非线性介质F－P干涉仪光束输出特性的理论研究

本文对准直光束射入含有非线性介质的Ｆ－Ｐ干涉仪内的光场分布进行了研究．由于非线性介质与光的作用，从Ｆ－Ｐ干涉仪出射的光束截面上的相移随位置的改变呈一定的分布，进而引起了干涉仪的透射率和输出光束重新分布。当干涉仪两个面的反射系数较大时，输出光束截面出现光强和相移的跃变．这种现象与以前在平面波假设下所得的光强分布所得结论有较大的不同．     

用沸点仪测定纯液体的饱和蒸气压

纯液体饱和蒸气压的测定是物理化学实验中的一个常规实验,通常用等压计法测定。在一定条件下,这种方法能得到满意结果,但在学生实验中往往误差较大,有时甚至失败。分析原因,我们认为主要是温度不平衡造成,抽气沸腾时液体气化带走气化热使自身温度降低,由于玻璃传热不良,被测液体又处于静止状态,液体和水温度达到平浴衡需要较长时间。如果实验中频繁抽气沸腾,平衡时间不足,盲目地以水温度代替体浴系温度,所得结果将误差甚大。我们用图<1>的装置摸拟等压计的条件,发现短时间抽气沸腾后即有3度多的温差(稍长时间可达10度以上)平衡10分钟后仍有明显的温差。因此严格操作时比较费时,测量点不易作多。测量体系也有一定的限制     

矩形谐振腔内正交双模的控制和应用

本文提出了一腔双模矩形开口腔的近似理论,再用金属栅条来控制腔体内两个接近简并的模,使腔外物体只对其中一个模产生做扰(称该模为工作模),而对另一个模不产生微扰(称为参考模)。从理论上可以通过测量双模的谐振频率之差地f₁-f₂=△f及双模的有载Q值之差Q_^L1-Q_L2=△Q这两个参数来确定腔外物体的两个参数,例如,此物体的含水量及其温度。利用这个原理做出的微波检测设备(例如测湿设备)就可以直接在较差的环境下工作。文中还近似地计算了矩形波导端面开一个对称的矩形窗口的归一化等效导纳,并测试了样本谐振腔作为传感器。结果表明,它可以用于工业生产,作为连续测试的可携带式仪表。     

THE CAPACITANCE STEP IN A RECTANGULAR WAVEGUIDE SYSTEM

The problem of calculating the step capacitance between two rectangular waveguides of the same width but of different heights seems to be an old one. One family of curves in Marcuvitz's celebrated Waveguide Handbook has aroused the author's interest to investigate thisproblem anew. The classical method of field matching is employed to set up the formal solution, however, as the final answer, an average process is adopted to arrive at a closed form formula that can be treated numerically with ease. An example with an accuracy of about 1％ is given.     

论二次欧氏域■d~(1/2)(d≡3(mod4)中代数整数β有原根的条件

我们知道二次域K=(d~(1/d))(为有理数域为欧氏域,当且仅当d 为(参看文献[7]): -11;-7;-3;-2;-1;2;3;5;6;7;11; 13;17;19;21;29;33;37;41;57;73。以O_k表示K=(d~(1/d))的代数整数环。文献[1]、[2]和[3]分别讨论了当d=-1,±2和3时,O_k内整数有原根的条件。本文将讨论,对任意的二次欧氏域K=(d~(1/d))(d≡3(mod4))中代数整数β有原根的条件,此时,d=-1;3;7;11或19。     

楝树锈壁虱的防治

楝树是深受群众欢迎的四旁绿化树种,但是,近几年来,经常发生苗木和幼树的嫩叶皱缩,老叶花斑和顶梢停止生长的现象。1973年,我们通过调查和观察,发现是形似柑桔锈壁虱的害虫(暂名为楝树锈壁虱)为害所引起。当年7月下旬,我们在白泉公社光明大队山林队的苗圃里进行喷药试验。用乐果、敌敌畏、三硫磷等防治后第四天检查,该虫消失,顶梢     

有限长正方形柱导体电容值的一个新的计算法

自由空间孤立导体的电容的计算新近受到了重视,因为这个计算是多电极系统的电极间互电容计算的第一步。本文提出采用混合的外接及内接曲面的方法来求得待计算导体电容的上限及下限,这个方法用在特殊截面同轴线特性阻抗的问题上收到了较好的效果。 试取图1中所示的有限长正方柱的自由空间的电容问题。文献[2]中已出现用外接及内接旋转长椭球曲面给出的此电容值粗的下限及上限。显然,如以一同长度的内接圆柱体的电容作为这个正方形柱的电容的下限,即可得到一个较大的下限。计算指出,如     

混合稀土抛光粉的研制条件与其物化性能之间的关系——Ⅰ.溶液浓度和加料方式的影响

一、概述抛光为一复杂的物理化学过程,在相同的工艺条件下,光学元件的抛光质量主要取决于抛光粉的物化性能。而抛光粉的物化性能与其化学组成、研制方法等因素有关。由于测试抛光粉的物化性质的手段尚不够完善,国内迄今还没有一个衡量抛光粉质量的统一标准或技术指标。元件抛光的合格率波动大,这给抛光工艺带来一定的盲目性。     

關於度量空間的誘導極限點,m-拓撲及軌道拓撲的研究

引言本文研究了几个一般拓撲学中的问题.第一节的研究是以徐利治副教授的一篇论文中的一个问题为出发点,研究了度量空间中诱导极限点的推广在连续映像下的性质.第二节中我们在拓撲空间引进了两种弱拓撲概念,并对其中的一种(同m-拓撲)的强弱性质作了较详细的研究.我们在第三节中引进了一种广义的叙列及极限概念,这种极限概念包括了通常的概念,而且具有一些通常的极限所具有的性质.在第四节中,我们专门研究在度量空间中的m-拓撲,着重讨论了m-闭集及m-紧致集.这里把概念推广后发现关于紧致集的一些基本重要的定理,即紧致集的判定法,都能推广到这种广义的紧致集