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移动代理计算模式较传统的分布式计算模式有明显的优势,而伴随它有诸多安全问题出现,这使得它没有得到十分广泛的应用。本文针对代理自身的安全问题,分析了代理可能受到的攻击,并提出了一个安全方案。 相似文献
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介绍了一种带USB接口的光的155Mb/s码型发生器。伪随机码和其他格式的码型由PC产生通过USB接口进入双口RAM,再经串并变换后由光发射模块发射。该系统可方便地设定各种格式的码型,并同时具备光接口和电接口,可广泛应用于光通信各种实验中,具有重要的实用价值。 相似文献
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为了在亚临界到临界点这个大范围内保证制冷剂物性计算的快速、稳定、可逆,提出将整个数据区间划分成若干个子区间分别进行隐式拟合,并且保证相邻子区间连接点处的连续与光滑,以及通过求分析解从隐式方程中得到显式物性计算式的方法.以美国国家标准局开发的程序REFPROP6.01的计算结果作为数据源,以R410A为例对该方法做了验证.得出快速物性计算公式的应用范围为饱和温度-60℃至临界温度,与NIST REFPROP 6.01的计算结果进行比较表明,计算速度快1500倍,平均相对偏差小于0.01%. 相似文献
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乌桕类可可脂结晶过程中表现体积变化 总被引:1,自引:0,他引:1
为了解乌桕类可可脂(CTCBE)缓冷结晶横向胀罐爆裂原因,研究CTCBE结晶过程中的膨胀特性,采用流体静力法测试了不同等温结晶条件下CTCBE结晶形成的表观密度和表观体积及其横纵向膨胀状况。结果表明,CTCBE缓冷结晶后形成外部和中部两个晶区。在5-25℃的各等温结晶范围内,当结晶温度增加时,外部结晶区域减小、表观密度变化不大;中部结晶区域增大、表观密度明显减小,CTCBE的表观体积、横向、纵向膨胀率均增大,膨胀横向大于纵向。进一步表明CTCBE在自然缓冷固化的表观体积根本上由其结晶温度决定。为有效防止横向胀罐,自然缓冷固化温度应低于10℃。 相似文献
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van Driel W.D. van Gils M.A.J. Xuejun Fan Zhang G.Q. Ernst L.J. 《Components and Packaging Technologies, IEEE Transactions on》2008,31(2):260-268
Exposed pad packages were introduced in the late 1980s and early 1990s because of their excellent thermal and electrical performance. Despite these advantages, the exposed pad packages experience a lot of thermo-hygro-mechanical related reliability problems during qualification and testing. Examples are die lift, which occurs predominantly after moisture sensitivity level conditions, and die-attach to leadframe delamination leading to downbond stitch breaks during temperature cycling. In this chapter, nonlinear finite element (FE) models using fracture mechanics based J-integral calculations are used to assess the reliability problems of the exposed pad package family. Using the parametric FE models any geometrical and material effects can be explored to their impact on the occurrence diepad delamination, and dielift. For instance the impact of diepad size is found to be of much less importance as the impact of die thickness is. Using the fracture mechanics approach, the starting location for the delamination from thermo-hygro-mechanical point of view is deducted. The results indicate that when diepad delamination is present, cracks are likely to grow beneath the die and dielift will occur. The interaction between dielift and other failure modes, such as lifted ball bonds, are not found to be very significant. The FE models are combined with simulation-based optimization methods to deduct design guidelines for optimal reliability of the exposed pad family. 相似文献
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