化性能的染料敏化改性,采用噻吩醛和邻苯二胺缩合反应,合成1-(2-噻吩亚甲基)-2-(2-噻吩基)苯并咪唑及其配合物。方法在稀土金属盐模板剂的作用下,合成得到了1-(2-噻吩亚甲基)-2-(2-噻吩基)苯并咪唑。结果合成了目标产物及其相应的配合物,并且通过单晶结构进行结构表征,用元素分析,红外,热重,固体荧光等进行性质表征。结论在配体合成方法上有一定的创新和突破,该制备方法简便易行,且产物较纯,无副产物,产率高,没有环境污染。     

"空中王牌"走麦城

2000年12月11日晚,一架美海军陆战队的 MV-22“鱼鹰”在加利福尼亚进行训练时坠毁,4名机组人员全部遇难。这是继2000年4月8日一架“鱼鹰”在进行作战评定飞行中突然坠毁,造成19人丧生后的又一严重事故。短短的10个月时间,这种被称作是集中了当今大多尖端飞行技术于一身的高科技产品连续发生两起灾难性事故。联想20世纪90年代以来的几场局部战争,不论是在海湾,还是在波黑,乃至于在科索沃,F-15、F-16、F-117A 等高科技战鹰是何等的气派,又是何等的威风,那么今天,它们又是怎么了?为什么屡摔不断,事故频仍?     

微软新首席执行官巴尔默

现在巴尔默已是软件业巨人微软的首席执行官,他是否有能力带领公司以最佳方式处理好微软垄断案,为公司再造辉煌,为世人所关注。 巴尔默—— 微软冲出重围的希望 史蒂夫·巴尔默的最广为人知的一句话可能是:“跟让·雷诺法官耗到底！”那是在1997年,政府对微软提起了反垄断诉讼。     

CCD相机对14 MeV和2.5 MeV中子瞬态响应特性

从理论上分析了中子在CCD相机拍摄图像中引起的瞬态干扰噪声的机理,并针对两种不同类型的CCD相机,在能量为14 MeV和2.5 MeV的低强度稳态中子源上开展了实验研究,分析了噪声特征与入射中子能量、入射角度、注量及CCD相机结构的关系。实验结果表明中子瞬态干扰噪声主要表现为脉冲噪声,且出现斑点现象,与理论分析结果相吻合。研究得出了噪声特征随入射中子注量变化的规律,比较了不同能量及不同入射角条件下的噪声特性,并分析了两种不同结构的CCD相机响应特性的差别。