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181.
182.
M.C. Wu Y.K. Chen T. Tanbun-Ek R.A. Logan M.A. Chin 《Photonics Technology Letters, IEEE》1991,3(10):874-876
The tunabilities of both the wavelength and the pulse-width of monolithic mode-locked semiconductor lasers are demonstrated. Pulses shorter than 1.6 ps, tunable over 8.8 mu m, have been generated by a temperature-tuned monolithic colliding pulse mode-locked (CPM) quantum-well laser. For a fixed wavelength, the pulse-width is independently controlled from 1.2 ps to longer than 3 ps by external bandpass filters. Near transform-limited time-bandwidth products of 0.34 were maintained throughout the tuning processes.<> 相似文献
183.
氟碳铈矿/直氟碳钙铈矿混层结构中新规则混层矿物的超微结构研究 总被引:4,自引:0,他引:4
用电子衍射和晶格像技术研究了钙稀土氟碳酸盐矿物中的氟碳铈矿(B)/直氟碳钙铈矿(S)混层结构,发现并确定了B_4S_4、B_8S_6、B_1S_6、B_7S_4和B_2S_15种新规则混层矿物的对称性、晶胞参数及理论晶体化学式。根据所获得的高分辨晶格像真实而直观地揭示出该类B_mS_n(m>n)型新规则混层矿物的长周期有序堆垛结构特征及变化规律。 相似文献
184.
在本试验中,采用智能同步广播激励器和CCTV传输的1MHz标频,实现了中波同步广播同频保护率趋于0dB.并提出了自适应相位跟踪同步的概念。 相似文献
185.
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189.
Shye Lin Wu Chung Len Lee Tan Fu Lei Chen C.F. Chen L.J. Ho K.Z. Ling Y.C. 《Electron Device Letters, IEEE》1994,15(4):120-122
In this study, it is demonstrated that the incorporation of fluorine can enhance poly-Si/Si interfacial oxide break-up in the poly-Si emitter contacted p+-n shallow junction formation. The annealing temperature for breaking up the poly-Si/Si interfacial oxide has been found to be as low as 900°C. As a result, the junction depth of the BF2-implanted device is much larger than that of the boron-implanted device 相似文献
190.
Measurement selection for parametric IC fault diagnosis 总被引:1,自引:0,他引:1
This article presents experimental results which show feedforward neural networks are well-suited for analog IC fault diagnosis. Boundary band data (BBD) measurement selection is used to reduce the computational overhead of the FFN training phase. We compare the diagnostic accuracy between traditional statistical classifiers and feedforward neural networks trained with various measurement selection criteria. The feedforward networks consistently perform as well as or better than the other classifiers in term of accuracy. Training using BBD consistently reduces the FFN training efforts without degrading the performance. Experimental results suggest that feedforward networks provide a cost efficient method for IC fault diagnosis in a large scale production testing environment.This work is supported by NSF-IUC CDADIC, Project 90-1. 相似文献