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针对高复杂度芯片的生产制造缺陷难以进行充分测试的难题,文中将Mentor公司的4款可测性设计软件集成到芯片前端设计开发流程中,构建相应的设计开发环境。基于此开发环境设计AES算法硬件单元的过程表明,可测试性设计工具能相互配合,很好地支持复杂电路,辅助设计人员正确生成存储器内建自测试电路、边界扫描电路、内部扫描链等多种测试电路,提高了电路的可测试性。 相似文献
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电流模带隙基准源(CMBGR)在低电源电压电路中得到广泛的应用,但其启动行为仍值得关注。在启动电路不可靠的情况下,CMBGR会导致芯片失效,使得成品率下降。在分析CMBGR的启动和多个工作点问题后,提出一种只有两个稳定工作点的CMBGR,可通过监测电路状态和控制启动电路的充电来解决简并点问题。采用0.13 μm CMOS工艺,对提出的GMBGR电路进行设计与仿真。仿真结果表明,该电路产生的参考电压小于1.25 V,在-25 ℃~125 ℃之间的温度系数为4.7×10-6/℃,具有良好的启动性能。 相似文献
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