一类具年龄结构n维食物链模型的最优收获控制

研究一类具有年龄结构n维食物链模型的最优收获控制.利用不动点定理,证明了系统非负解的存在性和唯一性.由Mazur定理,证明了最优控制策略的存在性,同时由法锥概念的特征刻画,还得到了控制问题最优解存在的必要条件.     

一个具有时滞和功能反应的非自治阶段结构的捕食模型

研究一个具有时滞和功能反应的非自治阶段结构的捕食模型,其中食饵种群分两个阶段——幼年和成年,且捕食种群只捕成年食饵.通过利用微分不等式、比较定理和构造适当的Lyapunov泛函,得到该模型的永久持续生存和绝灭的充分条件,同时也得到了周期系统存在唯一全局渐近稳定的周期解的充分条件.     

Optimal harvesting for an age-dependent <Emphasis Type="Italic">n</Emphasis>-dimensional food chain model

This paper is concerned with optimal harvesting policy for an age-dependent n-dimensional food chain model. The existence and uniqueness of non-negative solution of the system are proved using the fixed point theorem. By Mazur＇s theorem, the existence of optimal control strategy is demonstrated and optimality conditions derived by means of normal cone.     

基于Hirota方法探求非零边界条件下MNLS/DNLS方程的孤子解

Hirota双线性导数变换处理非线性偏微分方程，是一种比反散射变换更为方便的直接方法。本文展示了Hirota双线性导数变换法应用于求解非线性可积方程的一般手续，以非零驻波边界条件下修正的非线性薛定谔(MNLS)方程为例，探求其孤子解；再通过简单的参数归零法直接得到导数非线性薛定谔(DNLS)方程在非零常数边界条件下的相应孤子解，亮/暗孤子解随时间和空间变量的演化也通过图像加以演示，所得孤子解与反散射方法得到的结果一致相符。     

35~#钢激光宽带淬火研究

利用扫描激光束对 35 # 钢材料进行了宽带激光淬火 ,在 3.0～ 3.3k W激光功率下 ,获得单道淬硬带宽15 mm,淬硬层深 0 .5 3mm。给出了不同激光功率条件下淬火区硬度沿淬硬层深的变化曲线 ,淬硬层硬度分布基本均匀 ,平均硬度约为 5 5 4～ 675 Hv,与基体硬度比较提高了 2 .3～ 2 .5倍。显微组织结构分析显示淬硬层沿层深方向可分为完全淬硬层、过渡层和高温回火区三个区域。     

含纳米粒子溶液对单晶硅表面的冲蚀磨损损伤实验研究

利用高分辨透射电子显微镜和原子力显微镜观察了含纳米颗粒溶液冲蚀硅片表面损伤行为,考察了纳米颗粒碰撞单晶硅片所导致的微观物理损伤.结果表明:冲蚀30 s后,在高分辨透射电子显微镜下可见硅片表面呈现方向性损伤,并可观察到大量非均匀的晶格缺陷;当冲蚀10 min时,硅片表面出现微观划痕和凹坑,在划痕一端可见原子堆积,亚表面可观察到镶嵌晶粒的非晶损伤层;继续延长冲蚀时间将加剧其表面损伤.     

流道缩扩比对1+1/2对转涡轮高压动叶性能影响的研究

本文以1+1/2对转涡轮为背景,采用理论分析与数值模拟相结合的方法对某1+1/2对转涡轮高压动叶进行了优化设计.研究结果表明,流道缩扩比对高出口马赫数涡轮叶栅性能有重要影响,合理的流道缩扩比能减弱甚至消除尾缘内伸波,从而提升叶栅的性能.文中综合考虑了叶栅流道周向以及径向两个方向的扩张因素后选择了叶栅流道缩扩比,进行1+...     

高分辨差分比热测量方法及在高温超导体研究中的应用

差分比热实验方法是测量两个样品的比热差,具有高达万分之一的比热测量分辨率,适合测量相变时微小的比热变化及宽温区的电子比热.文章介绍了高分辨连续升温差分比热实验的测量原理和测量方法,并以铜氧化物高温超导体Y0.8Ca0.2Ba2Cu3O6+x为例,介绍了差分比热实验手段在宽温区电子比热的获得、正常态赝能隙及超导凝聚能研究等方面的应用.     

一类具年龄结构种群动力系统的最优控制

研究一类具年龄结构种群线性动力系统的最优控制问题 .由Mazur’s定理 ,我们证明了最优控制问题 (OH)最优解的存在性 ,同时借助于法锥概念 ,我们还得到了最优控制问题 (OH)最优解存在的必要条件     

磁场对重电子金属CeCu6-xNix低温电阻的影响

测量了重电子金属CeCu6-xNix（x=0,0.5,0.1)，在1.8k-300k温度范围的电阻及磁场对电阻的影响（H=0,5T,10T),实验表明样品电阻的极大值对应的温度Tmax随着掺Ni含量的增大向温度降低的方向移动,而加磁场后Tmax随磁场的增加向高温方向移动,中从Kondo相互作用和相干散射的角度对这一现象的物理机制进行了分析.