用直接法测定黄河矿晶体的超结构

本文分析了黄河矿晶体超结构中赝对称性的特点,详述了用于测定黄河矿晶体超结构的直接法。 关键词：     

利用单纯形加速法选择斑岩矿石浮选的最佳工艺条件

一、问题的提出 河北省小寺沟铜矿矿床属于细脉浸染型钼矿床.铝矿石主要有斑岩钼矿、灰岩钼矿和矽卡岩钼矿等.由于采矿条件的限制,供给浮选厂的矿石性质变化大,而试验厂因寻优不得法,不能及时地科学地对浮选厂提供浮选各种矿石的最佳工艺参数,致使该矿钼的收回率一直处于不稳定状态,影响了国家生产计划的完成.为改变这种状况,该矿要求我们寻找一种快速、科学的寻优方法,以便提供浮选各种矿石的最佳工艺参数. 本文应用单纯形加速法为浮选厂提供一种快速、科学的确定浮选条件的新方法. 二、试验计划的设计、浮选最佳化条件的确定 选矿数学模型…     

大单元和局部有限元方法

有限元方法是六十年代发展起来的求解椭圆型微分方程过值问题的一种很有效的数值方法。在各种实际问题中得到了广泛的应用。在实际计算过程中常常会遇到计算精度,计算时间、内存需要量等方面的矛盾。因而从单元剖分、位移模式的选取到总体刚度矩阵的形成和存储(当然和线性方程组的解法是联系在一起的),出现了各种各样的具体方法和技巧。值得注意的是近些年来,由于断裂力学发展的要求对带有裂缝的弹性体进     

一种OFDM系统的频差补偿同步方法

一般的系统同步要求以定时同步为先，然后进行频偏的估计，但大频差偏移往往影响到了系统的符号粗同步定时。针对大频差下信号难以捕获的问题，文中提出预设频差补偿的同步技术。理论分析和仿真结果表明，所采用的同步方法，可以比较准确地完成系统的符号定时同步。     

统计学在理化检验中的应用第七讲一组和多组测定值的统计处理

1　一组实验观测值的处理假设一个分析工作者用某一分析方法对物质的某一特性做出一组测量 ,测得数据为 x1,x2 ,… ,xn。对这一组数据应该给出哪些基本信息呢 ?应该如何处理这组数据呢 ?1 .1　可疑数据取舍准则的选择在一组测定值中 ,若发现某一测定值明显地比其余的测定值大得多或小得多 ,对于这样的测定值必须首先设法寻找其出现的原因 ,不能轻易地舍去 ,如果不能从实验的过程中判别出其出现的原因 ,则可按统计方法来判别。剔除可疑值的统计方法有多种 ,这里介绍常用的两种。1 .1 .1　格拉布斯 (Grubbs)准则如果对某测量值 xp,有残差 UP…     

从Riemann积分到Lebesgue积分——用完备化思想建立Lebesgue积分(连载)

用距离空间完备化思想,通过极限过程,借助于连续函数的Reimann 积分建立Lebes-gue 积分理论,包括积分收敛定理和空间L~P(a,b)的理论.编者不直接利用完备化定理的结论,也不要求读者事先了解完备化定理.因此读者在阅读本文时不会感到抽象.仅在最后以距离空间完备化的观点对全部工作作了简短的评注,了解完备化思想的读者会对本文有更深的理解.同时编者又认为,作为实变函数的一种可供选取的教材,这仍不是一种最好的方案,也不会完全取代目前通用的教材.但是编者愿意借这个机会,就实变泛函教材的改革(特别以工科大学生、研究生为对象的教材)与大家一起开展讨论.Lebesgue 积分是近代数学的重要基础,是联结初等微积分与近代分析的桥梁。本文从连续函数及Riemann 积分出发,通过将极限过程直接定义Lebesgue 积分,力图以较小的篇幅向读者介绍Lebesgue 积分理论。文中所贯穿的空间完备化的思想将指导读者进一步学习近代分析数学的理论.阅读本文仅要求读者了解集合论的基础知识。     

砷化镓薄膜的电共沉积工艺

一、引言 众所周知砷化镓(GaAs)是一种重要的半导体材料,可用它制造太阳电池、光学滤波器、发光二极管、激光器和其它的光电器件。然而现有制备GaAs的工艺都是十分复杂、耗能大、生产周期长因而成本高,这样以来,就成为限制GaAs作为太阳电池等器件材料的主要因素。多年来,寻找低成本制备GaAs的工艺便成为半导体工作者的重要研究方向。这里介绍的称之为电共沉积工艺,就是一种低成本制备GaAs薄膜工艺。Chandra等人曾用此工艺成功地制备了CdSe、MoSe、WSe和CuIn-Se_2等薄膜,而对制备GaAs薄膜的研究报导却很少。     

统计学在理论检验中的应用：第六讲 正态分布及其检验（续）

2　用夏皮罗 -威尔克 (Shapiro-Wilk)法检验数据正态性将数据按由小到大的顺序排列。夏皮罗 -威尔克法检验的统计量是 :W ={∑a K[Xn 1 - K - XK] }2 / ∑nK=1( XK - X) 2　　式中的 K值 ,对于测量次数 n是偶数时则为 1～ n/ 2 ;对于测量次数是奇数时则为 1～ ( n- 1 ) / 2。式中系数 a K 是与 n及 K有关的特定值 ,见表 4。该统计量的判据是 ,当 W>W( n,P)时 ,则接受测定数据为正态分布。W( n,P)是与测量次数 n及置信概率 P有关的数值 ,其值见表 5。对表 3中所列数据 ,按夏皮罗 -威尔克法进行检验 ,见表 6。为了便于计算 ,把值 XK…