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141.
ZnAl_2O_4/α-Al_2O_3衬底上GaN的生长 总被引:1,自引:0,他引:1
研究了直接在 Zn Al2 O4/α-Al2 O3 衬底上用 MOCVD法一步生长 Ga N薄膜 .利用脉冲激光淀积法在α-Al2 O3衬底上淀积了高质量 Zn O薄膜 ,对 Zn O/α-Al2 O3 样品在 110 0℃退火得到了具有 Zn Al2 O4覆盖层的 α-Al2 O3 衬底 ,并在此复合衬底上利用光加热低压 MOCVD法直接生长了纤锌矿结构 Ga N. X射线衍射谱表明反应得到的Zn Al2 O4层为 ( 111)取向 .扫描电子显微镜照片显示随退火时间从小于 3 0 min增加到 2 0 h,Zn Al2 O4表面由均匀的岛状结构衍变为突起的线状结构 ,相应的 Ga N X射线衍射谱表明 Ga N由 c轴单晶变为多晶 ,单晶 Ga N的摇摆曲线半高宽 相似文献
142.
大多数现代电子设备使用了开关式电源,它们会产生不希望出现的电流谐波,这些谐波对供电品质和与该电源系统连接的其他设备造成了不良影响。文章介绍了有源功率因数校正的工作原理,提出了基于L6563芯片的一种高功率因数校正电路方案。试验结果表明,该Boost功率因数校正电路设计合理,性能可靠,功率因数可达0.99,可有效改善电源品质。 相似文献
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144.
145.
146.
基于IEEE802.15.4退避算法的改进机制 总被引:1,自引:0,他引:1
IEEE802.15.4是供低速率、低功耗和低成本设备使用的短距离无线通信的协议,定义了低速无线个域网(LR-WPANs)的MAC层和物理层规范.由于在例如无线体域网(WBAN)应用中,能量消耗是备受关注的问题,因此提出了一种基于时槽机制的CSMA/CA过程中改进的退避算法,在每次CSMA/CA开始时根据过去的传输状况动态地调整竞争窗口的最小值.通过NS-2进行仿真,实验结果表明这样的改进方案在业务负载比较高或者包的大小比较小的时候可以减少数据包碰撞概率和重传概率,从而可以减少功耗并且提高吞吐量性能. 相似文献
147.
实现基于VIS平台的GSTE验证方法,并将非阻塞性赋值算法引入VIS中,完成了对UART 的寄存器传输级模型的FSM的状态转移的验证和对发送的数据是否与输入数据一致的符号化验证。实验表明,该方法能够完成测试用例的全覆盖,说明了该方法在实际例子中所具有的重要意义。 相似文献
148.
149.
车载自组网(VANET)是一种将高速移动车辆作为通信节点的自组网,动态的拓扑结构致使传统的自组网路由机制不再适用。为此,提出基于分布式的分簇路由机制(DCRM)。DCRM首先引用RTB/CTB握手策略,源节点利用RTB/CTB数据包,获取其一跳邻居的信息,然后源节点根据每两个邻近节点间的距离小于门限值的原则,以分布式方式对这些邻居节点进行簇划分。随后,将每个簇中选择一个离源节点最远的节点作为簇头,源节点将消息传输至簇头。接收消息后,簇头成了源节点,重复此过程直至消息传输至目的节点。仿真结果表明,提出的DCRM提高了消息传输效率、降低了消息传输时延。 相似文献
150.
集成电路制造技术的不断进步,给缺陷定位带来巨大的挑战。传统的测试芯片和现有的可寻址的方法都无法满足当前缺陷快速准确定位的要求。本文提出了一种改进的可寻址测试芯片的设计方法:每个测试结构采用四端法连接以及单一的NMOS晶体管作为开关电路,以保证电性测量结果精确、电路设计的简洁以及面积利用率的进一步优化;并利用开关电路增加少量测试引脚,以方便物理缺陷定位的进行。该方法在110nm的CMOS工艺中得到应用。经过实际生产验证,实现了金属层断路等缺陷的定位,有效发现了该工艺中失效缺陷的成因,从而帮助实际的成品率实现快速提升。 相似文献