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荧光内滤效应以及样品池中荧光物质对激发光的吸收分布会直接影响荧光谱的强度和谱形,共同制约荧光分析法的应用。使用吸收谱及荧光谱存在交迭的双组分混合溶液,研究一种新的基于物理吸收模型的校正方法,以校正荧光内滤效应及吸收分布对荧光强度的影响。对三聚噻吩和五聚噻吩混合液的光谱研究表明,使用所述校正方法可以达到较为理想的校正效果, 误差小于5%。 相似文献
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X光底片在位相对标定 总被引:3,自引:0,他引:3
本文描述了X光底片在位相对标定技术。其原理是使X射线谱经阶梯形吸收滤片透射后,对X光底片曝光,测量底片的曝光量。文中给出了标定方法和数据处理方法,而且也给出了在X光激光实验中得到的Kodak AA5底片的特性曲线。 相似文献
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进行误差计算不仅可以反应实验质量,还可以帮助我们找出提高实验质量的方法,以指导我们对实验作进一步改进。本文目的就是想通过对一个实验的偶然误差分析,找出改进实验的一般方法。 相似文献
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Judd—Ofelt模型及其应用 总被引:5,自引:0,他引:5
稀土离子激活的发光晶体在现代科学技术中有着广泛的应用.许多种发光粉、上转换材料及激光材料就是掺稀土离子的.三价自由稀土离子的4fN组态的电子波函数具有相同的宇称,没有电偶极辐射和吸收.当三价稀土离子掺入晶体后,看到了发光,对此早有一些定性的解释.Judd和Ofelt由其中一种解释即静态晶场引起相反宇称的组态混杂出发,推导了跃迁几率表达式,后来被称为J—O理论或J—O模型,用于对实际稀土发光体进行定量计算. 相似文献
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