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21.
光电变色器件用纳米晶氧化钛薄膜的微结构与特性 总被引:2,自引:2,他引:0
纳米晶TiO2薄膜在光电变色器件中具有很重要的作用。它的微结构直接影响染料的吸附、光的散射以及电荷输运的特性。因此,探索TiO2薄膜的微结构(如粒径、表面形貌和厚度等)及光电性能是非常有意义的。采用电子束蒸发工艺制备了光电变色器件用纳晶TiO2薄膜,利用原子力显微镜、X射线衍射、俄歇电子能谱等手段对纳米晶TiO2薄膜的表面形貌、结晶状态及组分进行了分析。从理论上研究和讨论了纳米晶TiO2薄膜晶粒尺寸对光电性能的影响,并用量子限制效应解释了吸收光谱峰值波长随粒径减小而发生蓝移的现象。 相似文献
22.
介绍了两种制备多孔硅的方法:电火花刻蚀法和激光辐射腐蚀法。讨论了这两种新方法制备的多孔硅样品的结构和发光特性,同时,与电化学法制备的多孔硅的结构和发光特性进行了比较。最后指出这两种新方法对于多孔硅形成机理和发光机制研究是有所帮助的。 相似文献
23.
聚合物分散液晶光栅的衍射特性的研究 总被引:9,自引:4,他引:5
报道了一种由聚合物分散液晶膜与具有周期性条状电极结构板结合的新型光栅器件,借助于聚合物分散液晶膜的电光特性,这种栅对入射光的散射或衍射取决于对其施加的电压,即它是电场可调的,实验结果显示出当驱动电压超过器件器件阈值电压时,衍射光的强度和衍射斑的可见级次被电场调制,而且它能入射光的线性偏振态变为椭圆偏振态。 相似文献
24.
真空微电子三极管是近年来兴起与发展的真空微电子学中的一类重要器件。本文从真空微三极管的工作特性出发,分析了这类器件中所需考虑的几何参数和工作特性的关系,并给出了一些理论和实验公式,为今后的设计提供一些参考。 相似文献
25.
Li Taihua An Zhu Luo Zhengming Center for Radiation Physics Institute of Nuclear Science Technology Sichuan Union University Chengdu 《原子与分子物理学报》1997,(1)
MEASUREMENTSOFFeANDCuK-ShelIONIZATIONCROSSSECTIONSBYSLOWELECTRONIMPACTLiTaihuaAnZhuLuoZhengmingCenterforRadiationPhysics,Ins... 相似文献
26.
单个波长到多个波长的变换实验 总被引:3,自引:1,他引:2
报道一种波长变换的新方法.采用此方法不需要任何泵浦光便能够直接将信号光变换成在特定谱宽内的任意多个任意波长的变换光,这对于将来的波分复用光网络提供了较大的方便.此波长变换的原理是利用色散位移光纤的非线性效应产生超连续光谱(SC)信号,由于这种SC信号携带有变换光信号,对这种连续谱进行滤波便能够得到所需要的任意频率的变换信号.此变换方式具有变换频带宽,偏振不敏感的优点。 相似文献
27.
本文较详细地描述了多孔硅的电致发光(EL),以及发光的量子限制效应的机制,并且讨论了目前已经制备出的几种多孔硅发光二级管:Ps/电解液型,Schot-tky-Like,PN结等二极管。最后,讨论了多孔硅作为半导体光电材料所存在的一些问题。 相似文献
28.
在原子吸收光谱分析中,固体样品直接进样是目前的研究课题之一。本文主要报道作者在分析汞中所进行的固体直接进样技术工作和讨论。在我们研制成功的KT—81型塞曼效应测汞仪中,针对元素汞蒸气压高的特点,用饱和汞蒸气作为汞量标准,实现了固体样品,如土壤、污泥、毛发、煤、食品等汞含量的直接进样测定。汞蒸气一次制备后可长期使用。分析汞时,只要用标准气体任意校验一次就可测量。1~2分钟能分析一个样品,S<0.3ng。r<5%。此法用NBS标准物质验证过。 相似文献
29.
双邻苯二酚锑二甲基羟乙铵的晶体结构 总被引:3,自引:1,他引:3
含锑配合物是治疗血吸虫病、肿瘤等的常用药物,我们曾对双邻苯二酚锑二乙基羟乙胺进行了晶体结构测定,本文简要报导双邻苯二酚锑二甲基羟乙胺的结构.锑化合物的制法与其二乙基羟乙铵衍生物类似.产物为淡黄色晶体,它在水溶液中长时间放置会变成紫黑色,因此,制得的晶体须立即用丙酮溶解进行重结晶.晶体的密度为1.667g/cm~3.按C_(16)H_(20)O_5NSb的元素分析结果(%)如下:Sb 28.3(28.5),C 43.9(44.9),N 3.3(3.3),H 4.7(4.7).括号内为理论值. 相似文献
30.
模拟透射电镜双倾台进行样品位向调整过程,推导出反映样品倾转前后其合成倾转轴(即共有菊池线对的法线)方向变化规律的计算公式,称为附加旋转角计算公式。指出,实现样品位向调整的双倾操作,等效于样品绕其合成倾转轴的倾转及该倾转轴绕Z轴(平行入射束方向)的旋转之和。利用双倾台对薄膜样品进行的系列倾转实验表明,由附加旋转角公式计算的附加旋转角和实测值相一致。还根据双倾操作过程导出了合成倾转角的计算公式,它可用于判断样品位向调整的准确度。 相似文献