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Zhen‐Feng Chen Hong‐Li Zhou Hong Liang Yan Li Ren‐Gen Xiong Xiao‐Zeng You 《应用有机金属化学》2003,17(11):883-884
The centrosymmetric binuclear structure of [Pb2(H‐Norf)2(ONO2)4]shows the geometry around each lead(II) atom to be distorted trigonal bipyramidal with Pb–O distances ranging from 2.357(3) to 2.769(4) Å. Copyright © 2003 John Wiley & Sons, Ltd. 相似文献
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本文介绍了可在微机上实现大规模电信网践模拟的实用化软件SIMUNET,及基所采用的无时钟事件追踪法。该软件可用规划中的电信网络和实际网路的模拟及性能评价,也可用于不同流量控制算法的评价。文中给出一个评价实例。 相似文献
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本文讨论了流动注射-ICP光谱分析中的基体效应和酸效应。当基体(Na、Ca、Fe、Zn)的浓度大于5mg/ml时,待测元素的谱线强度表现出不同程度的降低;上述基体的引入对激发温度和电子密度的影响不明显;基体产生的抑制效应可能与改变了待测元素粒子的激发几率的因素有关;于载流体中加入一定量的基体元素,是消除或降低基体效应的有效方法。酸(HCl、HNO_3、H_2SO_4)对待测元素表现出不同程度的抑制效应,其主要原因是物理干扰所致。 相似文献
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BAHADURASYMPTOTICEFFICIENCYINASEMIPARAMETRICREGRESSIONMODEL¥LIANGHUA;CHENGPINGAbstract:TheauthorSgiveMLEθ1MLofθ1inthemodelY=θ... 相似文献
136.
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Chung S.S. Shui-Ming Cheng Lee R.G.-H. Song-Nian Kuo Mong-Song Liang 《Electron Devices, IEEE Transactions on》1997,44(12):2220-2226
This paper reports a simple I-V method for the first time to determine the lateral lightly-doped source/drain (S/D) profiles (n- region) of LDD n-MOSFETs. One interesting result is the direct observation of the reverse-short-channel effect (RSCE). It is observed that S/D n- doping profile is channel length dependent if reverse short-channel effect exists as a result of the interstitial imperfections caused by Oxide Enhanced Diffusion (OED) or S/D implant. Not only the lateral profiles for long-channel devices but also for short-channel devices can be determined. One other practical application of the present method for device drain engineering has been demonstrated with a LATID MOS device drain engineering work. It is convincible that the proposed method is well suited for the characterization and optimization of submicron and deep-submicron MOSFETs in the current ULSI technology 相似文献
138.
介绍了扩频通信有效的MSK信号特点及声表面波MSK抽头延迟线构成方式,给出了声表面波32位MSK抽头延迟线的实验结果。 相似文献
139.
VHDL逻辑综合及FPGA实现 总被引:2,自引:1,他引:1
运用VHDL语言描述了一个12×12位的高速补码阵列乘法器。重点是运用VHDL逻辑综合优化该乘法器,并进行了乘法器的XilinxFPGA实现、功能仿真和时序仿真。经选用XC4005PC-84-4芯片进行验证,证明了其正确性 相似文献
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SXDG—1型汽车前照灯全自动检测仪是用于检测汽车前照大灯光轴的偏斜情况及发光强度并进行定量检验的专用设备。它可以自动测出有关参数,并予以数字显示和打印输出。本文介绍了该仪器的主要性能、工作原理及微机控制系统(包括硬件结构和软件设计思想等)。 相似文献