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并行哈夫曼编码器的硬件设计与实现 总被引:5,自引:4,他引:1
文章设计了一种并行编码的哈夫曼硬件编码器,它采用了流水线和并行编码方法,使得在一个时钟周期内可以编码一个字节的数据,在编码时显著降低了工作频率。文章给出了关键部分的实现方案并分析了实验结果。 相似文献
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可靠性寿命试验中,一般都因受到费用和时间的限制,因此要用截尾试验获得信息,再据此对其可靠性进行统计推断,用非参数估计的方法探讨了进行可靠性试验的样本量或截尾时间的估计方法。 相似文献
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铝互连线的电迁移问题历来是微电子产业的研究热点,其面临的电迁移可靠性挑战也是芯片制造业最持久和最重要的挑战之一.从20世纪90年代开始,超深亚微米(特征尺寸≤0.18 μm)铝互连技术面临了更加复杂的电迁移可靠性问题.从电迁移理论出发,分析概括了铝互连电迁移问题的研究方法,总结了上世纪至今关于铝互连电迁移问题的主要经验;最后结合已知的结论和目前芯片制造业现状,分析了当前超深亚微米铝互连线电迁移可靠性挑战的原因和表现形式,提出了解决这些问题的总方向.
关键词:
电迁移
铝互连
微结构 相似文献
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