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催化动力学光度法测定痕量钴(Ⅱ) 总被引:8,自引:0,他引:8
本法基于钴 (Ⅱ )对高碘酸钾氧化孔雀绿的催化作用 ,提出一种灵敏地测定痕量钴 (Ⅱ )的新方法。该方法线性范围在 0~ 0 8μg·2 5mL- 1 ,检测限为 2 1× 10 - 1 0 g·mL- 1 。测定出反应表现活化能Ea=37 94kJ·mol- 1 。此法用于茶叶、维生素B1 2 中钴的测定 ,结果满意 相似文献
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本文研究分组交换数据网与ISDN互连的性能分析,文中考虑了分组肉与窄带ISDN和宽带ISDN互连时信关所应完成的功能,分别给出了两种情况下的信关排队模型;在信关存储容量分别为有限和无限的情况下,对两种模型进行了求解,给出了阻塞概率和平均延迟的表达式。对于与B-ISDN互连的情况,提出了用开关确定性过程来描述输出排队的分组到达流,并提出了一种小时隙方法分析SDP/D/1排队。 相似文献
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在本文中,我们提出了双凹规划问题和更一般的广义凹规划问题。我们给出了双凹规划问题的整体最优性条件,并构造了一个有限终止外逼近算法。 相似文献
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网上协作学习模式研究 总被引:1,自引:0,他引:1
主要针对网上协作学习的基本模式、实现方式和存在的问题进行了初步研究。 相似文献
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驱动AM-OLED的2-a-Si:H TFT的设计与制作 总被引:2,自引:1,他引:1
a-Si:H/SiNx:H TFT在长时间栅偏应力作用下,会产生阈值电压漂移,这主要是由绝缘层电荷注入和有源层亚稳态产生而引起的。针对电荷注入现象,文章首先通过控制源气体SiH4和NH3流量的不同,利用PECVD制作了不同N/Si比(0.87~1.68)的氮化硅绝缘材料,对其进行了椭偏、红外和光电子散射能谱(EDS)测试。制作了不同的MIS结构电容,对其进行老化实验和C-V测试分析,结果表明稍富氮(N/Si比稍大于标准Si3N4的化学计量比1.33)的氮化硅做成的M1S样品在老化前后C-V曲线偏移不是很明显,表明其缺陷态密度相对较小,能够有效减小半导体/绝缘层界面间的电荷注入。设计了驱动OLED的2-a-Si:H TFT像素电路及其阵列版图,优化了电路中的几个关键参数,即T1的W/L=2.5、T2的W/L=25和存储电容Cs=0.8pF。运用7PEP生产工艺,制作了13cm(5.2in)的TFT阵列样品。对TFT进行I-V特性测试,其开态电流为10μA,开关比为10^6;对AMOLED显示屏样品进行了静态驱动下的亮度测试,其最高亮度为341cd/m^2。 相似文献
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