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明确了辐射的非成像测量和成像测量之间的差异并给出数学表述, 才能够把已经成熟的非成像辐射测量方法推广至成像测量. 本文从辐射测量的基本公式以及成像下目标微元与传感阵列像素的对应关系出发, 分别建立了关于辐射的非成像和成像测量式.根据成像面的存在不会改变辐射传输的事实, 比较非成像测量式和成像测量式后, 可得到成像效应的数学表述. 把成像效应与针孔和透镜两种成像技术结合后的分析指出: 成像效应的主因是成像光轴角, 辅因是测量天顶角; 辅因作用的大小取决于测量天顶角与发射天顶角的差异度.
关键词:
辐射测量
辐射测温
成像效应 相似文献
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程晓舫 《中国科学技术大学学报》1998,28(4):455-460
论述了HODOLIC计算机图像监控报警系统的总体设计方案,介绍了各个子系统的工作、功能及其控制方案,以及火灾探测和防范监视的设计思想,并且介绍了系统目前的基本技术指标. 相似文献
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表面辐射测温方法的设计原理 总被引:3,自引:0,他引:3
讨论了表面辐射测温方法的设计中所包含的几个基本问题:辐射的光谱和方向复杂性问题、光学设计问题以及电路设计问题,给出了具有普适意义的辐射测温基本分析式。比较了绝对辐射测温方法和相对辐射测温方法,指出前者须做标定,并且不宜进行温度场测量;后者无须标定,适合于温度场测量。 相似文献
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利用仿真技术理论对工业炉内燃烧过程进行模拟,仿真过程所得到的湍流模型和数值方法可供工业炉设计和技术改造参考使用。 相似文献