数控机床多故障诊断专家系统设计

系统以数控机床的数控系统为分析对象,结合某数控公司提供的故障分析手册和积累的案例以及参照该公司故障诊断专家给出的诊断方法,学习其他的专家系统的成功经验,设计了一套数控机床图形化多故障诊断系统.文中介绍了数控机床故障诊断专家系统中的一个故障诊断的方法,它具有多故障诊断的能力,可以图形化辅助诊断过程.开发了一种新的匹配算法,它是由最近相邻算法根据本系统的实际情况而开发的一种新算法.对于多故障诊断,系统采用化多故障为单故障处理的方法.开发了图形化辅助诊断功能,提高了诊断系统的实用性.开发了针对数控机床故障诊断的自学习功能,实现了故障诊断的经验积累.     

光纤表面等离子体波共振温度传感器的研究

根据液体折射率随温度变化而改变的特性，提出了一种基于表面等离子体波共振(SPR)效应的新型光纤温度传感器，分析了表面等离子体波共振光纤探头感应环境温度变化的原理。对表面等离子体波共振探头结构进行了优化设计，并进行了相关实验，为实现高折射率液体介质的感温测试和扩大测温范围提供依据。通过自行设计的一套光纤温度传感测试系统，得到系统输出的表面等离子体波共振光谱信号随温度变化的特性曲线，并提出对共振波长和最小光强反射率进行实时双参数测量的方法。实验结果表明，该测试系统具有结构简单、全光纤化、易远程测量等优点。     

电子散斑干涉技术的精度研究

通过电子散斑测量离面位移的实验研究,对电子散斑干涉计量的测量精度进行了评估,分析了误差来源并提出了提高该技术测量精度的措施。     

用小波变换的模极大值提取调制信号频率

利用小波变换系数的模值与信号奇异性指数之间的关系,从调频信号中提取出调制信号的频率.其方法是:对调频信号进行小波变换,取适当尺度上的小波系数进行平方,得到小波变换模极大值的分布曲线,对该曲线进行小波强制滤波,得到反映调制信号频率的光滑曲线,计算该曲线的频率,即可得调制信号的频率.经过计算机仿真,证明该方法是可行的.     

高速局域网技术的发展

对近年来出现的几种高速局域网技术，如快速以太网、千兆以太网、交换式以太网等作了详细的介绍。     

微小孔阵列垂直腔面发射激光器的研究

在980nm波长的大功率垂直腔面发射激光器(VCSEL)的基础上制备了高输出功率的微小孔阵列半导体激光器,其最大输出光功率达到了1mW。介绍了针对微小孔阵垂直腔面发射激光器的特殊制备工艺,并对其特性进行了分析。     

掺Er~(3+)、掺Nd~(3+)光纤的光谱及其最佳泵浦波长和光源

本文给出掺Er~(3+)、掺Nd~(3+)和普通单模光纤在3800A——18000A波段上的吸收谱,以及关于半导体激光器激发掺Nd~(3+)光纤荧光曲线的实验结果,并对它们的吸收谱进行相互比较,讨论光纤激光器、放大器的最佳泵浦波长,建议用NYAB自倍频激光器作为掺Er~(3+)和Nd~(3+)光纤泵浦光源。     

移相器类进动现象对干涉测量的影响

压电晶体(PZT)光学移相器作为移相干涉仪(PSI)的关键部件，其移相误差直接影响被测波面的相位复原精度。分析了压电晶体移相器在移相过程中导致干涉图旋转的原因——类进动，其本质是移相器在伸长的同时其参考镜端面法线方向绕着伸长方向产生旋转。利用典型的Hariharan五步移相算法。得出了类进动现象所导致的波面相位复原误差计算公式，给出了在测试孔径上的误差分布图。对影响误差大小的主要因素如干涉条纹的宽度、旋转的角度和测试口径等进行了具体分析，由此推导出在移相干涉仪光学调整过程中控制干涉图旋转误差的准则。     

MPNIM结构光致变电容效应

本文报告了作者之一首先发现的MPNIM(金属-P型半导体-N型半月比-绝缘体-金属)结构的光致变电容效应。基于该效应已研制出新器件:半导体双向光控变容器.新器件的电容值与入射光强的关系,光谱响应特性,频率特性,C-V特性,温度特性已被研究.     

一种亚微米垂直硅墙的刻蚀方法

亚微米垂直硅墙的制备是垂直硅薄膜耦合约瑟夫逊结的关键工艺.本文作者在普通光刻设备基础上,开发了一种在〈100〉硅片上制备亚微米硅墙的刻蚀方法:首先用普通光刻手段刻出较宽的墙区;其次,对非墙区进行迭加注入掺杂;第三,杂质高温横向扩散,第四,掺杂选择性刻蚀;第五,高温氧化减薄.实验结果表明,这种方法可以获得墙宽为0.29μm,墙高为1μm左右的硅墙,而且还有一定的改进潜力.