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761.
利用透射电子显微镜(TEM)研究了等通道转角挤压变形(ECAP)后的Al-Cu合金的微观组织的演化。研究发现随着挤压道次的增加,基体晶粒细化,且析出相θ'逐渐发生局部分解。在1道次变形后,位错首先在θ'/Al基体的界面上产生并运动到相邻的θ'/Al基体界面上,基体中位错密度大大增加。在2道次变形后,基体中位错缠结形成沿剪切方向的亚晶界;同时塞积在θ'/Al基体界面上的位错导致θ'相内部产生很高的应力集中,从而使θ'相内部位错开动,θ'相弯曲,部分θ'相发生破碎现象。在3道次和4道次变形后,基体中的亚晶界逐渐转变为等轴晶;大量的θ'相无序排列,位错切割θ'相成小颗粒,且在位错滑移面周围θ'相发生局部分解。 相似文献
762.
结合非接触式人体感应探测、无线传输技术,介绍一种基于GPRS的电力行业变电设备防盗系统组网及设计架构,包括自适应人体感应探测器原理设计、GPRS数据终端设备的通信机理及多点并发数据防冲撞技术方案、供电自动切换电路及系统软件功能的设计与实现等。系统集智能化、高可靠性及布防便捷于一体,可以解决电力设施经常被盗的难题。 相似文献
763.
立方结构AlN(Bl-AlN)具有热稳定性好和硬度高等独特的物理特性。近年来,在实验中已成功地将Bl-AlN外延生长在TiN基体上。界面特性在超晶格中的作用是非常重要的:然而,对界面材料的研究不仅要注重其显微结构和界面原子像,而且要关注其界面的电子结构和性质。 相似文献
764.
在一个类似于稳定不等式的条件下,得到了欧氏空间中完备极小子流形的Bernstein型定理.我们的结果部分推广了Li H.Z.和Wei G.X.的定理. 相似文献
765.
The PAN fiber treated by Lewis acid (e.g. stannic chloride) could be transformed into a macromolecular conducting fiber by further thermal treatment. Depending on thermal treatment condition the resistance of the fiber varied from 10~3 to 10~(12) Ωand kept stable after hydrolysis. The fiber has enough strength to be processed by various means. This is a new kind of macromolecular semiconducting fiber having some characteristics similar to those of organic semiconductors. 相似文献
766.
美国凯尔文学院(Calvin College)的Roger L.DeKock和加州理工学院(California Institute of Technology)的Harry B.Gray合写的“化学结构与化学键”(Chemical Structure and Bonding)一书,从教学角度看,是一本较好的结构化学方面的参考书。该书出版于1980年,它是供美国大学生用的教科书。书中收集了当前分子结构和化学键理论及光电子能谱方面较新的材料,采用理论与实验相结合的方式,系统地、深入 相似文献
767.
左良 《中国无机分析化学》2017,7(1):57-59
采用15mL盐酸和5mL硝酸混合酸溶解样品,选择V 292.464nm谱线做光谱干扰实验,发现Cr对此谱线无光谱干扰,由于样品中含大量Cr离子,故采用标准曲线基体匹配进行测试,以消除Cr基体带来的基体干扰,建立了电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法测定金属铬中钒含量的分析方法。结果表明:基体效应对钒的标准曲线线性并无影响,钒的质量浓度在0.1~20μg/mL,其线性相关系数均不小于0.999 8,方法中钒的检出限为0.001 5μg/mL。按照实验方法测定金属铬中钒,结果的相对标准偏差(RSD,n=10)为0.89%。方法适用,结果令人满意。 相似文献
768.
5-[(3,5-二溴-2-吡啶)偶氮]-2,4-二氨基甲苯对铜和钴是高灵敏度和高选择性试剂,其单晶系P21/n空间群,晶胞参数α=11.477(5)Å、b=15.642(6)Å、c=8.311(4)Å、β=110.54(4)°,每个晶胞中有4个分子。 相似文献
769.
中国化学会第二届多元络合物光度分析法学术讨论会于1984年9月5日至11日在山东省济南市举行。参加会议的代表,有高等院校、科研单位,以及地质、冶金、机械、医药等生产部门的代表,共148人。中青年代表占80%以上,并有20名研究生参加会议。大会共收 相似文献
770.
掠射X射线荧光分析技术是实验室分析薄膜特性的一种重要工具。文章简述了利用掠出射X射线荧光技术分析薄膜厚度的原理和方法,介绍了一种可在实验室里实现薄膜特性测试的掠发射X射线荧光分析装置,该装置采用波长色散方式结合超薄窗流气正比计数管,可实现对轻元素的探测。最后从理论上计算了Si片上不同厚度的几种单层薄膜的X射线荧光强度和掠出射角的依赖关系。证明了掠发射X射线荧光分析是一种精确的分析薄膜厚度等特性的方法。 相似文献