SPRR-300研究堆随堆辐照石墨的中子辐照效应北大核心CSCD

随SPRR-300研究堆约30 a的长时间运行,位于活性区附近的石墨箱体经历了长期的中子辐照。在长期服役的石墨箱体上取样,研究了其热学、力学以及微观结构变化,并与商用IG110,NG-CT-10石墨进行了对比。研究结果表明,经长时间低剂量率的中子辐照后,SPRR-300堆内随堆辐照石墨的晶格中出现了明显的辐照损伤缺陷,这些缺陷主要为位错环、层错、孔洞和微裂纹等,并出现了一定程度的非晶化。这些辐照损伤缺陷直接或间接地引起了石墨热学、力学性能的变化,主要表现为热膨胀系数、热扩散系数、抗压强度和抗弯强度的下降以及弯曲弹性模量的上升。     

面向智能电网双向互动信息服务的通信组网方案设计

以建设智能电网对于智能用电的需求为出发点,研究了智能用电的关键技术以及智能用电新型服务,针对不同的用户设计了面向智能电网的双向互动信息服务系统以及通信组网方案。采用先进的双向互动通信技术、智能交互终端技术以及智能表计技术,为电网和用户之间的互动提供可靠的信息通道和网络支撑,并对应用层信息互动平台提出建设方案,构建了电网...     

运营商选择"内容垄断"还是"手机定制"?

现阶段对于运营商来说,“垄断内容”虽然耗费巨资但并不是一个留住用户的好办法,而“定制手机”则优势颇多,值得具备实力和经验的运营商参与。     

中国散裂中子源准直控制网数据处理方法

以中国散裂中子源CSNS的直线加速器控制网为例,对其数据处理方法进行研究,采用平面与高程二维平差以及三维定向平差两种方式对准直控制网进行处理分析。同时,为了使准直数据处理更加简易便利,提出利用激光跟踪仪的测量软件SA实现三维定向平差的方法。通过不同软件及不同数据处理方法的对比,验证准直控制网数据处理的正确性,最终200 m长直线控制网点位精度优于0.2 mm,这为准直控制网的数据处理提供了指导。     

中国移动垄断增值业务不可取

一款名为“飞信”的即时通信软件虽然还没有正式发布,但近来却吸引了业界的极大关注。这款软件比起已经成熟的QQ、MSN乃至移动领域的PICA,还有些名不见经传,为何会招惹大家的瞩目呢?原因只有一个,那就是飞信是中国移动自己开发并即将推广的即时通信品牌。中国移动在“数通[2006     

诺基亚盛世重组为哪般?

新闻回放:2003年9月,诺基亚宣布调整其组织结构,加强其对于技术融合、新型移动市场和业务增长的力度。新的组织结构包括移动电话部、多媒体部、网络部和企业解决方案部四个业务部门,公司级的销售、市场、物流、制造与技术部门,以及企业战略、开发与研究等部门将与四大业务部门紧密合作,进一步提高企业竞争力和效率。重组自2004年1月1日生效。翻开诺基亚2003财年第三季度的财务报告,可以发现在整个通信行业仍处于低迷的时期,诺基亚的年终答卷令人惊诧,其全球手机市场份额高达39%,营业利润率高达22%,12亿欧元的现金流也超乎想象。即使新兴的C…     

台商投资大陆区位选择影响因素的实证分析

台商对大陆投资区位选择受地区市场因素、集聚因素、劳动力因素及基础设施基本政策等因素的影响.研究利用1995年至2007年台商投资区位选择的面板数据,首先验证了台商投资区位选择受到经济规模、区域开放程度、台商集聚度、劳动成本等关键因素的影响;并在此基础上,采用变系数面板数据模型重点分析了影响因素的时变特征.主要结论包括:外贸依存度指标的变化表现了台商投资由向外出口产品的模式逐渐转向在国内市场销售的模式;区域资金配套能力表明台商企业近些年呈现了对当地资金配套的需求;集聚因素影响显著性极高,说明台资企业的集聚现象非常显著,这与当前实际发展情况相似;劳动力因素结果说明台商对于劳动力的关注已从劳动力成本向劳动力质量转变等等.这些因素的时变特征,对台商投资大陆区位选择的行为是具有较强的解释力度.     

从收紧3G流量说开去

最近媒体关注国内运营商收紧3G流量比较多,争论也不绝于耳。一方面是越来越多的人正在愈加离不开移动宽带,一方面却是网络资源的紧张和不足,这个矛盾无疑将长期存在并日渐激化。     

宽带信道增益平坦度仿真设计

宽带信道的增益平坦度指标好坏是信道宽带性能保证的基础,同时由于影响因素众多,也是设计难点所在.以公式计算与电路仿真、三维电磁场仿真相结合的方式,详细分析了微波电路设计中各种因素对信道增益平坦度的影响,再针对各种影响因素给出了电路解决改善方法,论述了实际电路设计中宽带增益平坦度保证的关键技术和注意事项.     

运算放大器在高ESD应力作用下的失效模式和失效位置研究

本研究以常用的运算放大器之一LM741为例进行了高ESD应力条件下的运算放大器的失效研究,研究通过物理观察和电学测试的手段考察了LM741失效位置及失效模式与ESD击打模式之间的关系。研究表明,不同的应力击打模式均造成几种相同的失效位置和模式,而且对失效部位的物理观察发现：所造成芯片上的失效并非在芯片上的电路的单元内部,而在于电路的各个单元之间的绝缘层或者是连接电路单元的金属连线,这一发现为下一步ESD的失效建模和仿真提供了重要的试验依据。