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21.
利用泵浦-探测和时间分辨的红外化学技术研究了H与SO_2的反应.测量了高振动态SO的粒子布居及OH的振动布居.并按照从头计算的结果,构造了模型势能面.在此势能面上,对此体系进行了经典轨迹理论计算.理论结果与实验有比较好的符合. 相似文献
22.
差分卫导实时动态定位(RTK)依靠Kalman滤波功能的实现,当滤波器阶数过高时,会带来计算量的激增,这就会影响定位的耗时.当运算平台能力有限却需要较低的计算时间耗时,动态限星算法能够有效地将RTK的计算耗时降低至合适的耗时需求.运动平台实测结果表明,动态限星算法优化后的RTK定位耗时较优化前减少了50%. 相似文献
23.
24.
介绍了基于焦平面阵列的三维成像激光雷达系统的发展背景和应用,阐述了三维激光成像技术的诸多优点,描述了三维焦平面阵列的技术发展状态,探讨了三维成像在远距离目标识别、精确末端制导等方面的重要热门应用,并给出一些参考性的技术性能评估方法,评价了新型探测系统将具备的新能力和发展潜力,文章最后对三维焦平面阵列激光成像技术做出总结,并对未来发展方向提出了有益建议。 相似文献
25.
设计了针对解决900MHz RFID读写器收发机芯片中本地载波干扰问题而优化的直接变频接收机,并在0.18μm 1P6M混合信号CMOS工艺上实现验证.设计中使用了一种串联反馈结构的基带放大器以达到同时实现无源混频器输出缓冲,直流消除以及信号放大的功能.实际测量显示,该接收机的输入1dB压缩点为-4dBm,当中频信号解调信噪比要求为10dB时,可达到的灵敏度为-70dBm.该接收机与整个收发机集成在同一块芯片中,使用1.8V电源电压,工作时静态电流为90mA. 相似文献
26.
多角度偏振成像仪(MAI)采用背照式面阵CCD探测器,用于定量获取云与气溶胶参数。暗电流是影响面阵CCD探测器数据质量及其定量应用的主要因素之一。为了分析CCD暗电流特征及其通道依赖性,并改进CCD成像质量,在分析MAI 0级数据特征的基础上,提出基于夜间场景对MAI各通道暗电流特征进行分析的方法,并于2018年2月2日—16日开展了MAI夜间场景观测实验。通过对比MAI挡光通道白天和夜间的观测结果可知,白天和夜间观测到的暗电流特征无明显差异。故基于夜间观测数据对MAI 13个通道的暗电流特征开展分析,结果表明:各通道暗电流分布均存在一定程度的非均匀性及"坏点",且单个通道的分布具有较好的稳定性,但各通道之间存在显著差异。基于图像法对"坏点"进行校正,基于线性、非性线关系对像元间的不均匀分布进行校正后,暗电流图像的标准差由12.1%降至6.9%。以晴空洋面观测值为参考,暗电流及"坏点"对像元观测的最大相对误差由9.1%降至3.0%。分析结果表明:相对于设置暗电流监测通道,基于夜间观测的暗电流监测不仅可以监测各通道的暗电流特征,还可以处理暗电流的通道依赖性问题。因此,在后续的星载观测仪器设计中,无需单独设置暗电流监测通道就可以直接利用CCD夜间观测对各通道暗电流进行在轨监测与校正。 相似文献
27.
28.
29.
基底亚表面裂纹对减反射膜激光损伤阈值的影响 总被引:1,自引:2,他引:1
利用化学沥滤技术,分析了亚表面裂纹对基底表面和减反射膜激光损伤阈值(LIDT)的影响。通过去除或保留研磨裂纹,获得了亚表面裂纹数密度有明显区别的两类基底。为了凸出亚表面裂纹层的作用,基底采用化学沥滤去除另外一种可能的影响因素,即再沉积层中的抛光杂质。然后采用电子束蒸发镀制HfO2/SiO2减反射膜。355nm激光损伤阈值测试结果和损伤形貌分析证实了基底亚表面裂纹对减反射膜抗激光损伤能力的负面影响。根据熔石英基底抛光表面的烘烤现象,提出了亚表面缺陷影响膜层激光损伤的耦合模型。 相似文献
30.
基于谐振原理的RF MEMS滤波器的研制 总被引:2,自引:0,他引:2
采用与IC工艺兼容的硅表面MEMS加工技术,以碳化硅材料作为结构材料,研制出一种新型的基于谐振原理工作的RF MEMS滤波器。详细介绍了器件的工作原理、制备方法、测试技术和结果,并对测试结果做出分析。该RF MEMS滤波器由弹性耦合梁连接两个结构尺寸和谐振频率完全相同的MEMS双端固支梁谐振器构成,MEMS谐振器的结构决定了滤波器的中心频率,弹性耦合梁的刚度决定了滤波器的带宽。在大气环境下测试器件的频响特性,得到中心工作频率为41.5MHz,带宽为3.5MHz,品质因数Q为11.8。 相似文献