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21.
He+离子和Ne原子碰撞过程中激发态的研究   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
在He+离子和Ne原子碰撞过程中,我们发现两种碰撞激发过程,一种是电子俘获激发过程,另一种是直接激发过程。本实验用光学多道分析系统(OMA)对这些过程进行了光学测量,给出了发射截面数据。入射离子实验室能量范围为70—150keV。 关键词:  相似文献   
22.
本文在q×(20—150)keV的能量范围内,通过光学测量,对He+和He2+离子与碱余属原子Li碰撞过程中的靶激发过程进行了研究。由光学多道分析系统(OMA),测得LiI 670.8nm(2p→2s),LiI610.4nm(3d→2p),LiI460.3nm(4d→2p)和LiI812.6nm(3s→2p)谱线。给出所观察到的谱线的发射截面和相立的Li(2p)激发截面。对He+与Li碰撞过程,LiI670.8nm谱线发射截面与Aumayr 关键词:  相似文献   
23.
对Ar2+与Li,Na碰撞过程中由于单电子俘获而产生的ArII谱线进行了绝对测量,给出各谱线的发射截面数据。入射离子能量为40—300keV。从发射截面对势能亏损的依赖关系,发现对应中等△E(>0)值的过程具有较大的截面。并且还发现与观察到的光谱线相应的激发态属于一个电子组态中高J量子数的态。 关键词:  相似文献   
24.
本文通过观测Ne+离子与Li原子碰撞中的发射谱,对碰撞中的电子俘获和靶激发过程进行了研究。在可见光范围给出了所观察到的各条谱线的发射截面及相应上能级的激发截面。对电子俘获过程与能量亏损和靶原了电离势的关系进行了讨论。Ne+离子能量范围为20—150keV 关键词:  相似文献   
25.
利用MeV能量的准直质子束,在不同的质子能量下,测定了α-LiIO3单晶<001>向的轴沟道参数角度半宽度ψ1/2和产额极小值χmin。在向静电场作用卞,首次观察到入射质子与表面处的Ⅰ原子沟道-背散射产额随电场作用时间而增加,并定量计算了表面无序Ⅰ原子数随静电场作用时间的关系。另外,入射质子与 7Li原子沟道-核反应[7Li(p,α)4He]产生的α粒子产额也随电场作用时间而增加。 关键词:  相似文献   
26.
F离子弹性反冲法分析固体中H的深度分布   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
本文报道7—8MeVl4+离子弹性反冲法(ERD)分析固体中H的深度分布。实验和理论分析表明,近表面处的深度分辨率为200—300?。探讨了散射几何条件和入射能量等的最佳化问题。比较了同一样品用F离子ERD法与6.4MeV1H(19F,αγ)16O核反应法(NRA)的测试结果。表明F离子ERD法是快速(5—10min)、低辐照(5—10μC)、深度分辨和灵敏度较好的分析固体中H的深度分布的一种方法。 关键词:  相似文献   
27.
用5.8,3.0和1.2MeV的Li离子对用MBE制备的In0.25Ga0.75As/GaAs(100)异质结在(100)面中沿[100]及[110]轴进行角扫描。5.8MeV时,[110]轴外延层与衬底沟道对准角的差值为0.90°,从而计算出其晶格失配度为1.62%。3.0MeV时,背散射角扫描谱出现了严重的不对称现象。若离子以1.2MeV入射,沟道对准角的差值及衬底沟道的半角宽大大地偏离实际值。本文对以上反常现象从物理机理上进行了分析,给出了这些反常离子沟道 关键词:  相似文献   
28.
实验利用TN-1710光学多道分析系统(OMA),对H_1~ ,H_2~ ,H_3~ 和He,Ne,Ar碰撞过程中产生的巴耳末系H_α,H_β,H_γ发射进行了测量,入射离子H_1~ ,H_2~ ,H_3~ 的实验室能量范围为50—150keV。本文给出H_α,H_β,H_γ谱线的发射截面。实验结果表明:在H_3~ 离子和He,Ne,Ar原子碰撞过程中,H_α的发射截面分别比H_2~ ,H_1~ 离子和He,Ne,Ar原子碰撞过程的大,也就是说,电子俘获几率,前者比后者大,而H_1~ 离子和He,Ne,Ar原子碰撞过程的最小。  相似文献   
29.
串列加速器装置的功能扩展   总被引:1,自引:0,他引:1  
通过在2×1.7MV串列加速器前端设计并安装静电扫描装置和靶室,扩展了其0~30keV低能注入和沉积功能.利用低能离子注入的方法分别在Ni/SiO2和铜箔衬底上得到石墨烯薄膜,并运用Raman光谱和扫描电子显微镜研究了样品的形貌、薄膜层数及缺陷等性质.实验结果表明,在铜箔衬底上得到双层石墨烯薄膜.通过调试高能端和200keV注入机联机实验,在双束靶室中得到He,Li,C,N,Fe离子束,用于双束注入和辐照损伤等研究.  相似文献   
30.
在Ne~+和He碰撞过程的研究中,测量了NeⅠ、NeⅡ以及HeⅠ主量子数3~4的单态和三重态的发射截面。实验证明:此碰撞体系存在着两种激发过程,一种是电子俘获激发过程,另一种是直接激发过程,即电子组态重新排列激发过程。入射离子Ne~+的实验室能量范围为70~150KeV°  相似文献   
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