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41.
布里奇曼法生长碲镉汞晶体的固液界面形态研究 总被引:2,自引:0,他引:2
文中综述了布里奇曼法及加速坩埚旋转技术的布里奇曼法生工碲镉汞晶体过程中固液界面形态的研究结果,简单讨论了固液界面形态对组分分布的影响,并将两种技术所得的组分分布结果进行了比较,在分析影响固液界面形态因素的基础上,认为加速坩埚旋转技术是目前改善固液界面形态的有效方法。 相似文献
42.
X波段及DBS接收用PHEMT单片低噪声放大器 总被引:3,自引:0,他引:3
报道了X波段及DBS接收用单片低噪声放大器的研制结果。利用CAD软件对单片电路进行优化设计,设计工作包括MBE材料、PHEMT器件和单片电路三部分。在研制过程中,开展了关键工艺的专题研究。研究结果为:单级单片放大器在10:5-11.6GHz范围内,NF≤1.82dB,G≥7.72dB;在11.7-12.2GHz范围内,NF≤1.80dB,G≥6.8dB;双级放大器在10.4-11.1GHz范围内,NF≤1.96dB,G≥15.3dB,最低噪声系数为1.63dB,最高增益为16.07dB。 相似文献
43.
44.
The purpose of this paper is to study the relationship between the oxygen concentration and brightness degradation in ZnS:TbOF green thin-film electroluminescent (EL) devices. The characteristics including crystallinity, optical, and electrical properties were discussed. The brightness-voltage (B-V) measurement results shelved that with higher oxygen-content in ZnS:TbOF phosphor layer, lower brightness was measured. It was consistent with the poor crystallinity, worse photoluminescent intensity, and easier to get moisture in the oxygen-rich (O/Tb>1) phosphor film. Furthermore, deep level transient spectroscopy (DLTS) measurements identified that when the O/Tb ratio was greater than 1, the oxygen-related deep hole traps EH1 and/or EH2 could be detected in the ZnS:TbOF phosphor layer. These E H1 and/or EH2 traps were believed to be the main killers for the brightness of the device since they capture most of the holes from the generated electron-hole pairs. This evidence strongly supports that the modified energy transfer model is more dominant than direct impact excitation during the luminescent process 相似文献
45.
彩色PDP用玻璃基板 总被引:4,自引:0,他引:4
本文讨论了彩色PDP现用钠钙玻璃的热稳定性,指出由于这种玻璃在热处理过程中易变形和收缩,因而不适合作大面积彩色PDP基板材料,介绍了彩色PDP基板玻璃的制造方法和特点。最后介绍了日本旭硝子公司和美国康宁公司各自为彩色PDP新开发的玻璃基板材料PD200和CS25。 相似文献
46.
从理论上探讨了磁阻率效应,叙述了精密角位移传感器的工作原理及结构设计。传感器的分辨率已达0.01°,通过可靠性寿命试验,传感器的失效率λ(t)<1×10-7/h。 相似文献
47.
本文利用选区电子衍射,并结合X射线衍射对六种不同成份的急冷合金及其退火后的相组成进行了鉴定,得到了它们的相组成。 相似文献
48.
49.
50.
An analytical current-voltage (I -V ) model for planar-doped HEMTs is developed. This compact model covers the complete range of I -V characteristics, including the current saturation region and parasitic conduction in the electron-supplying layer. Analytical expressions for the small-signal parameters and current-gain cutoff frequency are derived from the I -V model. Modeling results for a 0.1-μm-gate planar-doped AlInAs-GaInAs HEMT show excellent agreement with measured characteristics. Threshold voltages and parasitic conduction in planar-doped and uniformly doped HEMTs are also compared and discussed 相似文献