二维光子晶体中极化原子自发辐射的开关效应

利用二维光子晶体的各向异性，结合原子的偶极辐射能量分布特点，提出通过改变原子的极化方向，可以使其自发辐射寿命显著地缩短或者延长，实现开关控制．发现在某些空间位置上，极化原子寿命的改变可高达33倍．     

三甲基硅、三甲基锗和三甲基锡取代的一系列芘衍生物的紫外吸收和荧光性质

被三甲基硅(Me3Si-)、三甲基锗(Me3Ge-)和三甲基锡(Me3Sn-)取代的芘衍生的紫外吸收波长和未取代的芘相比较,波长红移.一,二,三,四取代三甲基硅芘最大吸收波长红移小于10nm.荧光强度和周期按Me3SiAr＞Me3GeAr＞Me3SnAr顺序减弱.1,3,6,8-四-三甲基硅芘的荧光强度在一系列芘衍生物中是最大的.     

PDT光敏剂HA在不同液相体系下的光谱特性研究

为了对候选光敏剂竹红菌甲素(HA)进行改性并保持其优异的敏化特性,对HA的光谱特性和激发态性质作了进一步的指认。系统研究了HA在不同液相体系下的吸收和荧光光谱,对指认HA的光谱和电子跃迁的机制提出了新的依据,结果表明,吸收带I产生于π-π*跃迁,吸收带Ⅱ和Ⅲ产生于P-π共轭所导致的L→aπ跃迁的电子振动结构;荧光发射带I和Ⅱ是产生于同一跃迁机制S1(L,aπ)→S0的正常荧光的振动结构。     

普通物理综合设计实验课教学方法改革初探

开设普通物理综合设计实验课程目的在于培养学生动手能力、分析问题解决问题能力和创新能力。本文以首都师范大学物理系开设的普通物理综合设计实验为例讨论了具体的教学方法和过程,首先通过设计大量的预习思考题提高学生预习的针对性和预习效果,通过分组讨论来理解实验原理,并给出设计思路,最后通过实际实验锻炼学生的动手能力。该方法取得了良好的教学效果。     

经典静电学史与现代静电技术

静电学是电学中最古老的学科，现在静电应用技术和静电防护技术已越来越受到人们的重视，对经典静电学和一较为详细的问题的回顾是有意义的，文章综述了经典静电学的发展及其在物理学中所起的作用，概括了１６世纪到的１９世纪科学家对静电现象和静电规律的研究及本世纪静电技术的发展概况２。     

一个新的IEC61000-4-2标准ESD电流解析表达式

 分析了两个ESD标准电流波形表达式，并提出一个新的基于脉冲函数来描述ESD标准电流的解析表达式，该表达式符合最新的标准IEC61000-4-2，在零时刻的电流及其微分部为0，且波形与实际测量波形基本吻合。     

ZrV2-xPxO7固溶体的相变与热膨胀性质的研究

本文采用固相烧结法制备了ZrV2-xPxO7@=0,0．2,0．4,0．6,0．8,1）系列材料．粉末X射线衍射（XRD）分析表明,所制备材料的结构为单一立方相．应用变温拉曼光谱研究该材料相变,变温拉曼光谱研究结果表明,材料起始相变温度随着P5＋替代V5＋量的增加逐渐降低,x=0,0．4,0．8,1对应的相变温度分别为383K,363K,273K,213K．热膨胀测试结果表明：随着P替代量的增加正一负膨胀转变温度先降低后增加,x=0,0．2,0．4,0．6,0．8,1对应的正一负膨胀转变温度分别为429K,403K,372K,390K,398K和435K．本文指出了该系列材料存在两个相变过程,为设计和制备ZrV2O7基室温附近的负热膨胀材料奠定了良好的基础．     

工业X射线机的射束均匀性检验

在与法国某公司的合作项目中,对射线机的性能做了充分的评估,针对工业X射线机射束均匀性的检验给出了实验内容、过程和结果分析。实验所用射线机分别为ISOVOLT320/13与XYD-225/10,两台设备的实验结果均符合该公司质控文件规定,满足黑度差不超过0.3的要求。定期对射线机进行射束均匀性检验,将有利于监测射线机的工作状态,以保证检测工作的准确性和一致性。     

SPE逐步分离技术应用于常用果蔬防腐保鲜剂残留量检测的研究

建立固相萃取逐步分离-紫外分光光度法测定果蔬中残留的噻苯咪唑、邻苯基苯酚、联苯的检测方法。样品经高速涡轮旋转石油醚∶乙酸乙酯(2∶1)提取,30%甲醇溶液上样,C18固相萃取柱富集、净化、分离三种残留防腐剂,分别采用30%乙醇(酸,pH 2.5)溶液、55%甲醇(碱,pH 11.5)溶液、75%乙醇(酸,pH2.5)溶液依次洗脱分离固相柱中被保留的噻苯咪唑、邻苯基苯酚、联苯,对洗脱液进行紫外分光光度法检测。结果表明:三种防腐剂在1～10μg.mL-1的范围内呈良好线性关系,相关系数r>0.999 8。样品加标回收率为72.1%～103.5%,相对标准偏差在1.2%～7.7%,样品最低检测限分别为0.09,0.5和0.1μg.mL-1。该方法简便、灵敏、快速,能够满足同时测定果蔬中防腐剂残留量的要求。     

Effect of micro-dimple patterns on capillary pull-off force and friction force of silicon surface

A microtribometer is used to measure and compare pull-off forces and friction forces exerted on (a) micro-dimpled silicon surfaces, (b) bare silicon surfaces, and (c) octadecyltrichlorosilane (OTS) treated silicon surfaces at different relative humidity (RH) levels separately. It is found that above a critical RH level, the capillary pull-off force increases abruptly and that the micro-dimple textured surface has a lower critical RH value as well as a higher pull-off force value than the other two surfaces. A micro topography parameter, namely sidewall area ratio, is found to play a major role in controlling the capillary pull-off force. Furthermore, micro-dimpled silicon surface is also proved to be not sensitive to variation in RH level, and can realize a stable and decreased friction coefficient compared with un-textured silicon surfaces. The reservoir-like function of micro dimples is considered to weaken or avoid the breakage effect of liquid bridges at different RH levels, thereby maintaining a stable frictional behaviour.