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111.
Using a scanning tunneling microscope, quantum dots with diameters of order 25 Å have been fabricated on the cleaved InSb (110) surface in UHV. Both In and Sb atoms were clearly resolved on the cleaved surface. 相似文献
112.
Liang Ruixi Peng Jun Shen Jianhua 《Annals of Differential Equations》2006,22(4):502-510
The boundedness of the every solution and the asymptotic behavior of all solutions of the nonlinear neutral delay differential equation [x(t) - P(t)x(t - t)]' Q1 (t)f(x{t-σ1))-Q2(t)f(x(t -σ2))=0,t≥t0 are investigated, whereτ,σ1,σ2∈(0,∞), P∈C([t0,∞),R), and Q1,Q2∈C([t0,∞),R), f∈C(R,R). The sufficient conditions obtained improve the existing results in the literatures. 相似文献
113.
The theory of asymptotic speeds of spread and monotone traveling waves is established for a class of monotone discrete and continuous‐time semiflows and is applied to a functional differential equation with diffusion, a time‐delayed lattice population model and a reaction‐diffusion equation in an infinite cylinder. © 2005 Wiley Periodicals, Inc. 相似文献
114.
用于频率合成器的低损耗声表面波滤波器 总被引:2,自引:2,他引:0
简述了产生声表面波滤波器插入损耗的主要机理和获得低损耗的原则;介绍了根据此原则对100~500MHz5种滤波器的研制过程和结果。实验表明,采用镜像阻抗连接换能器结构可达到3~4dB的低损耗,并成功地应用于频率合成器中。 相似文献
115.
在高频部分,通过用Wentzel—Kramers—Brillouin—Jefferys(WKBJ)解作为内场近似,本文证明了有耗非均匀媒质的反射系数在复平面上的轨迹是个圆。根据不同入射角度、不同极化的高频反射系数圆的圆心与半径,可以重建出有耗媒质的部分关键参数。本文方法同时适用于已知复反射系数谱和仅知反射系数振幅情况。文中给出具体重建实例。 相似文献
116.
采用激光感生荧光技术测量了Nd:MgO:LiNbO3晶体的偏振荧光光谱,简要地说明了Nd:MgO:LiNbO3双晶体腔内互倍频的基本原理,并在实验中用染料激光作泵浦源实现了其双晶体腔内互倍频运转;得到543nm横模倍频绿光单端输出约YMW,腔前泵浦阈值约38MW,总转换效率约为1.3%。 相似文献
117.
118.
119.
120.
As device technologies improve, the traditional drift-diffusion transport model becomes inadequate to predict the performance of state-of-the-art semiconductor devices. The reasons are believed to be the larger field and field gradient inside advanced devices which cause lattice heating and hot carrier nonlocal transport phenomena. For more accurate prediction on device performance, a new device simulator capable of full thermodynamic simulation was developed. The carrier and carrier energy transport equations are directly derived from the Boltzmann transport equation, and the energy transfer among electrons, holes and crystal lattice takes into account most of the possible mechanisms. This simulator was used to simulate the DC behavior of a BJT and a half-micron NMOS. The simulation results show that for advanced devices, not only the drift-diffusion model becomes inadequate, but including only one of the two thermal effects results in error in simulated device characteristics 相似文献