基于DFT插值的宽带波束形成器设计

本文提出一种基于DFT插值的宽带波束形成器设计方法。首先推导了具有频率不变波束图的连续线阵的灵敏度函数与离散线列阵加权系数之间的关系；接着给出了基于DFT插值的宽带波束形成器设计的两个步骤：（1）使用窄带波束形成器的设计方法计算在参考频率下基阵的加权系数；（2）根据参考频率下基阵的权系数与其它子带权系数之间的关系，利用DFT插值的方法求出其它子带的加权系数。最后，给出了一个设计实例说明本文方法的有效性。     

管内材料高温放气性能的测试及应用研究

管内材料放气性能的优劣直接影响着整管的性能和寿命.本文简介了测试管内材料高温放气性能的原理、装置和方法.文中列举的几项应用实例表明,本项测试结果对产品质量控制、工艺技术改进和材料进厂检验及国产化攻关都具有指导意义.     

两点拉伸型不动点定理及其应用

在研究各种非线性方程解的存在性问题时,上下解方法是一个强有力的工具.设 E是 Banach 空间,P 是 E 中的锥,E 中的半序由 P 导出.设 A:E→E 是一个算子.如果x_0∈E 满足     

基于XML技术数据库优化接入设计

鉴于用户对目前数据库接入技术要求的提高，一种基于XML技术对数据库接入进行优化的技术出现了。这种技术利用了基于XML传输时的可扩展、高度结构化等特性，在JavaBean，JDBC，Apache，Tomcat等设计组件及Linux体系结构的配合使用下．为用户提供了一个安全、高效、可扩展且访问灵活的数据库接入方式。     

修饰聚合物液-固亲和萃取体系纯化大豆中的组氨酸

聚乙二醇(PEG)6000经亚氨基二乙酸(IDA)修饰后和CuSO4反应,形成PEG修饰聚合物PEG-(IDA-Cu)2 ,与吐温80、磷酸盐混合,构成液-固亲和萃取体系,直接从大豆蛋白匀浆中提取氨基酸.选定萃取条件为磷酸盐摩尔比n(K2HPO4)∶n(NaH2PO4)为4.8∶1,体系pH值 7.70,总盐浓度为1.60 mol·L-1;吐温80的体积分数为10.5%.结果表明该体系对大豆蛋白匀浆中氨基酸的二次萃取率为66.5%,用离子交换技术后继处理,得纯度较高的组氨酸.     

强分次环与Maschke-型定理

设G是有限群,|G|^-1∈R.本文证明了与强G-分次环R,R#k[G]^*,非分次R-模和R_e-模有关的两个Maschke-型定理.     

低速二维流动的粒子仿真研究

本文运用信息保存法对低速二维的流动现象进行模拟，考察了低速条件下的有限平板绕流以及微槽道气体流动问题。研究表明：在对低速流动的模拟过程中，运用IP法在能够获得较好的结果的同时，具有比DSMC方法更高的计算效率。     

若干具有[(PO4)2Mo5O15]簇骼的化合物的光谱研究

本文对所合成的具有 [(PO4 ) 2 Mo5O1 5]簇骼的 3种新颖的有机 磷钼酸盐簇合物(NH3CH2 CH2 NH3) 2 5[(PO4 ) (HPO4 )Mo5O1 5]·7 5H2 O (Ⅰ ) ,(H3NCH2 CH2 NH3) 3·[(PO4 ) 2 Mo5O1 5]·3H2 O (Ⅱ )和(H3NCH2 CH2 NH3) 2 ·[Cu(en) ][(PO4 ) 2 Mo5O1 5]·5H2 O (Ⅲ )用FTIR ,NIR Raman ,紫外 可见漫反射光谱 (UV VisDRS)和荧光光谱等研究手段 ,对其进行光谱研究 ,探讨其结构和性能的关系。在这些化合物中 ,化合物Ⅰ和Ⅱ具有孤立的 [(PO4 ) 2 Mo5O1 5]簇骼基元 ,而化合物Ⅲ的 [(PO4 ) 2 Mo5O1 5]簇骼基元是由 [Cuen]基团桥联成链 ;磷钼酸盐的特征振动频率和这些化合物的结构相关 ;UV VisDRS显示 ,在 2 0 0和 2 6 0nm左右有两个杂多化合物的特征吸收谱带 ;化合物的稳态荧光光谱中 ,观察到以 2 4 0nm激发 ,在大约 4 0 0nm附近出现的由金属氧簇Oμ→Mo跃迁激发所引起的较强的发射峰 ,在化合物 (Ⅲ )中 ,还观察到通过 [Cuen]的荷移跃迁的以 5 70nm激发所产生的 6 0 4nm的发射峰。     

复杂连通区域扫描线填充算法的问题及改进

针对复杂连通区域扫描线填充算法可能出现的重复填充错误，分析了产生错误的原因，并给出了相应的改进办法．从而实现了复杂连通区域的快速正确填充。     

Surface roughness investigation of semi-conductor wafers

Conventionally, surface roughness is predominantly determined through the use of stylus instruments. However, there are certain limitations involved in the method, particularly when a test specimen, such as a silicon wafer, has a smooth mirror-like surface. Hence, it is necessary to explore alternative non-contact techniques. Light scattering has recently been gaining popularity as an optical technique to provide prompt and precise inspection of surface roughness. In this paper, the total integrated scattering (TIS) model is modified to retrieve parameters on surface micro-topography through light scattering. The applicability of the proposed modified TIS model is studied and compared with an atomic force microscope. Experimental results obtained show that the proposed technique is highly accurate for measuring surface roughness in the nanometer range.