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11.
The regression problem in learning theory is investigated with least square Tikhonov regularization schemes in reproducing kernel Hilbert spaces (RKHS). We follow our previous work and apply the sampling operator to the error analysis in both the RKHS norm and the L2 norm. The tool for estimating the sample error is a Bennet inequality for random variables with values in Hilbert spaces. By taking the Hilbert space to be the one consisting of Hilbert-Schmidt operators in the RKHS, we improve the error bounds in the L2 metric, motivated by an idea of Caponnetto and de Vito. The error bounds we derive in the RKHS norm, together with a Tsybakov function we discuss here, yield interesting applications to the error analysis of the (binary) classification problem, since the RKHS metric controls the one for the uniform convergence.  相似文献   
12.
13.
14.
A unified single-equation approach for the MOS transistordrain current modeling for energy-efficient submicron MOS circuitsis presented. Instead of three sets of separate equations forthe triode, saturation, and weak inversion regions, only a continuousexpression which is valid to describe the behavior of drain currentand the derivatives in all operation regions can be realizedby using a combination of hyperbola, sigmoid, and interpolationmethods. The model expression can predict accurate results forthe current, output conductance, and transconductance with continuousand smooth characteristics. The simulation results agree wellwith experimental data.  相似文献   
15.
16.
CrCl2-mediated condensation of γ-chloro-gem-trichloroalkanes with aldehyde generates homoallylic alcohols through a hydride rearrangement followed by a Nozaki-Hiyama allylation.  相似文献   
17.
利用高灵敏度的氢原子里德堡飞渡时间谱方法研究了 F H_2→HF H 反应碰撞能在5.02kJ/mol 下的交叉分子束反应态态散射动力学.所有在时间飞渡谱中被观测到的谱峰可以归属为 HF 产物的振转态结构.还观测到了明显的 HF(v’=3)前向散射,以及少许的 HF(v’=2)前向散射.  相似文献   
18.
行业分析人士曾预测,蓝牙半导体市场会在2000年下半年开始攀升,而在2001年将持续攀升.尽管这些预测未达到期待的水平,但普遍地持乐观的态度,蓝牙技术有吸引力的市场仍在向我们召唤.对这一变幻无常的市场,很多半导体供应商趁修改和更新标准之际,纷纷改变了蓝牙产品研发计划.  相似文献   
19.
20.
This report reviews the analysis used to extract the complex conductivity of a compound from a microwave cavity perturbation measurement. We intend to present a generalized treatment valid for any spheroidally shaped sample of arbitrary conductivity which is placed at either the electric or magnetic field antinode of the cavity. To begin with, we establish the relationship between the measured parameters and the conductivity for a spherical sample. Next, we extend these results to the case of spheroids; and for the first time, we cover all different configurations that one can possibly use to study an arbitrary conducting sample inside a cavity: in particular, all possible orientations of the sample with respect to the applied field are solved.  相似文献   
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