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阐述了HiSLIP协议的特征,对LXI标准1.4版本中的HiSLIP协议在仪器远程控制通信模式方面做了分析解读,探讨了HiSLIP协议在数字电视测试仪器远程控制方面的应用及其带来的优势。 相似文献
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提出了一种基于样品连续旋转的高阶导模干涉刻写多层亚波长圆光栅的方法。利用有限元法模拟导模干涉场,以及坐标旋转矩阵和数值模拟方法研究对样品实施连续旋转曝光后的总光场。选取442 nm波长激光作为激发光,以TE5和TM51为例,研究了高阶导模干涉刻写制备多层亚波长圆光栅的光场分布。通过光场分布分析了多层亚波长圆光栅在X-Y平面的周期以及Z轴的周期和层数,这些参数可通过改变光刻胶厚度和干涉曝光的导波模式来调节。同一厚度光刻胶条件下存在着多种高阶导模,且同阶导模对应的激发角可以通过改变光刻胶的厚度进行有效调控。因此,通过选择不同厚度的光刻胶,选取曝光所用的高阶导模,可以刻写各种不同参数的多层亚波长圆光栅。该方法是制备多层亚波长圆光栅的一种简单而有效的方法,在微纳光学领域具有一定的应用前景。 相似文献
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用于扫描电镜图像放大倍率校准的三个微米级栅网图形标准样板的研究 总被引:1,自引:1,他引:0
本文是一篇有关用于扫描电镜图像放大倍率校准的三个微米级栅网图形标准样板的研究报告。这三个标准样板(G125、G250、G4)为铜质栅网网格,包含6个设计标称值分别为12.50μm(G125)、25.00μm(G250)、62.50μm、82.50μm、125.00μm、165.00μm(G4)的网格。样板已经过均匀性、稳定性检查并时栅网网格线距进行了检定。这三个标准栅网样板可有几个作用:(1)同时时两个垂直方向上的扫描电镜图像放大倍率进行检查或校准,是一组调整低倍图像放大倍率的图形标准样板;(2)对图像X、Y方向的畸变和边缘的畸变进行校验,是评价扫描电镜图像质量的一个重要工具;(3)用于同一量级物体长度的精确比对测量。 相似文献
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扫描电镜用于微米、纳米尺度的测量及其标准化探讨 总被引:1,自引:1,他引:0
纳米长度的计量和检测是纳米技术研究中的一个关键性的基础测试问题。目前,纳米计量和检测技术主要向两个方向发展,一是发展建立在新概念基础上的一些测量技术,如以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜技术;二是采用传统的测量方法,通过提高其功能而达到纳米计量和测量的要求,这包括扫描电子显微镜、透射电子显微镜、软X射线显微镜、轮廓仪、激光共聚焦显微镜、激光干涉仪、电容测微仪等。本文将对扫描电镜用于微米、纳米尺度的测量及其标准化进行探讨。 相似文献
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