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无声放电对聚酯织物表面的等离子体接枝改性 总被引:8,自引:0,他引:8
利用无声放电方法对聚酯(PET)纤维表面进行接枝改性,为改善聚酯织物的染色性能提供了一条新途径,傅里叶红外光谱(FTIR)和X射线光电子能谱(XPS)表明,PET纤维经无声放电引发气相接枝丙烯酸改性后,表面的羰基、羟基和羧基等极性基团增加,氧碳摩尔分数比增大。扫描电镜(SEM)观察发现纤维表面粗糙度随放电时间增加而增大,改性后的涤纶对碱性染料的上染率有所提高。 相似文献
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分析了在ECR-MOCVD装置上外延长生长GaN单晶薄膜的工艺过程特点和在此过程中影响GaN结晶质量的主要因素,在此基础上,设计了一套由80C31单片机为核心的光电隔离电路和PC机组成的两级系统,用于GaN薄膜外延生长的工艺流程监控,并提出了一种合适的工艺流程监控策略,阐述了如何从软件上确保工艺流程的连续可靠运行。实践证明,轮硬件系统设计合理、抗干扰措施完善,很好地保证了工艺流程的连续可靠运行,实验数据的可靠性和工艺流程的可重复性也大大提高,并以类似系统的工艺过程自动化设计具有一定的指导借鉴意义。 相似文献
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常压辉光放电的建立及其特性实验研究 总被引:7,自引:0,他引:7
常压辉光放电(APGD)是新近发展起来的一种等离子体源,与低气压辉光放电相比更具有工业应用前景,本文详细介绍我们实验室在大气压条件下建立的均匀稳定、介质垒同辉光放电等离子体发生装置,该放电发生采用频率为10kHz和20kHz高压电源、平板电极,民彬覆盖绝缘层,间隙2-3mm,可在多种气体环境下稳定运行,放电电流波形和电压一电荷李萨如图形的测量充分表明它确实是常压下的均匀辉光放电。 相似文献
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在简单磁镜MM-2中,采用15GHZ大功率迴旋管进行了电子迴旋共振加热(ECRH)实验。结果表明,随充气压强的提高,预电离时间迅速变短。在高气压“C-模式”运行区,等离子体径向密度分布呈马鞍形。在迴旋管输出30kW功率的条件下,适于建立热电子环的气体压力窗为(0.4—1.2)×10-5Torr。利用一个可移动Laugmuir探针配合反磁测量的简便方法,在中心场为2.95kG时,确定了电子环半径为7cm,环厚约4cm,环的轴向边界由z=±10cm一直延伸到z=±20cm。热电子温度为140—170keV,热电环平均β值为(4—5)%。观测到了由热电子环不稳定性引起的迸发式径向电子逃逸,并同时发生反磁信号跌落。 相似文献
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为了对GaN薄膜低温生长提供更多的活性氮,在一个腔耦合电子回旋共振(ECR)半导体加工装置上,用朗谬探针和二次微分理论,研究了氮ECR等离子体的实际电子能量分布。发现它们都是非麦克斯韦分布,含有高能电子,而且随着放电气压的下降和微波功率的增加,高能电子成分增加。 相似文献
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采用电子回旋共振等离子体增强金属有机物化学气相沉积(ECR-PEMOCVD)技术,在c轴取向的蓝宝石即α Al2O3(0001)衬底上,以氮化镓(GaN)缓冲层和外延层作为初始层,分别以高纯氮气(N2)和三甲基铝(TMAl)为氮源和铝源低温生长氮化铝(AlN)薄膜.并利用反射高能电子衍射(RHEED)、原子力显微镜(AFM)和x射线衍射(XRD)等测量结果,研究了氢等离子体清洗、氮化和GaN初始层对六方AlN外延层质量的影响,从而获得解理性与α Al2O3衬底一致的六方相AlN单晶薄膜,其XRD半高宽为1
关键词:
AlN
氢等离子体清洗
氮化
GaN 相似文献
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对带有多电流峰的常压He气均匀介质阻挡放电与常压N2气均匀介质阻挡放电的伏安特性进行了实验分析. 分析结果表明:实验结果与模拟结果相符. 在带有多电流峰的常压He均匀介质阻挡放电中,辉光放电模式和汤森放电模式可以共存于一个多电流放电序列内. 此外,在放电电流增长阶段,可以根据常压均匀介质阻挡放电的伏安特性曲线的微分电导来判断均匀介质阻挡放电的放电模式. 在放电电流增长阶段,如果电流脉冲的伏安特性曲线呈现负微分电导,则电流脉冲为辉光放电模式;如果呈现正微分电导,则为汤森放电模式. 由此可以判断,常压N2气均匀介质阻挡放电为汤森放电模式.
关键词:
伏安特性
辉光放电模式
汤森放电模式
常压均匀介质阻挡放电 相似文献
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利用电子回旋共振-等离子体增强金属有机物化学气相沉积 (ECR-PEMOCVD)方法,采用二茂锰(Cp2Mn)作为Mn源,高纯氮气作为氮源,三乙基镓(TEGa)作为Ga源,在蓝宝石(α-Al2O3)(0001)衬底上外延生长GaMnN稀磁半导体薄膜.反射高能电子衍射(RHEED)、X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)表征了GaMnN薄膜的晶体结构和表面形貌.GaMnN薄膜均表现出良好的(0002)择优取向,表明制备的薄膜倾向于
关键词:
GaMnN薄膜
稀磁半导体
铁磁性
居里温度 相似文献
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利用电子回旋共振-等离子体增强金属有机物化学气相沉积 (ECR-PEMOCVD)方法,采用二茂锰(Cp2Mn)作为Mn源,高纯氮气作为氮源,三乙基镓(TEGa)作为Ga源,在蓝宝石(α-Al2O3)(0001)衬底上外延生长GaMnN稀磁半导体薄膜.反射高能电子衍射(RHEED)、X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)表征了GaMnN薄膜的晶体结构和表面形貌.GaMnN薄膜均表现出良好的(0002)择优取向,表明制备的薄膜倾向于 相似文献