首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   95889篇
  免费   28301篇
  国内免费   26112篇
化学   48971篇
晶体学   944篇
力学   5416篇
综合类   237篇
数学   10392篇
物理学   53926篇
无线电   30416篇
  2024年   716篇
  2023年   1326篇
  2022年   1315篇
  2021年   1258篇
  2020年   1574篇
  2019年   2758篇
  2018年   2656篇
  2017年   3406篇
  2016年   3963篇
  2015年   4669篇
  2014年   4378篇
  2013年   6110篇
  2012年   6449篇
  2011年   8625篇
  2010年   10895篇
  2009年   10637篇
  2008年   3873篇
  2007年   3327篇
  2006年   3180篇
  2005年   3401篇
  2004年   5211篇
  2003年   3945篇
  2002年   3681篇
  2001年   3670篇
  2000年   2781篇
  1999年   2832篇
  1998年   2522篇
  1997年   2245篇
  1996年   2608篇
  1995年   2984篇
  1994年   3026篇
  1993年   3461篇
  1992年   3063篇
  1991年   2630篇
  1990年   2239篇
  1989年   2315篇
  1988年   2073篇
  1987年   1153篇
  1986年   1254篇
  1985年   864篇
  1984年   1000篇
  1982年   894篇
  1981年   730篇
  1980年   773篇
  1979年   528篇
  1978年   531篇
  1977年   636篇
  1976年   1043篇
  1972年   539篇
  1971年   442篇
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 421 毫秒
51.
Kinetics of vapor phase hydrogenation of phenol to cyclohexanone over Pd/MgO system has been studied in a flow microreactor under normal atmospheric pressure. The reaction rate is found to be negative order with respect to the partial pressure of phenol and has increased from −0.5 to 0.5 with increasing temperature (473 to 563 K). The apparent activation energy (Ea) of the process is found to be close to 65 kJ per mol. On the basis of kinetic results a surface mechanism is proposed.  相似文献   
52.
LDD方法在提高电路工作电压中的应用研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
曾莹  王纪民 《微电子学》1997,27(1):37-42
研究了利用轻掺杂漏结构来制作高电源电压器件的工艺方法。分析了LDD结构参数对器件击穿特性的影响,并结合实验结果对N^-区的注入剂量,长度及引入的串联电阻进行了优化设计。  相似文献   
53.
NMOS器件两次沟道注入杂质分布和阈电压计算   总被引:1,自引:1,他引:0  
王纪民  蒋志 《微电子学》1997,27(2):121-124
分别考虑了深浅两次沟道区注入杂质在氧化扩散过程中对表面浓度的贡献。对两次注入杂质的扩散分别提取了扩散系数的氧化增强系数、氧化衰减系数和有效杂地系数,给出了表面浓度与工艺参数之间的模拟关系式,以峰值浓度为强反型条件计算了开启电压,文章还给出了开启电压、氧化条件、不同注入组合之间的关系式。  相似文献   
54.
报道了5种新的α,α′-二氧代烯酮环二氮代缩醛化合物的NMR谱,初步探讨了分子结构对化学位移的影响.  相似文献   
55.
织构C60薄膜的生长与光致发光特性   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
陈光华  张阳  严辉 《物理学报》1997,46(7):1375-1379
用Hot Wal方法,在氟金云母单晶上生长出了(111)织构的C60薄膜.用X射线衍射、Raman散射、扫描电子显微镜和原子力显微镜研究了织构C60薄膜的结晶质量和结构特性.测量了织构C60薄膜在室温300K和低温77K的光致发光光谱.对所得结果进行了分析与讨论 关键词:  相似文献   
56.
金属与金刚石薄膜接触的电学特性研究   总被引:3,自引:0,他引:3       下载免费PDF全文
陈光华  张兴旺  季亚英  严辉 《物理学报》1997,46(6):1188-1192
用热丝辅助化学汽相沉积技术在Si衬底上合成了含少量受主型杂质的近于本征的金刚石薄膜,并研究了三种金属(Cu,Ag和Al)与它接触的电学特性,以及退火对接触特性的影响.结果表明Cu,Ag与金刚石薄膜接触的电学特性比较类似,而Al则明显不同;而且退火对它们的接触特性影响很大 关键词:  相似文献   
57.
秦国林  陈光炳 《微电子学》1998,28(3):212-216
叙述了国产高频宽带放大器的质量和可靠性现状,详细介绍了这类产品的质量一致性检验、可靠性摸底试验和现场使用过程中出现的可靠性问题,用统计的方法得出了可靠性特征量,通过对失效样品的失效分析,总结出宽带放大器主要的失效模式和失效机理,并提出了消除和减少失效、提高宽带放大器可靠性的措施和建议。  相似文献   
58.
深亚微米MOSFET衬底电流的模拟与分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
利用器件模拟手段对深亚微米MOSFET的衬底电流进行了研究和分析,给出了有效的道长度,栅氧厚度,源漏结深,衬底掺杂浓度以及电源电压对深亚微米MOSFET衬底电流的影响,发现电源电压对深亚微米MOSFET的衬底电流有着强烈的影响,热载流子效应随电源电压的降低而迅速减小,当电源电压降低到一定程度时,热载流子效应不再成为影响深亚微米MOS电路可靠性的主要问题。  相似文献   
59.
张荣  曲宏伟 《微电子学》1998,28(6):437-439
制作压力传感器时,在二氧化硅层上淀积多晶硅膜,既可利用优良的机械特性,又可保证压敏电阻与衬底间具有良好的绝缘性,由此可大大提高器件的温度特性。介绍了一种多晶硅压力传感器的原理和设计。实验结果表明,这类传感器具有灵敏度好,精度高等特点,电路工作范围为0-250℃,且具有良好的温度稳定性。  相似文献   
60.
岳炳良 《世界电信》1995,8(5):26-27,31
本文根据我国陆海空移动用户的需求与特点,借鉴国外经验,提出了建设UHF频段卫星移动通信系统的建议;对照已建成的C波段卫星固定通信系统,分析了其优缺点;最后深入探讨了应用中的若干技术问题。  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号